3.USB4.0回波損耗測試高速串行信號傳輸速率越高,信號的射頻微波化趨勢就越明顯,20Gb/s的數字信號的Nyquist頻率已經高達10GHz。這種情況下,測試信號的時域指標已經越來越難以保證信號的質量;因此從Thunderbolt3.0開始,發送端在正常傳輸數據時的回波損耗測試也變成了一個必須的測試項目,USB4.0當然也不例外。USB4.0定義了發送端和接收端差分回波損耗及共模回波損耗四個測試項目。USB4.0回波損耗測試的實際連接和結果示意圖。它需要一臺至少20GHz帶寬、帶TDR選件的網絡分析儀,同時被測體通過USB4ETT軟件和USB4.0Microcontroller產生PRBS31的測試碼型。是德科技提供詳細的操作步驟和網絡分析儀設定文件(StateFile)供大家參考。如何測試USB 3.0接口的USB PD(電力傳遞)功能?河北信息化USB物理層測試
USB2.0測試的目的是確保USB2.0設備在數據傳輸和供電方面的性能和功能符合規范,并能夠穩定可靠地工作。以下是USB2.0測試的重要性:確保數據傳輸質量:USB2.0設備通過USB接口進行數據傳輸,測試可以驗證設備的數據傳輸速率和穩定性。這有助于確保設備能夠快速、準確地傳輸數據,避免數據丟失或損壞,提高數據傳輸質量。保證供電能力:USB2.0接口不僅用于數據傳輸,還可以為許多設備提供電源供應。USB2.0測試可以確保設備的電源輸出穩定,電壓和電流在規定范圍內,從而保證設備能夠正常供電,并滿足設備的電力需求。河北信息化USB物理層測試如何測試USB 3.0接口的超速模式?
針對某特定訊號速度(低速、全速或高速)先選擇需進行的量測項目,然后根據層(即DUT的連接層)、測試點(DUT的測試點-近端或遠程)以及傳輸方向(上傳或下傳測試)設定應用程序,如圖所示。在完成了這兩步之后,使用者即可執行自動量測了。接著就是設置DUT類型、速率、夾具和測試分析模式,由于DUT是device,所以在Device一欄選擇Device;USB2.0的速率為7G;測試的夾具分為了兩類,一類是USB-IF協會的,另一類就是Tektronix的,在這里選擇的是Tektronix的測試夾具;另外一個非常關鍵的點就是TestMethod,是否選用USB-IFSigTest的分析方法,通常,我們會選擇使用;選擇參考時鐘,一般高速串行信號都會選用SSC模式;還要根據產品使用。
和發送端測試類似, USB4.0 需要支持有源電纜 (Case 1) 和無源電 纜 (Case 2) 兩種應用場景,接收端對應的測試點分別是 TP3’和 TP3。既然信號源需要提供一個標準的符合規范的壓力信號進行 接收端測試, 就必須采用示波器對壓力信號進行校準, 保證信號 源發出的信號經過不同的夾具、電纜后到達測試點各壓力成分均 滿足規范的要求。同時在接收端測試時, 我們需要準備兩條被 USB-IF 協會認證過的無源電纜, 2M 長的 USB4.0 Gen2(10Gb/s) 無源 電纜和 0.8M 長的 USB4.0 Gen3(20Gb/s) 無源電纜, 模擬惡劣的鏈 路環境。如何測試USB接口的波形質量?
要測試USB2.0設備的電源輸出和充電性能,可以按照以下步驟進行:選擇合適的測試儀器:選擇適用于電源輸出和充電測試的測試儀器,如功率計、電流表、電壓表等。確保這些儀器符合測量要求,并具備足夠的精度和準確度。測試電源輸出:連接要測試的USB2.0設備到計算機或電源適配器,確保設備正常工作并供電。使用功率計測量設備的電源輸出功率。將功率計插入到設備和電源之間,并記錄輸出功率值。檢查輸出功率是否在設備規格范圍內。根據設備規格,驗證輸出功率是否滿足要求。如何測試USB接口的傳輸線路的串擾程度?河北信息化USB物理層測試
USB 3.0一致性測試方法?河北信息化USB物理層測試
USB4.0技術簡介USB全稱UniversalSerialBus(通用串行總線),早在1994年被眾多電腦廠商采納用以解決當時接口不統一的問題。在隨后二十多年時間里,USB技術不斷發展,標準經歷了USB1.0/1.1、USB2.0、USB3.0、USB3.1到USB3.2,直到現在的USB4.0。USB4.0直接采用的是Intel和Apple從2015年在筆記本電腦上推出的、基于Type-C接口的“雷電”Thunderbolt3協議標準,數據傳輸速率支持10Gbps/lane和20Gbps/lane兩種速率,選擇性地支持TBT3-compatible10.3125Gbps/lane和20.625Gbps/lane兩種速率;同時,通過交替模式(ALTmode)支持DisplayPort,PCIE等信號標準。為了避免混淆,Intel將未來準備在筆記本電腦上部署的Thunderbolt接口,統一命名為Thunderbolt4.0。河北信息化USB物理層測試