綜上所述，PCIe4.0的信號測試需要25GHz帶寬的示波器，根據(jù)被測件的不同可能會 同時用到2個或4個測試通道。對于芯片的測試需要用戶自己設(shè)計(jì)測試板；對于主板或者  插卡的測試來說，測試夾具的Trace選擇、測試碼型的切換都比前代總線變得更加復(fù)雜了；

在數(shù)據(jù)分析時除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外，還要把均衡器對信號的改善也考慮進(jìn) 去。PCIe協(xié)會提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動測試軟件都可以為PCle4. 0的測試提供很好的幫助。 如何區(qū)分pci和pci-e(如何區(qū)分pci和pcie) ？PCI-E測試DDR測試

當(dāng)被測件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號后，被測件應(yīng)該會把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被  正確接收，測試通過的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn)  行PCIe4.0的插卡接收的實(shí)際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時鐘倍頻、信號均衡電路等，非常適合速率高、要求復(fù)雜的場合。在接收端容限測試中， 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長的時  間進(jìn)行Stress Eye的計(jì)算和鏈路調(diào)整，甚至無法完成校準(zhǔn)和測試。 一般建議事先用VNA  標(biāo)定和選擇好鏈路，這樣校準(zhǔn)過程會快很多，測試結(jié)果也會更加準(zhǔn)確。所以，在PCIe4.0的  測試中，無論是發(fā)送端測試還是接收端測試，都比較好有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配合進(jìn)行ISI通道  選擇。PCI-E測試DDR測試所有帶pcie物理插槽的主板都可以插固態(tài)硬盤用么？假如能的話插上可以改成引導(dǎo)系統(tǒng)的盤么？

這么多的組合是不可能完全通過人工設(shè)置和調(diào)整  的，必須有一定的機(jī)制能夠根據(jù)實(shí)際鏈路的損耗、串?dāng)_、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進(jìn)行  自動的參數(shù)設(shè)置和調(diào)整，這就是鏈路均衡的動態(tài)協(xié)商。動態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中  就有定義，但早期的芯片并沒有普遍采用；在PCIe4.0規(guī)范中，這個要求是強(qiáng)制的，而且很  多測試項(xiàng)目直接與鏈路協(xié)商功能相關(guān)，如果支持不好則無法通過一致性測試。圖4.7是  PCIe的鏈路狀態(tài)機(jī)，從設(shè)備上電開始，需要經(jīng)過一系列過程才能進(jìn)入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會進(jìn)行簡單的速率和位寬協(xié)商，而在Recovery階段則會進(jìn)行更  加復(fù)雜的發(fā)送端預(yù)加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差，同時由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些被測件發(fā)不出標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E的一致性測試碼型，為什么？

P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點(diǎn)是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值，測試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進(jìn)行切換操作非常煩瑣，特別是一些Preset相關(guān)的測試項(xiàng)目中需要頻繁切換，為了提高效率，也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設(shè)置成使用外部信號，這樣就可以通過函數(shù)發(fā)生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？PCI-E測試DDR測試

PCI-E3.0設(shè)計(jì)還可以使用和PCI-E2.0一樣的PCB板材和連接器嗎？PCI-E測試DDR測試

按照測試規(guī)范的要求，在發(fā)送信號質(zhì)量的測試中，只要有1個Preset值下能夠通過信 號質(zhì)量測試就算過關(guān)；但是在Preset的測試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進(jìn)行分析。對于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測試碼型要復(fù)雜，總共包含36個128b/130b的   編碼字。通過特殊的設(shè)計(jì)， 一致性測試碼型中包含了長“1”碼型、長“0”碼型以及重復(fù)的“01” 碼型，通過對這些碼型的計(jì)算和處理，測試軟件可以方便地進(jìn)行預(yù)加重、眼圖、抖動、通道損   耗的計(jì)算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測試碼型。PCI-E測試DDR測試