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深圳全自動SPI檢測設備生產廠家

來源: 發布時間:2022-08-30

AOI雖然具有比人工檢測更高的效率,但畢竟是通過圖像采集和分析處理來得出結果,而圖像分析處理的相關軟件技術目前還沒達到人腦的級別,因此,在實際使用中的一些特殊情況,AOI的誤判、漏判在所難免。

目前AOI使用中存在的問題有:

(1)多錫、少錫、偏移、歪斜的工藝要求標準界定不同,容易導致誤判。

(2)電容容值不同而規格大小和顏色相同,容易引起漏判。

(3)字符處理方式不同,引起的極性判斷準確性差異較大。

(4)大部分AOI對虛焊的理解發生歧義,造成漏判推諉

(5)存在屏蔽圈、屏蔽罩遮蔽點的檢測問題。

(6)BGA、FC等倒裝元件的焊接質量難以檢測。

(7)多數AOI編程復雜、繁瑣且調整時間長,不適合科研單位、小型OEM廠、多規格小批量產品的生產單位。

(8)多數AOI產品檢測速度較慢,有少數采用掃描方法的AOI速度較快,但誤判、漏判率更高。 8種常見SMT產線檢測技術,歡迎查看詳情。深圳全自動SPI檢測設備生產廠家

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AOI在SMT各工序的應用

在SMT中,AOI主要應用于焊膏印刷檢測、元件檢驗、焊后組件檢測。在進行不同環節的檢測時,其側重也有所不同。

1.印刷缺陷有很多種,大體上可以分為焊盤上焊膏不足、焊膏過多;大焊盤中間部分焊膏刮擦、小焊盤邊緣部分焊膏拉尖;印刷偏移、橋連及沾污等。形成這些缺陷的原因包括焊膏流變性不良、模板厚度和孔壁加工不當、印刷機參數設定不合理、精度不高、刮刀材質和硬度選擇不當、PCB加工不良等。通過AOI可以有效監控焊膏印刷質量,并對缺陷數量和種類進行分析,從而改善印刷制程。

2.元件貼裝環節對設備精度要求很高,常出現的缺陷有漏貼、貼錯、偏移歪斜、極性相反等。AOI檢測可以檢查出上述缺陷,同時還可以在此檢查連接密間距和BGA元件的焊盤上的焊膏

3.在回流焊后端檢測中,AOI可以檢查元件的缺失、偏移和歪斜情況,以及所有極性方面的缺陷,還能對焊點的正確性以及焊膏不足、焊接短路和翹腳等缺陷進行檢測。 中山SPI檢測設備保養使用在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機)的重要意義。

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8種常見SMT產線檢測技術

1.SPI錫膏檢測儀:SPI錫膏檢測儀利用光學的原理,通過三角測量的方法把印刷在PCB板上的錫膏高度計算出來,它的作用是能檢測和分析錫膏印刷的質量,提前發現SMT工藝缺陷,讓使用者實時監控生產中的問題,減少由于錫膏印刷不良造成的缺陷,給操作人員強有力的品管支持,增強制程性能。

2.人工目檢:人工目檢即利用人的眼睛借助帶照明或不帶照明放大鏡,用肉眼觀察檢驗印制電路板及焊點外觀、缺件、錯件、極性反、偏移、立碑等方面質量問題。

3.數碼顯微鏡:數碼顯微鏡是將顯微鏡看到的實物圖像通過數模轉換,它將實物的圖像放大后顯示在計算機的屏幕上,可以將圖片保存,放大,打印.配測量軟件可以測量各種數據。適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢測、印刷電路組件中出現的焊接缺陷的檢測等。

4.SMT首件檢測儀:通過智能集成CAD坐標、BOM清單和首件PCB掃描圖,系統自動錄入測量數據,實現SMT生產線產品首件檢查化繁為簡,LCR讀取數據自動對應相應位置并進行自動判斷檢測結果。杜絕誤測和漏測,并自動生成測試報表存于數據庫測試報表存于數據庫。

