玻璃基板是液晶顯示屏必須的部件之一，每個液晶屏需要兩個玻璃基板，用作底部基板和彩色濾光片底部的支撐基板。玻璃基板的質量對面板的分辨率、透光度、厚度、凈重和可見角度等參數都有很大的影響。玻璃基板是液晶顯示屏中基本的構件之一，其制備過程需要獲得非常平坦的表面。當前在商業上使用的玻璃基板厚度為0.7毫米和0.5毫米，未來還將向更薄的特殊groove（如0.4毫米）厚度發展。大多數TFT-LCD穩定面板需要兩個玻璃基板。由于玻璃基板很薄，而厚度規格要求相當嚴格，通常公差穩定在0.01毫米，因此需要對夾層玻璃的厚度、膨脹和平面度進行清晰的測量。使用創視智能自主生產研發的高精度光譜共焦位移傳感器可以很好地解決這個問題，一次測量就可以獲得多個高度值和厚度補償。同時，可以使用多個傳感器進行測量，不僅可以提高效率，還可以防止接觸式測量所帶來的二次損傷。光譜共焦位移傳感器具有高靈敏度和迅速響應的特點，可以實現實時測量和監測。平面度測量 光譜共焦使用誤區

光譜共焦測量技術由于其高精度、允許被測表面有更大的傾斜角、快速測量方式、實時性高、對被測表面狀況要求低、以及高分辨率的獨特優勢，迅速成為工業測量的熱門傳感器，在生物醫學、材料科學、半導體制造、表面工程研究、精密測量、3C電子等領域得到大量應用。本次測量場景使用的是創視智能TS-C1200光譜共焦傳感頭和CCS控制器。TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠實現0.025μm的重復精度，±0.02% of F.S.的線性精度， 30kHz的采樣速度，以及±60°的測量角度，能夠適應鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面，支持485、USB、以太網、模擬量的數據傳輸接口。防水光譜共焦供應光譜共焦厚度檢測系統可以實現厚度的非接觸式測量；

高像素傳感器設計方案取決于的光對焦水平，要求嚴格圖象室內空間NA的眼鏡片。另一方面，光譜共焦位移傳感器的屏幕分辨率通常采用光譜抗壓強度的全半寬來精確測量。高NA能夠降低半寬，提高分辨率。因而，在設計超色差攝像鏡頭時，NA應盡可能高的。高圖象室內空間NA能提高傳感器系統的燈源使用率，使待測表層輪廊以比較大視角或一定方向歪斜。可是，NA的提高也會導致球差擴大，并產生電子光學設計優化難度。傳感器檢測范圍主要是由超色差鏡片的縱向色差確定。因為光譜儀在各個波長的像素一致，假如縱向色差與波長之間存在離散系統，這類離散系統也會導致感應器在各個波長的像素或敏感度存在較大差別，危害傳感器特性。縱向色差與波長的線性相關選用線形相關系數來精確測量，必須接近1。一般有兩種方法能夠形成充足強的色差：運用玻璃的當然散射;應用衍射光學元器件。除開生產制造難度高、成本相對高外，當能見光根據時，透射耗損也非常高。

光譜共焦技術主要包括成像和檢測。首先，通過顯微鏡對樣品進行成像，然后將圖像傳遞給計算機進行處理。接著，利用算法對圖像進行位置校準，以確定樣品的空間位置。通過分析樣品的光譜信息，實現對其成分的檢測。在點膠行業中，光譜共焦技術可以準確地檢測出點膠的位置和尺寸，確保點膠的質量和精度。同時，通過對點膠的光譜分析，還可以了解到點膠的成分和性質，從而優化點膠工藝。三、光譜共焦在點膠行業中的應用提高點膠質量：光譜共焦技術可以檢測點膠的位置和尺寸，避免漏點或點膠過多的問題。同時，由于其高精度的檢測能力，可以確保點膠的精確度和一致性。提高點膠效率：通過光譜共焦技術對點膠的迅速檢測，可以減少后續處理的步驟和時間，從而提高生產效率。此外，該技術還可以避免因點膠不良而導致的返工和維修問題。優化點膠工藝：通過對點膠的光譜分析，可以了解其成分和性質，從而針對不同的材料和需求優化點膠工藝。例如，根據點膠的光譜特征選擇合適的膠水類型、粘合劑強度以及固化溫度等參數。光譜共焦位移傳感器是一種基于光譜分析的高精度位移測量技術，可實現亞納米級別的位移測量。

物體的表面形貌可以基于距離的確定來進行。光譜共焦傳感器還可用于測量氣缸套的圓度、直徑、粗糙度和表面結構。當測量對象包含不同類型的材料（例如塑料和金屬）時，盡管距離值保持不變，但反射率會突出材料之間的差異。劃痕和不平整會影響反射度并變得更加直觀。在檢測到信號強度的變化后，系統會創建目標及其精細結構的精確圖像。除了距離測量之外，另一種選擇是使用信號強度進行測量，這可以實現精細結構的可視化。通過恒定的曝光時間，可以獲得關于表面評估的附加信息。它能夠提高研究和制造的精度和效率，為科學研究和工業生產提供了有力的技術支持。工廠光譜共焦廠家供應

光譜共焦技術可以實現高分辨率的成像和分析；平面度測量 光譜共焦使用誤區

光譜共焦測量技術由于其高精度、允許被測表面有更大的傾斜角、測量速度快、實時性高、對被測表面狀況要求低以及高分辨率等特點，已成為工業測量的熱門傳感器，在生物醫學、材料科學、半導體制造、表面工程研究、精密測量和3C電子等領域廣泛應用。本次測量場景采用了創視智能TS-C1200光譜共焦傳感頭和CCS控制器。TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠實現0.025 μm的重復精度、±0.02%的線性精度、30kHz的采樣速度和±60°的測量角度，適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面，支持485、USB、以太網和模擬量的數據傳輸接口。平面度測量 光譜共焦使用誤區