美國D&S公司生產(chǎn)的AE1/RD1輻射率儀是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計的，具有如下優(yōu)點(diǎn)：重復(fù)性:±0.01操作簡單:探測器采用電加熱設(shè)計，無須加熱樣品，也不需要測量溫度。快速測量：預(yù)熱約30分鐘，每1.5分鐘測量一次發(fā)射率。價格實(shí)惠:相較于一些用比較法測量發(fā)射率的儀器便宜很多AE1/RD1輻射率儀測量材料的總半球發(fā)射率，測量儀*對輻射熱傳輸響應(yīng)，并且輸出電壓和發(fā)射率成線性關(guān)系。D&S的標(biāo)度數(shù)字電壓表RD1是AE1輻射率儀讀數(shù)器，RD1通過可調(diào)旋鈕來設(shè)定電壓讀數(shù)和發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體的電壓一致，當(dāng)AE1測量待測樣品上時，RD1就能直接讀出發(fā)射率。客戶定制－定制測呈適配器，用來測量圓柱體表面或者其它形狀設(shè)計表面。明策科技發(fā)射率測量儀工作原理

本系統(tǒng)由美國Devices&Services提供設(shè)備，由上海明策電子科技有限公司提供售前售后專業(yè)技術(shù)服務(wù)。Devices&Services公司位于德克薩斯州達(dá)拉斯市，自1977年以來一直為材料、太陽能和航空航天工業(yè)制造提供先進(jìn)的熱學(xué)和光學(xué)儀器。本系統(tǒng)由AE1/RD1輻射率測量儀與SSR-ER太陽光譜反射率測量儀組成。發(fā)射率測量儀內(nèi)部**是一個發(fā)熱的黑體，內(nèi)部的熱電堆傳感器將反射的熱輻射的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為電壓信號，并按照特定溫度下的普朗克黑體定律給的熱輻射光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行內(nèi)部分析處理，從而得出數(shù)據(jù)反饋給儀器數(shù)顯信號進(jìn)行數(shù)據(jù)的輸出。太陽光反射率發(fā)射率測量儀安裝標(biāo)準(zhǔn)體:隨機(jī)提供兩個高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體和兩個低發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體。其中一套標(biāo)準(zhǔn)體可以用來測量時使用。

把該儀器放在高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體（黑體）上，設(shè)定RD1來表示發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)；然后儀器就會根據(jù)這個標(biāo)準(zhǔn)，計算并直接讀出RD1上該被測目標(biāo)的發(fā)射率。AE1測量樣品**小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件AE-AD1和AE-AD3探測頭能使測量樣品**小直徑為1.0英寸（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。如需定制測量頭。AE1/RD1紅外半球發(fā)射率測量儀滿足《JG_T235-2014建筑反射隔熱涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔熱涂料節(jié)能檢測標(biāo)準(zhǔn)》中對半球發(fā)射率的要求。

為了測量大曲率的圓柱形表面，檢測器感應(yīng)元件必須與表面的軸對稱定位，以降低由于輕微的未對準(zhǔn)而產(chǎn)生的誤差。將適配器連接到AE1測量頭的旋螺釘用于正確對準(zhǔn)儀器。同樣用于測量大曲率圓柱表面，提供柔性波紋管以密封圓柱形表面，并防止間歇性空氣流過檢測器表面。客戶可以根據(jù)自己的樣品大小選擇合適自己的，當(dāng)然如果你在選型上有任何問題，可以隨時咨詢上海明策！如果你需要戶外使用的話，還有電源可供選擇使用的。AE1/RD1標(biāo)配包含：包括輻射率儀、電源線、加熱裝置，兩個高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體和兩個低發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體，技術(shù)手冊及操作指南。把輻射計放在高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)體上，設(shè)定RDl來顯示發(fā)射率。

    請謹(jǐn)記需要重復(fù)循環(huán)調(diào)節(jié)高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)塊(步驟3)和低發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)(步驟4)。重復(fù)補(bǔ)償兩個調(diào)試過程,直到重復(fù)兩個標(biāo)定過程都不需要改變顯示數(shù)值時，我們才能說RD1和Emissometer現(xiàn)在測出來的發(fā)射率和表頭顯示的數(shù)值才是**準(zhǔn)確的。進(jìn)行發(fā)射率測量1.將探頭放到高放射率標(biāo)定塊的位置，然后等RD1顯示的發(fā)射率數(shù)值穩(wěn)定下來；并確保RD1在“變量variable”模式下2.把探頭移動到被測樣品上然后等待RD1的顯示數(shù)值趨于穩(wěn)定。此時顯示的數(shù)值就是該樣品發(fā)射率，不需要進(jìn)行任何計算3.當(dāng)測量未知樣品時，一般我們都是采用高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)塊來校驗下RD1，然后再測樣品的發(fā)射率；當(dāng)然設(shè)計其他一些特殊樣品，我們有其他的一些對應(yīng)方法，詳情敬請咨詢我司。 便攜式反射率測定儀常溫下材料半球發(fā)射率的測定。半球發(fā)射率發(fā)射率測量儀服務(wù)價格

半球發(fā)射率: 熱輻射體在半球方向上的輻射出射度與處于相同溫度的全幅射體(黑體)的輻射出射度之比值。明策科技發(fā)射率測量儀工作原理

AE1/RD1可選配件（用于AE1型發(fā)射率計）發(fā)射率測量儀適配器—型號AE-AD3。AE1和AE-AD3適配器的發(fā)射率測量可以在直徑約為1.0英寸（2.54厘米）的平坦區(qū)域進(jìn)行。典型應(yīng)用包括對材料的小樣品試樣進(jìn)行測量，并在一個較大的樣本上測量一個小的可用的平面區(qū)域。適配器可以在要測量的區(qū)域上有效阻隔1英寸高度的垂直障礙物影響。發(fā)射率測量儀適配器—型號AE-AD1。AE1和AE-AD1適配器的發(fā)射率測量儀可以實(shí)現(xiàn)在直徑為1.5英寸（3.8厘米）的平坦區(qū)域小目標(biāo)測量。典型的應(yīng)用是在太陽能吸收板上的管子進(jìn)行測量，或者測量小于直徑2.25英寸（5.7cm）的區(qū)域。發(fā)射率測量儀端口適配器—型號ADP。AE-ADP端口內(nèi)徑為1.5英寸。該模型用于測量較小的樣品尺寸，具有低導(dǎo)熱性的材料，大曲率圓柱形表面（>2英寸）粗糙或紋理表面。明策科技發(fā)射率測量儀工作原理

上海明策電子科技有限公司致力于儀器儀表，以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)***管理的追求。明策科技擁有一支經(jīng)驗豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團(tuán)隊，以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供黑體校準(zhǔn)源，紅外測溫儀，高速攝像機(jī)，發(fā)射率測量儀。明策科技繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。明策科技始終關(guān)注儀器儀表市場，以敏銳的市場洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶的成長共贏。