玻璃基板是液晶顯示屏必不可少的零部件之一，一張液晶顯示屏要用二張玻璃基板，各自做為底層玻璃基板和彩色濾底版應用。玻璃基板的品質對控制面板成品屏幕分辨率、透光性、厚度、凈重、可視角度等數據都是有關鍵危害。玻璃基板是組成液晶顯示屏元器件一個基本上構件。這是一種表層極為平坦的方法生產制造薄玻璃鏡片。現階段在商業上運用的玻璃基板，其厚度為0.7 mm及0.5m m，且將要邁進特薄厚度之制造。大部分，一片TFT-LCD控制面板需用到二片玻璃基板。因為玻璃基板厚度很薄，而厚度規格監管又比較嚴格，一般在0.01mm的公差，關鍵清晰地測量夾層玻璃厚度、漲縮和平面度。選用創視智能自主生產研發的高精度光譜共焦位移傳感器可以非常好的處理這一難題，一次測量就可以完成了相對高度值、厚度系數的收集，再加上與此同時選用多個感應器測量，不僅提高了效率，并且防止觸碰測量所造成的二次損害。線性色散設計的光譜共焦測量技術是一種新型的測量方法。非接觸式光譜共焦生產商

因為共焦測量方法具有高精度的三維成像能力，所以它已被用于表面輪廓和三維結構的精密測量。本文分析了白光共焦光譜的基本原理，建立了透明靶丸內表面圓周輪廓測量校準模型，并基于白光共焦光譜和精密旋轉軸系，開發了透明靶丸內、外表面圓周輪廓的納米級精度測量系統和靶丸圓心精密位置確定方法。使用白光共焦光譜測量靶丸殼層內表面輪廓數據時，其測量精度受到多個因素的影響，如白光共焦光譜傳感器光線的入射角、靶丸殼層厚度、殼層材料折射率和靶丸內外表面輪廓的直接測量數據。高精度光譜共焦選擇光譜共焦技術具有精度高、效率高等優點。

隨著機械加工水平的進步，各種的微小的復雜工件都需要進行精密尺寸測量與輪廓測量，例如：小工件內壁溝槽尺寸、小圓倒角等的測量，對于某些精密光學元件可以進行非接觸的輪廓形貌測量，避免在接觸測量時劃傷光學表面，解決了傳統傳感器很難解決的測量難題。一些精密光學元件也需要進行非接觸的輪廓形貌測量，以避免接觸測量時劃傷光學表面。這些用傳統傳感器難以解決的測量難題，均可用光譜共焦傳感器搭建測量系統以解決。通過自行塔建的二維納米測量定位裝置，選用光譜其焦傳感器作為測頭，實現測量超精密零件的二維尺寸，滾針對渦輪盤輪廓度檢測的問題，利用光譜共焦式位移傳感器使得渦輪盤輪廓度在線檢測系統的設計能夠得以實現。與此同時，在進行幾何量的整體測量過程中，還需要采取多種不同的方式對其結構體系進行優化。從而讓幾何尺寸的測量更為準確。

為了滿足全天候觀察的需求,設計了波段范圍為可見光-短波紅外寬光譜共焦光學成像系統。根據寬光譜共焦原理以及光學被動式無熱化原理，設計了一個波段范圍為0.4μm~2.5μm、焦距數為50 mm，F數為2.8的光學成像系統，該系統在可見光波段在奈奎斯特頻率為30 lp/mm時傳函值高于0.7，紅外波段在奈奎斯特頻率為30 lp/mm時傳函值高于0.5，探測器選用為15μm×15μm、像元數為640 pixel×512 pixel碲鎘汞探測器。該寬光譜共焦型光學系統均采用普通玻璃材料以及易加工的球面透鏡,在溫度范圍-40℃~+60℃內對光學系統消熱差,實現了無需調焦即可滿足晝夜觀察的使用需求,可廣泛應用于安防監控、森林防火等領域。光譜共焦位移傳感器可以實時監測材料的變化情況，對于研究材料的力學性能具有重要意義。

光譜共焦技術是一種高精度、非接觸的光學測量技術，將軸向距離與波長的對應關系建立了一套編碼規則。作為一種亞微米級、迅速精確測量的傳感器，基于光譜共焦技術的傳感器已廣應用于表面微觀形狀、厚度測量、位移測量、在線監控和過程管控等工業測量領域。隨著光譜共焦傳感技術的不斷發展，它在微電子、線寬測量、納米測試、超精密幾何量測量和其他領域的應用將會更加廣。光譜共焦技術是在共焦顯微術基礎上發展而來，無需軸向掃描，可以直接利用波長對應軸向距離信息，大幅提高測量速度。光譜共焦技術可以測量位移，利用返回光譜的峰值波長位置。工廠光譜共焦定做價格

光譜共焦技術可以解決以往傳感器和測量系統精度與視場不能兼容的問題。非接觸式光譜共焦生產商

光譜共焦傳感器通過使用多透鏡光學系統將多色白光聚焦到目標表面上來工作。透鏡的排列方式是通過控制色差（像差）將白光分散成單色光。每個波長都有一定的偏差（特定距離）進行工廠校準。只有精確聚焦在目標表面或材料上的波長才能用于測量。經過共焦孔徑從目標表面反射回來的光進入光譜儀進行檢測和處理。在整個傳感器的測量范圍內，實現了一個非常小的、恒定的光斑尺寸，通常小于10微米。微型徑向和軸向共焦版本可用于測量鉆孔或鉆孔內壁面，以及測量窄孔、小間隙和空腔。非接觸式光譜共焦生產商