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山東pl檢測儀

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-04-13

EL檢測儀,又稱場致發(fā)光測試,是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對組件進(jìn)行缺陷檢測及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的測試設(shè)備。利用機(jī)器視覺檢測方式對電池片表面檢測成像分析,從而可以查看是否有電池片組件內(nèi)部有電池片破裂、隱裂、黑心片、燒結(jié)斷柵嚴(yán)重、虛焊、脫焊等情況。目前在在太陽能電池片質(zhì)量檢測中使用較多的為EL檢測儀。EL檢測儀測驗(yàn)的進(jìn)程即晶體硅太陽電池外加正向偏置電壓,直流電源向晶體硅太陽電池注入很多非平衡載流子,太陽電池依托從分散區(qū)注入的很多非平衡載流子不斷地復(fù)合發(fā)光,放出光子,也就是光伏效應(yīng)的逆進(jìn)程;再使用ccd相機(jī)捕捉到這些光子,經(jīng)過計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理后以圖畫的方式顯現(xiàn)出來,整個(gè)進(jìn)程都在暗室中進(jìn)行。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司為您提供檢測,有想法的不要錯(cuò)過哦!山東pl檢測儀

不同的隱裂,對電池片功能造成的影響是不一樣的。對電池片功能影響比較大的,是平行于主柵線的隱裂(第4類)。根據(jù)研究結(jié)果,50%的失效片來自于平行于主柵線的隱裂。45°傾斜裂紋(第3類)的效率損失是平行于主柵線損失的1/4。垂直于主柵線的裂紋(第5類)幾乎不影響細(xì)柵線,因此造成電池片失效的面積幾乎為零。有研究結(jié)果顯示,組件中某單個(gè)電池片的失效面積在8%以內(nèi)時(shí),對組件的功率影響不大,組件中2/3的斜條紋對組件的功率穩(wěn)定沒有影響。寧夏視覺檢測儀器價(jià)格檢測,就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司,用戶的信賴之選,有想法可以來我司咨詢!

光伏電站的收益好壞,取決于光伏組件的發(fā)電效率,而影響光伏組件發(fā)電效率的因素可通過EL檢測分析出來并加以改善。EL英文全稱ElectroLuminescence,即電致發(fā)光,也可以叫電子發(fā)光檢測。是根據(jù)半導(dǎo)體輻射復(fù)合釋放光子的特點(diǎn),對組件施加正向電壓注入非平衡載流子,并通過光子探測器接收非平衡載流子輻射復(fù)合釋放的光子,非平衡載流子濃度越高(正常區(qū)域)釋放的光子越多,EL顯示圖像越亮;非平衡載流子濃度越低(缺點(diǎn)區(qū)域)釋放的光子越少,EL圖像越暗,通過圖像明暗關(guān)系即可反應(yīng)組件內(nèi)部電池缺點(diǎn)情況。

發(fā)光成像方法為太陽電池缺點(diǎn)檢測提供了一種非常好的解決方案,這種檢測技術(shù)使用方便,類似的二維化面檢測。本文討論的是光致發(fā)光技術(shù)在檢測晶體Si太陽電池上的應(yīng)用。光致發(fā)光(photoluminescence,PL)檢測過程大致包括激光被樣品吸收、能量傳遞、光發(fā)射及CCD成像四個(gè)階段。通常利用激光作為激發(fā)光源,提供一定能量的光子,Si片中處于基態(tài)的電子在吸收這些光子后而進(jìn)入激發(fā)態(tài),處于激發(fā)態(tài)的電子屬于亞穩(wěn)態(tài),在短時(shí)間內(nèi)會(huì)回到基態(tài),并發(fā)出以1150 nm的紅外光為波峰的熒光。利用冷卻的照相機(jī)鏡頭進(jìn)行感光,將圖像通過計(jì)算機(jī)顯示出來。發(fā)光的強(qiáng)度與本位置的非平衡少數(shù)載流子的密度成正比,而缺點(diǎn)處會(huì)成為少數(shù)載流子的強(qiáng)復(fù)合中心,因此該區(qū)域的少數(shù)載流子密度變小導(dǎo)致熒光效應(yīng)減弱,在圖像上表現(xiàn)出來就成為暗色的點(diǎn)、線,或一定的區(qū)域,而在電池片內(nèi)復(fù)合較少的區(qū)域則表現(xiàn)為比較亮的區(qū)域。因此,通過觀察光致發(fā)光成像能夠判斷Si片或電池片是否存在缺點(diǎn)。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測,有想法可以來我司咨詢。

識別“隱裂”的方法EL(Electroluminescence,電致發(fā)光)是一種太陽能電池或組件的內(nèi)部缺點(diǎn)檢測設(shè)備,是簡單有效的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理,通過辨率的紅外相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像,獲取并判定組件的缺點(diǎn)。具有靈敏度高、檢測速度快、結(jié)果直觀形象等優(yōu)點(diǎn)。形成“隱裂”的原因外力:電池片在焊接、層壓、裝框或搬運(yùn)、安裝、施工等過程中會(huì)受外力,當(dāng)參數(shù)設(shè)置不當(dāng)、設(shè)備故障或操作不當(dāng)時(shí)會(huì)造成隱裂。高溫:電池片在低溫下沒有經(jīng)過預(yù)熱,然后在短時(shí)間內(nèi)突然受到高溫后出現(xiàn)膨脹會(huì)造成隱裂現(xiàn)象,如焊接溫度過高、層壓溫度等參數(shù)設(shè)置不合理。原材料:原材料的缺點(diǎn)也是導(dǎo)致隱裂的主要因素之一。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司檢測服務(wù)值得放心。江蘇視覺檢測設(shè)備廠家

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上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司,EL檢測儀,又稱太陽能組件電致發(fā)光缺點(diǎn)檢測儀,是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對組件進(jìn)行缺點(diǎn)檢測及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的測試設(shè)備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會(huì)發(fā)出1000-1100nm的紅外光,測試儀下方的攝像頭可以捕捉到這個(gè)波長的光并成像于電腦上。因?yàn)橥姲l(fā)的光與PN結(jié)中離子濃度有很大的關(guān)系,因此可以根據(jù)圖像來判斷硅片內(nèi)部的狀況。EL照片中黑心片是反映在通電情況下電池片中心一圈呈現(xiàn)黑域,該部分沒有發(fā)出1150nm的紅外光,故紅外相片中反映出黑心,此類發(fā)光現(xiàn)象和硅襯底少數(shù)載流子濃度有關(guān)。這種電池片中心部位的電阻率偏高。山東pl檢測儀