PCIe4.0的測試項目PCIe相關設備的測試項目主要參考PCI-SIG發布的ComplianceTestGuide(一致性測試指南)。在PCIe3.0的測試指南中，規定需要進行的測試項目及其目的如下(參考資料：PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測試):用于檢查主板以及插卡發射機和接收機的電氣性能。·ConfigurationTesting(配置測試):用于檢查PCIe設備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協議測試):用于檢查設備的鏈路層協議行為。PCI-E測試信號質量測試；重慶PCI-E測試檢查

綜上所述，PCIe4.0的信號測試需要25GHz帶寬的示波器，根據被測件的不同可能會 同時用到2個或4個測試通道。對于芯片的測試需要用戶自己設計測試板；對于主板或者  插卡的測試來說，測試夾具的Trace選擇、測試碼型的切換都比前代總線變得更加復雜了；

在數據分析時除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外，還要把均衡器對信號的改善也考慮進 去。PCIe協會提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動測試軟件都可以為PCle4. 0的測試提供很好的幫助。 機械PCI-E測試故障PCIE 系統架構及物理層一致性測試；

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設置狀態。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關時，正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數據鏈路層(Data Link Layer)根據高速串行通信的  特點進行了重新設計，上層的事務層(Transaction)和總線拓撲都與早期的PCI類似，典型  的設備有根設備(Root Complex) 、終端設備(Endpoint), 以及可選的交換設備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設備在北橋芯片內部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe  總線協議層的結構以及相關規范涉及的主要內容。PCI-E4.0的標準什么時候推出？有什么變化？

按照測試規范的要求，在發送信號質量的測試中，只要有1個Preset值下能夠通過信 號質量測試就算過關；但是在Preset的測試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進行分析。對于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測試碼型要復雜，總共包含36個128b/130b的   編碼字。通過特殊的設計， 一致性測試碼型中包含了長“1”碼型、長“0”碼型以及重復的“01” 碼型，通過對這些碼型的計算和處理，測試軟件可以方便地進行預加重、眼圖、抖動、通道損   耗的計算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測試碼型。高速串行技術(二)之(PCIe中的基本概念)；重慶PCI-E測試聯系人

pcie 有幾種類型,哪個速度快?重慶PCI-E測試檢查

測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬：41.25ps+0/—2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：46mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬：45ps+0/-2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：50mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV 校準時，信號的參數分析和調整需要反復進行，人工操作非常耗時耗力。為了解決這個 問題，接收端容限測試時也會使用自動測試軟件，這個軟件可以提供設置和連接向導、控制 誤碼儀和示波器完成自動校準、發出訓練碼型把被測件設置成環回狀態，并自動進行環回數 據的誤碼率統計。圖4 . 18是典型自動校準和接收容限測試軟件的界面，以及相應的測試重慶PCI-E測試檢查

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