薄膜型半導體應變片

這種應變片是利用真空沉積技術將半導體材料沉積在帶有絕緣層的試件上或藍寶石上制成的。它通過改變真空沉積時襯底的溫度來控制沉積層電阻率的高低，從而控制電阻溫度系數和靈敏度系數。因而能制造出適于不同試件材料的溫度自補償薄膜應變片。薄膜型半導體應變片吸收了金屬應變片和半導體應變片的優點，并避免了它的缺點，是一種較理想的應變片。

外延型半導體應變片

這種應變片是在多晶硅或藍寶石的襯底上外延一層單晶硅而制成的。它的優點是取消了P-N結隔離，使工作溫度大為提高(可達300℃以上)。 皮 米 精 度 位 移 傳 感 器。珠海激光干涉儀儀器

引力波測量干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson,1994)。激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962。1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統（Weiss 1972）。截止jin ri，激光干涉儀引力波探測器已經發展了40余年。目前LIGO激光干涉儀實驗宣稱shou ci直接測量到了引力波 (LIGO collaboration 2016)。LIGO可以認為是兩路光線的干涉儀，而另外一類引力波探測實驗， 脈沖星測時陣列則可認為是多路光線干涉儀（Hellings和Downs,1983）。深圳激光干涉儀表面粗糙度在2000轉/分時，電動機產生270Hz的振動，反過來 以345Hz放大系統諧振。

在光電效應中，要釋放光電子顯然需要有足夠的能量。根據經典電磁理論，光是電磁波，電磁波的能量決定于它的強度，即只與電磁波的振幅有關，而與電磁波的頻率無關。而實驗規律中的較早、第二兩點顯然用經典理論無法解釋。第三條也不能解釋，因為根據經典理論，對很弱的光要想使電子獲得足夠的能量逸出，必須有一個能量積累的過程而不可能瞬時產生光電子。光電效應里，電子的射出方向不是完全定向的，只是大部分都垂直于金屬表面射出，與光照方向無關，光是電磁波，但是光是高頻震蕩的正交電磁場，振幅很小，不會對電子射出方向產生影響。所有這些實際上已經曝露出了經典理論的缺陷，要想解釋光電效應必須突破經典理論

不同變比電流互感器。這種型號的電流互感器具有同一個鐵心和一次繞組，而二次繞組則分為兩個匝數不同、各自獨自的繞組，以滿足同一負荷電流情況下不同變比、不同準確度等級的需要，例如在同一負荷情況下，為了保證電能計量準確，要求變比較小一些（以滿足負荷電流在一次額定值的2/3左右），準確度等級高一些（如1K1.1K2為200/5.0.2級）；而用電設備的繼電保護，考慮到故障電流的保護系數較大，則要求變比較大一些，準確度等級可以稍低一點（如2K1.2K2為300/5.1級）。緊湊，適用于設備集成。

檢驗周期規定

A.控制盤和配電盤儀表的定期檢驗應與該儀表所連接的主要設備的大修日期一致，不應延誤。但主要設備主要線路的儀表應每年檢驗一次，其它盤的儀表每四年至少檢驗一次；

B.對運行中設備的控制盤儀表的指示發生疑問時，可用標準儀表在其工作點上用比較法進行核對；

C.可攜式儀表(包括臺表)的檢驗，每年至少一次，常用的儀表每半年至少一次。經兩次以上檢驗，證明質量好的儀表，可以延長檢驗期一倍。D.萬用電表、鉗形表每四年至少檢驗一次。兆歐表和接地電阻測定器每二年至少檢驗一次，但用于高壓電路使用的鉗形表和作吸收比用的兆歐表每年至少檢驗一次。 低電子噪聲和良好的光學穩定性。深圳高精度激光干涉儀

更多的測量軸有助于更多的旋轉參數：偏心率，表面質量， 傾斜誤差和徑向運動。珠海激光干涉儀儀器

激光干涉儀系統可同步測量大型龍門移動式數控機床:雙軸定位精度的檢測及其自動補償雷尼紹雙激光干涉儀系統可同步測量大型龍門移動式數控機床，由雙伺服驅動某一軸向運動的定位精度，而且還能通過RS232接口，自動對兩軸線性誤差分別進行補償。數控機床動態性能檢測利用RENISHAW動態特性測量與評估軟件，可用激光干涉儀進行機床振動測試與分析（FFT），滾珠絲杠的動態特性分析，伺服驅動系統的響應特性分析，導軌的動態特性（低速爬行）分析等。珠海激光干涉儀儀器