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來源: 發布時間:2023-05-28

6.信號及電源完整性這里的電源完整性指的是在比較大的信號切換情況下,其電源的容差性。當未符合此容差要求時,將會導致很多的問題,比如加大時鐘抖動、數據抖動和串擾。這里,可以很好的理解與去偶相關的理論,現在從”目標阻抗”的公式定義開始討論。Ztarget=Voltagetolerance/TransientCurrent(1)在這里,關鍵是要去理解在差的切換情況下瞬間電流(TransientCurrent)的影響,另一個重要因素是切換的頻率。在所有的頻率范圍里,去耦網絡必須確保它的阻抗等于或小于目標阻抗(Ztarget)。在一塊PCB上,由電源和地層所構成的電容,以及所有的去耦電容,必須能夠確保在100KHz左右到100-200MH左右之間的去耦作用。頻率在100KHz以下,在電壓調節模塊里的大電容可以很好的進行去耦。而頻率在200MHz以上的,則應該由片上電容或用的封裝好的電容進行去耦。DDR3總線的解碼方法;廣西DDR測試銷售

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在進行接收容限測試時,需要用到多通道的誤碼儀產生帶壓力的DQ、DQS等信號。測試中被測件工作在環回模式,DQ引腳接收的數據經被測件轉發并通過LBD引腳輸出到誤碼儀的誤碼檢測端口。在測試前需要用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準,如DQS與DQ的時延校準、信號幅度校準、DCD與RJ抖動校準、壓力眼校準、均衡校準等。圖5.21展示了一整套DDR5接收端容限測試的環境。

克勞德高速數字信號測試實驗室

地址:深圳市南山區南頭街道中祥路8號君翔達大廈A棟2樓H區 通信DDR測試銷售電話DDR工作原理與時序問題;

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   克勞德高速數字信號測試實驗室致敬信息論創始人克勞德·艾爾伍德·香農,以成為高數信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標。

   克勞德高速數字信號測試實驗室重心團隊成員從業測試領域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協議分析儀、矢量網絡分析儀及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業指定品牌夾具。堅持以專業的技術人員,嚴格按照行業測試規范,配備高性能的權能測試設備,提供給客戶更精細更權能的全方面的專業服務。     克勞德高速數字信號測試實驗室提供具深度的專業知識及一系列認證測試、預認證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試等方面測試服務。

8.PCBLayout在實際的PCB設計時,考慮到SI的要求,往往有很多的折中方案。通常,需要優先考慮對于那些對信號的完整性要求比較高的。畫PCB時,當考慮以下的一些相關因素,那么對于設計PCB來說可靠性就會更高。1)首先,要在相關的EDA工具里設置好拓撲結構和相關約束。2)將BGA引腳突圍,將ADDR/CMD/CNTRL引腳布置在DQ/DQS/DM字節組的中間,由于所有這些分組操作,為了盡可能少的信號交叉,一些的管腳也許會被交換到其它區域布線。3)由串擾仿真的結果可知,盡量減少短線(stubs)長度。通常,短線(stubs)是可以被削減的,但不是所有的管腳都做得到的。在BGA焊盤和存儲器焊盤之間也許只需要兩段的走線就可以實現了,但是此走線必須要很細,那么就提高了PCB的制作成本,而且,不是所有的走線都只需要兩段的,除非使用微小的過孔和盤中孔的技術。終,考慮到信號完整性的容差和成本,可能選擇折中的方案。DDR壓力測試的內容方案;

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DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的,但是通常DDR芯片采用BGA封裝,引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉接板的方式,其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳處的信號質量,一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進行軟件的去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數模型文件(通常通過仿真或者實測得到),并根據實際測試點和期望觀察到的點之間的傳輸函數,來計算期望位置處的信號波形,再對這個信號做進一步的波形參數測量和統計。圖5.15展示了典型的DDR4和DDR5信號質量測試環境,以及在示波器中進行去嵌入操作的界面。 DDR信號質量自動測試軟件;廣西DDR測試銷售

DDR總線利用率和讀寫吞吐率的統計;廣西DDR測試銷售

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DDR4一致性測試工作臺(用示波器中的一致性測試軟件分析DDR仿真波形)對DDR5來說,設計更為復雜,仿真軟件需要幫助用戶通過應用IBIS模型針對基于DDR5顆粒或DIMM的系統進行仿真驗證,比如仿真驅動能力、隨機抖動/確定性抖動、寄生電容、片上端接ODT、信號上升/下降時間、AGC(自動增益控制)功能、4tapsDFE(4抽頭判決反饋均衡)等。

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