2.1可編程結構光柵(PSLM)技術

      PMP技術中主要的一個基礎條件就是要求光柵的正弦化。傳統的結構光柵是通過在玻璃板上蝕刻的雙線陣產生摩爾效應,形成黑白間隔的結構光柵。不同的疊加角度形成不同間距的結構光柵。此結構的特點是通過物理架構的方式實現正弦化的光柵。其對于玻璃板上蝕刻的精度與幾何度的要求都比較高,不容易做出大面積的光柵。         

      可編程結構光柵是在微納米技術和物理光學研究基礎上設計出來的一種新的光柵技術,其特點是光柵的主要結構如強度,波長等都可以通過軟件編程控制和改變,真正的實現了數字化的控制。因為其正弦光柵是通過軟件編程實現的,所以理論上可以得到比較完美的正弦波光柵,并通過DLP(Digital Light Processing)技術,得到無損的數字化光柵圖像。重要部分是數字顯微鏡器件,并且由于是以鏡片為基礎,提高了光通過率,所以它對于光信號的處理能力以及結構光的強度有著明顯的提高,為高速,清晰,精確的工業測試需求提供了基礎。 SPI為什么會逐漸取代人工目檢?

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兩種技術類別的3D-SPI(3D錫膏檢測機)性能比較:

      目前,主流的3D-SPI(3D錫膏檢測機)設備主要使用兩類技術:基于結構光相位調制輪廓測量技術(PMP) 與基于激光測量技術(Laser)。

      相位調制輪廓測量技術(簡稱PMP),是一種基于結構光柵正弦運動投影,離散相移獲取多幅被照射物光場圖像,再根據多步相移法計算出相位分布,利用三角測量等方法得到高精度的物體外形輪廓和體積測量結果。

      PMP-3D-SPI可使用400萬像素或者的高速工業相機,實現大FOV范圍內的錫膏三維測量以及錫膏高度方向上0.36um的解析度,在保證高速測量的同時,大幅度的提高測量精度。此外,PMP-3D-SPI可在視覺部分安裝多個投影頭,有效克服了錫膏3D測量的陰影效應。激光測量技術,采用傳統的激光光源投影出線狀光源,使相PSD或工業相機獲取圖像。激光3D-SPI使用飛行拍攝模式,在激光投影勻速移動的過程中一次性獲取錫膏的3D與2D信息。激光3D-SPI具有很快的檢測速度,但是不能在保證高精度的同時實現高速;激光光源響應好,不易受外界光照影響,此外,因為激光技術為傳統的模擬技術,激光3D-SPI的高分辨率為1um或2um。

      在目前的SMT設備市場中,使用激光測量類的廠商較多,更為先進的PMP-3D測量只有少數高級SPI在使用 smt貼片加工AOI檢測的優點。揭陽國內SPI檢測設備按需定制

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莫爾條紋技術特點:

1874年,科學家瑞利將莫爾條紋圖案作為一種測試手段,根據條紋形態和評價光柵尺各線紋間的間距的均勻性,從而開創了莫爾測試技術。隨著光刻技術和光電子技術水平的提高,莫爾技術獲得極快的發展,在位移測試,數字控制,伺服跟蹤,運動控制等方面有了較廣的應用。目前該技術應用在SMT的錫膏精確測量中,有著很好的優勢。莫爾條紋(即光柵)有兩個非常重要的特性:

1).判向性:當指示光柵對于固定不動主光柵左右移動時,莫爾條紋將沿著近于柵向的方向上移動,可以準確判定光柵移動的方向。

2).位移放大作用:當指示光柵沿著與光柵刻度垂直方向移動一個光柵距D時,莫爾條紋移動一個條紋間距B,當兩個等間距光柵之間的夾角θ較小時,指示光柵移動一個光距D,莫爾條紋就移動KD的距離。這樣就可以把肉眼無法的柵距位移變成了清晰可見的條紋位移,實驗了高靈敏的位移測量。這兩點技術應用在SPI中,就體現了莫爾條紋技術測量的穩定性和精細性。 深圳全自動SPI檢測設備生產廠家

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