近年來，光伏產業發展迅猛，提高效率和降低成本成為整個行業的目標。在晶體Si太陽電池的薄片化發展過程中，出現了許多嚴重的問題，如碎片、電池片隱裂、表面污染、電極不良等，正是這些缺點限制了電池的光電轉化效率和使用壽命。同時，由于沒有完善的行業標準，Si片原材料質量也是參差不齊，一些缺點片的存在直接影響到組件乃至光伏系統的穩定性。因此，太陽能行業需要有快速有效和準確的定位檢驗方法來檢驗生產環節可能出現的問題。檢測，就選上海歐普泰科技創業股份有限公司。天津光伏檢測設備

發光成像方法為太陽電池缺點檢測提供了一種非常好的解決方案，這種檢測技術使用方便，類似的二維化面檢測。本文討論的是光致發光技術在檢測晶體Si太陽電池上的應用。光致發光(photoluminescence，PL)檢測過程大致包括激光被樣品吸收、能量傳遞、光發射及CCD成像四個階段。通常利用激光作為激發光源，提供一定能量的光子，Si片中處于基態的電子在吸收這些光子后而進入激發態，處于激發態的電子屬于亞穩態，在短時間內會回到基態，并發出以1150 nm的紅外光為波峰的熒光。利用冷卻的照相機鏡頭進行感光，將圖像通過計算機顯示出來。發光的強度與本位置的非平衡少數載流子的密度成正比，而缺點處會成為少數載流子的強復合中心，因此該區域的少數載流子密度變小導致熒光效應減弱，在圖像上表現出來就成為暗色的點、線，或一定的區域，而在電池片內復合較少的區域則表現為比較亮的區域。因此，通過觀察光致發光成像能夠判斷Si片或電池片是否存在缺點。天津光伏檢測設備上海歐普泰科技創業股份有限公司是一家專業提供檢測的公司，歡迎您的來電！

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給晶硅組件施加電壓后，所激發出的電子和空穴復合的數量越多，其發射出的光子也就越多，所測得的EL圖像也就越亮；如果有的區域EL圖像比較暗，說明該處產生的電子和空穴數量較少，該處存在缺點；如果有的區域完全是暗的，該處沒有發生電子和空穴的復合，也或者是所發光被其它障礙所遮擋，無法檢測到信號。隱裂種類雖然眾多，但不是所有的隱裂都會對電池片有影響。在組件生產、運輸、安裝和維護過程中，考慮到晶硅組件的易裂特征，需要在安裝電站的各個過程注意并改進作業流程，盡量減少組件隱裂的產生。對于檢測隱裂，目前EL是的方法。而導致組件隱裂的原因眾多，要弄清楚原因后再追究責任，不能盲目聽信他人之言。上海歐普泰科技創業股份有限公司是一家專業提供檢測的公司，期待您的光臨！

隱裂、熱斑、PID效應，是影響晶硅光伏組件性能的三個重要因素。隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺點，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細微破裂(micro-crack)。晶硅組件由于其自身晶體結構的特性，十分容易發生破裂。在晶體硅組件生產的工藝流程中，許多環節都有可能造成電池片隱裂。隱裂產生的根本原因，可歸納為硅片上產生了機械應力或熱應力。現在為了降低成本，晶硅電池片向越來越薄的方向發展，降低了電池片防止機械破壞的能力，更容易產生隱裂。上海歐普泰科技創業股份有限公司為您提供檢測，有想法的不要錯過哦！天津光伏檢測設備

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根據EL測試儀原理可以知道，光伏組件中所有能引起內部電池少子壽命降低的缺點都通過EL圖像反應，例如黑心片、黑斑片等材料缺點，以及碎片、隱裂等電池缺點。黑心片和黑斑片主要跟電池制備所用的硅材料有關，有黑心片和黑斑片的電池少子壽命較低，對組件輸出功率也會有影響。電池碎片和隱裂片一般由外力造成。其中碎片一般可由肉眼看到，對組件的功率輸出有較大影響;隱裂通過肉眼難以發現，對組件功率輸出有一定影響，容易形成熱斑，可發展為碎片。天津光伏檢測設備