SPM-5000高精度快速光譜儀系統采用目前國際先進的全息凹面光柵分光技術，光路設計獨特，雜散光極低。測試準確度及重復性完全可媲美國內外同類產品。SPM-5000高精度光譜輻射計配以專業的積分球、數字功率計、精密變頻交流電源以及高精度定標直流電源組成IMS積分球測試系統自動化程度高，測試速度快；可以滿足照明行業質檢部門的質量檢測、生產部門的質量控制以及開發部門的參數測試設計的日常需求.發光效率、光譜功率分布及色度參數是各類光源及發光材料的重要質量指標，有效的掌握這些質量指標的測量儀器對于各類光源及發光材料的研制及生產有著十分重要的意義。IMS系列CCD光譜儀積分球測試系統正是為滿足CIE/IESNA/GB等標準的基礎上設計而成的。SPM-5000高精度快速光譜儀帶輔助燈修正設計，對待測燈對光的吸收進行修正，保證測量準確度。嘉興光譜儀推薦咨詢

SPM-5000高精度快速光譜儀與0.3m積分球，標準燈，直流電源組成IMS-2020單顆LED/模組光色電測試系統。滿足GB/T 5702-2019 ,GB/T 7922-2008,IESNA LM-79-08,ANSI C78.377,IESNA TM-30,美國能源之星Lamps V2.1等標準的測試要求，適用于實驗室或研究機構。主要用于測量單顆LED相對光譜功率分布，光通量，光效，(EU)2019/2015 EEI能效等級，輻射功率，CIE色溫，CIE色品坐標，CIE色純度，紅色比，色容差SDCM(含國際和國內標準)，峰值波長，主波長，峰值半寬度，顯色指數CRI，CQS，TM-30-18，Ponmax，電學參數等。南京建筑照明檢測光譜儀SPM-5000高精度快速光譜儀光譜覆蓋范圍：光譜儀能檢測到的波長范圍（380-800nm）。

SPM5000高精度快速光譜儀測試系統滿足TM-30顯色評價方法的測量，2018年10月9日，北美照明工程學會（IES）發布了新版的光源顏色質量評價標準:IES TM-30-18 Method for Evaluating Light Source Color Rendition（光源顏色再現的評價方法）。IES TM-30雙指標共同評價顏色質量：保真度Rf用來表征光源的顯色指數CRI，即各標準色在測試光源照射下與在參考光源照射下相比的相似程度。色彩飽和度Rg用來表征光源的色域指數GAI，即各標準色在測試光源照射下與參考光源相比的飽和程度，指數100**飽和度比較好。TM-30采用了99個標準色，這99個標準色不再是孟塞爾色卡，而是從10500個物體的顏色中仔細選取的。它**著生活中能看到的常見各種顏色，并且這99個標準色對于各波長的敏感度基本相同。TM-30體系還提供了一個色彩矢量圖，直接以圖形來顯示特定顏色在被測光源下的色偏移以及飽和度的改變是暗淡還是更加生動，這是對保真度和飽和度指數的重要補充。在SPM5000高精度快速光譜儀測試系統報告中體現具體TM-30顯色評價方法參數。

SPM-5000高精度快速光譜儀與積分球，交直流電源，電參數，標準燈，標準機柜組成IMS-2021植物生長燈光電綜合測試系統。滿足DLC,ASABE,DIN,GB,CQC和CSA等國內外相關植物照明標準的測試要求，適用于實驗室或研究機構。可以測得光源的光譜功率分布、色品坐標、光量子數、光合輻射通量PPF、遠紅光光子通量、葉綠素A加權輻照度Ech-A、葉綠素B加權輻照度Ech-B 、紅藍輻射比、 藍-紫輻射通量、黃-綠輻射通量、紅-橙輻射通量等一系列光色電參數。植物照明光子通量測試系統滿足植物照明相關標準的測量要求。已經成為世界各地植物照明光源、燈具相關測試實驗室和企業的必備工具。IMS-2020光色電綜合測試系統滿足GB/T 7922:2008 照明光源顏色的測量方法。

SPM5000高精度快速光譜儀測試系統滿足DF的測量，ErP指令(EU)2019/2020以及能效標簽指令(EU)2019/2015已經正式實施，相移因數DF是新增的一個要求。相移因數也是cos?，是基波電流與基波電壓的相位角的余弦值。對于不同功率的光源，DF的要求是不一樣的。小于等于5W的燈是沒有要求的；5W到10W要求DF大于等于0.5; 10W到25W要求DF大于0.7; 25W以上的要求DF大于等于0.9。使用公司的PM310H。 PM310H使用大液晶屏顯示，可以在一屏上顯示電壓、電流、功率、功率因數PF、相移因數DF、電壓電流總諧波，電壓電流波峰比等參數，讀數非常方便。在SPM5000高精度快速光譜儀測試系統報告中體現具體DF參數。SPM-5000高精度快速光譜儀測試系統滿足LED主波長，峰值波長，譜線半寬度的測量。深圳光譜儀歡迎來電

SPM-5000高精度快速光譜儀滿足IES LM-80-08標準。嘉興光譜儀推薦咨詢

SPM-5000高精度快速光譜儀采用目前國際先進的全息凹面光柵分光技術，光路設計獨特，雜散光極低。測試準確度及重復性完全可媲美進口同類產品。在光譜儀中，雜散光是形成系統背景光譜的主要原因，若背景光譜較強，則可能影響到微弱光信號的檢測，降低系統的信噪比，同時會直接影響測量信號的準確度及單色性。目前市場上大多數光譜儀制造商所提供的快速CCD光譜儀分光都采用平面光柵與多塊聚光鏡的組合，會產生極大的雜散光，對測量結果影響很大。翊明科技為了克服以上問題，公司采用世界先進的全息凹面衍射光柵和東芝高性能的線性CCD陳列探測器。優化了高性能CCD與全息凹面平場衍射光柵的匹配設計，通過求解關于不同像差項的非線性方程組來達到消除具體像差、補償像面的目的，只需一個光學元件，很好的解決了大多數廠家對快速光譜儀測試過程中產生極大雜散光，使光學匹配更完美，系統所獲得的光譜更純，線性更好。雜散光的控制遠遠達不到用全息凹面平場衍射光柵只需一個光學元件的效果。嘉興光譜儀推薦咨詢

杭州翊明科技有限公司總部位于經濟技術開發區鴻興路389號，是一家計算機軟件、自動化控制系統、光電測量儀器、分析儀器、電子器件、光學元件的技術開發、技術咨詢、銷售、技術服務；計算機軟件、自動化控制系統、光電檢測儀器、分析儀器的制造；貨物及技術的進出口業務；其他無需報經審批的一切合法項目（依法須經批準的項目，經相關部門批準后方可開展經營活動）等。的公司。公司自創立以來，投身于頻閃分析儀，分布光度計，積分球光譜分析系統，數字功率計，是儀器儀表的主力軍。翊明科技繼續堅定不移地走高質量發展道路，既要實現基本面穩定增長，又要聚焦關鍵領域，實現轉型再突破。翊明科技創始人楊武，始終關注客戶，創新科技，竭誠為客戶提供良好的服務。