XRF用于便攜式和手持材料分析超過40年，使用X射線而不是激光能量來激發樣品表面的分子。 初級X 射線由光源產生并指向樣品表面。 當光束撞擊樣品中的原子時，它們會發生化學反應，且由探測器收集和處理的次級x射線。使用XRF技術，樣品保持完整，而不是將原子，離子和電子從材料中分離出來。 這意味著XRF是一種非破壞性的材料分析形式，這使其成為測試產品，零件和組件的較好方式，而不會損壞樣品，這在航空航天和汽車等行業中至關重要。 熒光光譜儀非常適合精確化學成分，包括識別痕量和雜質元素。日立分析儀器的手持式激光光譜儀可在一秒內鑒定含鋰鋁合金。蘇州X-MET8000手持光譜儀作用

IWTSolutionsAG團隊參觀過日立位于德國的應用中心，并進行深入考察。由此其敲定使用PMI-MASTERSmart進行進一步測試，以確定移動式火花直讀光譜儀是否也可以識別必需的元素。IWTSOLUTIONSAG對此類測試結果感到滿意，這說明將便攜式金屬分析儀帶至現場的時機已經成熟。日立**已與IWTSOLUTIONSAG合作研究如何調整現場實驗室的工作。IWTSOLUTIONSAG的首席執行官PeterLangenberg評論稱：“我們希望更快、更多地了解這座橋梁的情況，因為過去的取樣方式限制了樣品數量。我們希望直讀光譜儀能夠在相對較短的時間內完成100或200次測量。X-MET8000手持熒光光譜儀功能三點式橡膠支架，用于將光譜儀放在桌子上或不平整的表面上時可以固定住。

為了使用直讀光譜儀獲得準確可靠的結果，光譜儀的火花臺必須與被測金屬表面形成完整的密封。如果讓空氣進入產生火花的空間，則會得到錯誤的結果。當制造商試圖測量表面積小的復雜形狀時，很明顯這種情況下幾乎不可能在樣品和火花臺之間獲得良好的接觸。可為火花臺配備一個適配器，以減少火花臺孔的直徑，使其更容易與小的、不規則的或復雜的形狀零件獲得良好的接觸。日立的直讀光譜儀系列提供適配器，可測量直徑小于3mm的線材。此外日立的固定式直讀光譜儀有一個三邊開放的火花臺，可實現對不規則形狀樣品的位置固定。

X-MET8000是日立高科技公司生產的一款手持式光譜儀，采用的是XRF技術，與Vulcan手持激光光譜儀有相同的形狀，同樣堅固和多功能性。X-MET光譜儀為各種合金提供精確的化學成分和牌號ID，包括鋼，鎳合金，銅合金，鋁合金等。通過可選的保護性Hero窗口膜，可用于測量高達400°C的樣品。這使得可以在加工熱金屬、高溫設備以及玻璃等物質的生產線上進行現場測試，質量保證和控制非常方便。然而當在元素周期表上分析鎂以下的元素時，需要OES技術，而流行的選擇是PMI-MasterSmart直讀光譜儀，日立的便攜式OES解決方案。由于碳和氮等元素的檢測水平非常低，可用于提高鋼的硬度和其他物理因素，因此非常適用于金屬行業的高精度PMI。它也是認證金屬部件的優先儀器，例如化工廠，石化和發電廠的壓縮和儲罐，管道和管材。在材料必須耐高溫和高壓以及腐蝕性物質的情況下，100％PMI是必不可少的，而這就是PMI-masterSmart直讀光譜儀的設計宗旨。手持熒光光譜儀提供便攜式分析，使其成為在任何位置測試大型或重型部件的理想選擇。

及時的樣品分析對于采礦作業來說至關重要，可以提高采礦的發現成功率、生產率和利潤。X-MET8000 Expert Geo 是一種手持式X射線熒光（XRF) 光譜儀，用于采礦過程各個階段的地質化學分析。該儀器使用方便，有助于大幅降低實驗室分析的需求及其相關成本。使用X-MET， 您可以現場作出決策，而無需等待數小時甚至數天以獲得實驗室分析結果。相比于其他手持式 XRF 光譜儀，我們的大面積硅漂移探測器 (SDD) 和**性的 BOOSTTM 技術可提供精確測量關鍵元素（例如雜質元素）所需的低檢測限。手持熒光光譜儀是一種易于使用且快速，堅固耐用的工具，適用于現場使用。日立光譜儀設備

手持激光光譜儀重量輕（帶電池1.5kg），體積小，符合人體工程學設計。蘇州X-MET8000手持光譜儀作用

公司技術團隊由一群儀器儀表領域內具有豐富的經驗的工程師組成。業務范圍覆蓋至手持熒光光譜儀，手持激光光譜儀，直讀光譜儀，臺式XRF光譜儀等。手持熒光光譜儀，手持激光光譜儀，直讀光譜儀，臺式XRF光譜儀可分為通用型和專業型，通用型儀表主要包括工業自動控制系統裝置制造、電工儀器儀表、繪圖、計算及測量儀器、實驗分析儀器、試驗機制造、供應用儀器儀表、其他通用儀器；我國儀器儀表行業發展速度較快，但高階產品供給能力依然欠缺，隨時面臨被斷供的風險。系列政策出臺，助力本土企業突圍。經濟的快速發展推動了我國儀器儀表市場的持續增長，很多第三方檢測機構都面臨著實驗室擴增、新建實驗室和老舊儀器淘汰問題。通過靈活應對現金流的問題，做到平衡資金和發展以取得更高的企業競爭優勢。蘇州X-MET8000手持光譜儀作用

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