正增益現象處理：在OTDR曲線上可能會產生正增益現象。正增益是由于在熔接點之后的光纖比熔接點之前的光纖產生更多的后向散光而形成的。事實上，光纖在這一熔接點上是熔接損耗的。常出現在不同模場直徑或不同后向散射系數的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個方向測量并對結果取平均作為該熔接損耗。在實際的光纜維護中，也可采用≤0.08dB即為合格的簡單原則。附加光纖的使用：附加光纖是一段用于連接OTDR與待測光纖、長300～2000m的光纖，其主要作用為：前端盲區處理和終端連接器插入測量。一般來說，OTDR與待測光纖間的連接器引起的盲區比較大。在光纖實際測量中，在OTDR與待測光纖間加接一段過渡光纖，使前端盲區落在過渡光纖內，而待測光纖始端落在OTDR曲線的線性穩定區。光纖系統始端連接器插入損耗可通過OTDR加一段過渡光纖來測量。如要測量首、尾兩端連接器的插入損耗，可在每端都加一過渡光纖。850/1310/1550/1625OTDR二手商家就找成都雄博科技發展有限公司。日本安藤光時域反射儀聯系電話

使得 OTDR 的事件盲區盡可能短是非常重要的，這樣才可以在鏈路上檢測相距很近的事件。例如，在建筑物網絡中的測試要求 OTDR 的事件盲區很短，因為連接各種數據中心的光纖跳線非常短。如果盲區過長，一些連接器可能會被漏掉，技術人員無法識別它們，這使得定位潛在問題的工作更加困難。折疊衰減盲區衰減盲區是 Fresnel 反射之后，OTDR 能在其中精確測量連續事件損耗的小距離。還使用以上例子，經過較長時間后，您的眼睛充分恢復，能夠識別并分析路上可能的物體的屬性。如圖 6 所示，檢測器有足夠的時間恢復，以使得其能夠檢測和測量連續事件損耗。所需的小距離是從發生反射事件時開始，直到反射降低到光纖的背向散射級別的 0.5 dB英文界面光時域反射儀框架協議AQ-1200OTDR口碑商家就找成都雄博科技發展有限公司。

經驗與技巧(1)光纖質量的簡單判別：正常情況下，OTDR測試的光線曲線主體(單盤或幾盤光纜)斜率基本一致，若某一段斜率較大，則表明此段衰減較大；若曲線主體為不規則形狀，斜率起伏較大，彎曲或呈弧狀，則表明光纖質量嚴重劣化，不符合通信要求。(2)波長的選擇和單雙向測試：1550波長測試距離更遠，1550nm比1310nm光纖對彎曲更敏感，1550nm比1310nm單位長度衰減更小、1310nm比1550nm測的熔接或連接器損耗更高。在實際的光纜維護工作中一般對兩種波長都進行測試、比較。對于正增益現象和超過距離線路均須進行雙向測試分析計算，才能獲得良好的測試結論。

OTDR向被測的光纖反復發送脈沖，并將每次掃描的曲線平均得到結果曲線，這樣，接收器的隨機噪聲就會隨著平均時間的加長而得到抑制。在OTDR的顯示曲線上體現為噪聲電平隨平均時間的增長而下降，于是，動態范圍會隨平均時間的增大而加大。在初的平均時間內，動態范圍性能的改善，在接下來的平均時間內，動態范圍性能的改善，在接下來的平均時間里面，動態范圍性能的改善會逐漸變緩，也就是說，平均時間越長，OT DR的動態范圍就會越大。進口光時域反射儀二手商家就找成都雄博科技發展有限公司。

在測試光纖鏈路時，至少會產生一個盲區，即OTDR與光纖的連接點。盲區是OTDR的一大缺憾，在測試有大量光器件的短距離光纖鏈路時更是如此。但是，盲區又是不可避免的，因此，盡可能地減少盲區的負面影響至關重要。上文曾提到，盲區與脈沖寬度相關，我們可以通過縮減脈沖寬度來縮小盲區，但是縮減脈沖寬度又會減小動態范圍（動態范圍越大，OTDR可測量的光纖鏈路距離越長），因此，選擇一個合適的脈沖寬度很關鍵。通常，窄脈沖寬度、短盲區和低功率的OTDR常用來檢測室內光纖鏈路，排除短光纖鏈路內的故障；寬脈沖寬度、長盲區和高功耗的OTDR常用來檢測長距離的光纖鏈路。動態范圍光時域反射儀口碑商家就找成都雄博科技發展有限公司。日本安藤光時域反射儀口碑商家

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比較上述兩種測試原理，兩者有很大區別。通過實踐證明，兩種方法測出數據一致性也較差，通過近幾年對干線工程接續測試發現，很多情況下熔接機顯示損耗很小（小于0.05dB）甚至為零，但OTDR測試則大于0.08dB，且沒發現有對應的規律。日本的接頭損耗標準（NTT光纜施工驗收規程）小值小于0.9dB，無平均值要求，只有中繼段總衰減要求，只要滿足，就能開通設計要求的或將來要增加的設備，在接續操作方面則與ITU建議一致。美國、歐洲諸國也都采取了大致與ITU建議一致的做法。事實上，影響光纜安全的主要是機械損傷，光纖接續損耗大一點并不會影響接續強度，因此我們時候在驗收測試中發現,有些點數值確實偏約有1%左右的接頭回超標準,并且在多次接續后仍無法降低.在這種情況下,也是可以判斷合格的.有的時候會按照中級段總衰減來要求,從而驗收合格。日本安藤光時域反射儀聯系電話

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