隨著科技發展，產品小型化和功能復雜化使得PCB板的布局密度逐漸提高。傳統的CAF（導電陽極絲）測試已經面臨諸多挑戰，主要體現在以下幾個方面：1.測試精度不夠：隨著PCB電路板小型化趨勢的加劇，元器件的尺寸和間距不斷縮小，使得傳統的測試方法（如目檢、ICT針床測試等）難以滿足高精度測試的需求。飛針測試、X-ray等技術雖然提高了測試精度，但也快到達技術瓶頸，特別是在處理高密度PCB時，仍難以保證測試結果的準確性。2.測試覆蓋率不足：由于PCB電路板上集成的元器件越來越多，測試點的數量和測試點之間的距離都受到限制，導致測試覆蓋率不足。部分元器件的高度差異大，也增加了測試的難度，使得一些關鍵區域可能無法得到有效測試。3.測試成本難以降低：PCB測試行業已經進入成熟階段，各種測試儀器和測試方案的成本已經相對較高。在保障檢測能力的同時，進一步降低測試成本變得十分困難，特別是在競爭激烈的消費電子領域，成本壓力更加突出。導電陽極絲測試系統采用先進技術，保障測試過程的安全性。鎮江GEN3測試系統研發公司

導電陽極絲測試（CAF測試）對印制電路板材料選擇的影響主要體現在以下三個方面。材料絕緣性能：CAF測試是評估材料絕緣性能的重要手段。通過測試，可以確定材料的絕緣強度、耐電壓等參數，為材料選擇提供直接依據。耐腐蝕性：CAF測試可以揭示材料在特定環境下的腐蝕情況，從而評估材料的耐腐蝕性能。這對于選擇適合在惡劣環境下工作的PCB材料至關重要。離子遷移性能：CAF測試涉及離子遷移現象，通過測試可以評估材料在離子遷移方面的性能。這對于選擇適合在高電壓、高濕度等條件下工作的PCB材料具有重要意義。上海高阻測試系統供應商導電陽極絲測試系統助力企業提高產品可靠性。

杭州國磊半導體設備有限公司是一家專注于高性能半導體/電子測試系統的研發、制造、銷售和服務的高科技企業。公司由半導體測試技術**團隊創立，具有豐富的半導體測試技術及產業化經驗。團隊掌握產品核心技術，擁有先進的電子、通信與軟件技術，涵蓋精密源表、高速通信、精密測量、光電技術、功率電路、嵌入式程序設計、計算機程序設計等眾多領域。公司主要面向集成電路IC(模擬/數字/混合芯片)、功率器件、光電器件等芯片行業，以及鋰電/儲能/新能源汽車/ICT/LED/醫療等領域，為客戶提供高性能的實驗室-工程驗證-量產全流程的測試技術、產品與解決方案。目前公司逐步形成了以半導體/電子測試系統、PXI/PXIe板卡、GTFY可編程測試軟件等模塊為技術基礎的產品體系。由杭州國磊半導體設備有限公司研發推出的GM8800導電陽極絲測試系統是一款用于測量表面電化學反應的影響的設備，產品性能表現優異，足以替代進口GEN3系列產品。系統可配置16個高性能測試板卡，支持測量256個單獨的測量點和高達1014Ω的精細電阻測量。軟硬件高度集成，頻繁的監測功能提供了電化學反應在電路組件上發生情況的全部畫面。測量結果分析功能強大，性能穩定，操作方便，極大地滿足客戶需求。

隨著科技持續發展，產品的小型化和復雜化使得PCB的布局密度逐漸提高。傳統的CAF（導電陽極絲）測試已經面臨諸多挑戰，主要體現在以下幾個方面：1.測試精度不夠：隨著PCB電路板小型化趨勢的加劇，元器件的尺寸和間距不斷縮小，使得傳統的測試方法（如目檢、ICT針床測試等）難以滿足高精度測試的需求。飛針測試、X-ray等技術雖然提高了測試精度，但也快到達技術瓶頸，特別是在處理高密度PCB時，仍難以保證測試結果的準確性。2.測試覆蓋率不足：由于PCB電路板上集成的元器件越來越多，測試點的數量和測試點之間的距離都受到限制，導致測試覆蓋率不足。部分元器件的高度差異大，也增加了測試的難度，使得一些關鍵區域可能無法得到有效測試。3.測試成本持續下降的空間有限：PCB測試行業已經進入成熟階段，各種測試儀器和測試方案的成本已經相對較高。在保障檢測能力的同時，進一步降低測試成本變得十分困難，特別是在競爭激烈的消費電子領域，成本壓力更加突出。企業通過PCB可靠性測試系統提升產品競爭力，贏得市場信任。

導電陽極絲測試（CAF測試）結果通常以電阻值變化、絕緣失效時間等關鍵指標呈現。在解析測試結果時，需要重點關注以下三個方面：一是電阻值變化：測試過程中，若觀察到電阻值明顯降低，可能意味著絕緣層出現了導電通道，即發生了CAF現象。電阻值的變化幅度和速率，是評估CAF程度的重要指標。二是絕緣失效時間：絕緣失效時間指的是從測試開始到絕緣層完全失效所需的時間。這個時間的長短直接反映了絕緣層的可靠性和耐用性。較短的絕緣失效時間意味著絕緣層更容易受到CAF現象的影響。三是失效模式分析：除了關注電阻值和絕緣失效時間外，還需要對失效模式進行深入分析。通過檢查失效位置的形貌、材料狀態等信息，可以進一步了解CAF現象產生的原因和機制，為后續的改進提供依據。選用專業的高阻測試設備如國磊GM8800和GEN3的Auto CAF2，輕松應對高阻值測量挑戰。清遠GEN測試系統供應商

CAF測試系統支持遠程監控和操作，提高了測試工作的便捷性。鎮江GEN3測試系統研發公司

隨著5G技術的快速發展，在該領域中CAF（導電陽極絲）測試對于確保電子產品的可靠性和穩定性至關重要。特別是在汽車電子領域，伴隨著像“蘿卜快跑”等智能駕駛的商用進程加快，由于汽車對于安全、舒適、經濟性和娛樂性的需求日益增長，以及汽車電子化水平的不斷提高，CAF測試的需求也愈發重要。針對5G技術中CAF測試的特殊需求，可以從以下幾個方面進行分析：1.更嚴格的PCB設計要求：5G芯片需要更小的PCB孔間距，允許孔壁間距不超過，最小孔徑為，這對PCB制造加工技術提出了巨大挑戰。為了滿足高頻和高速通信的需求，PCB需要具有更低的傳輸線損耗、阻抗和及時延遲一致性。PCB的導線寬度以及導線間距也越來越小，層數也越來越密集，逐漸向高密度化的方向發展。2.特殊材料的應用：由于汽車中不同部位對PCB的要求不同，例如在發動機等高熱部位需要使用特殊材料（如陶瓷基、金屬基、高Tg）。為了滿足5G通信高速產品的要求，覆銅片樹脂Dk/Df需更小，樹脂體系逐漸向混合樹脂或聚四氟乙烯材料靠攏。3.嚴格的CAF測試要求：在汽車電子中，CAF測試是評估PCB在長期高電壓、高電流和高溫環境下是否會出現導電陽極絲現象的重要手段。隨著汽車電子化水平的提高，CAF測試的需求也越來越大。 鎮江GEN3測試系統研發公司