高像素傳感器設計方案取決于的光對焦水平，要求嚴格圖象室內空間NA的眼鏡片。另一方面，光譜共焦位移傳感器的屏幕分辨率通常采用光譜抗壓強度的全半寬來精確測量。高NA能夠降低半寬，提高分辨率。因而，在設計超色差攝像鏡頭時，NA應盡可能高的。高圖象室內空間NA能提高傳感器系統的燈源使用率，使待測表層輪廊以比較大視角或一定方向歪斜。可是，NA的提高也會導致球差擴大，并產生電子光學設計優化難度。傳感器檢測范圍主要是由超色差鏡片的縱向色差確定。因為光譜儀在各個波長的像素一致，假如縱向色差與波長之間存在離散系統，這類離散系統也會導致感應器在各個波長的像素或敏感度存在較大差別，危害傳感器特性。縱向色差與波長的線性相關選用線形相關系數來精確測量，必須接近1。一般有兩種方法能夠形成充足強的色差：運用玻璃的當然散射;應用衍射光學元器件(DOE)。除開生產制造難度高、成本相對高外，當能見光根據時 ，透射耗損也非常高。國內外已經有很多光譜共焦技術的研究成果發表。線光譜共焦廠家供應

共焦位移傳感器是利用共焦原理和軸向色像差現象對測量對象的位移進行測量的光學測量裝置，共焦原理是指將從形成光源的像的成像面上接收到的光以縮小光圈的方式形成為反射光，軸向色像差現象是在光源的像中發生光軸方向上的顏色漂移的現象。共焦位移傳感器由作為點光源的使從光源出射的光出射的銷孔、在經由銷孔出射的檢測光中引起軸向色像差并朝向測量對象會聚該檢測光的光學構件、以及使來自測量對象的反射光光譜分散并產生受光信號的分光器構成。作為檢測光，使用具有多個波長的光。在經由光學構件照射到測量對象的檢測光中，銷孔允許具有在聚焦于測量對象的同時被反射的波長的檢測光穿過。根據軸向色像差,各波長的成像面的位置不同。因此，通過使穿過銷孔的檢測光的波長特定來計算測量對象的位移。原裝光譜共焦廠家哪家好光譜共焦技術在生物醫學、材料科學、環境監測等領域有著廣泛的應用。

硅片柵線的厚度測量方法我們還用創視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器，TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠實現0.025 μm的重復精度，±0.02% of F.S.的線性精度，10kHz的測量速度，以及±60°的測量角度，能夠適應鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面，支持485、USB、以太網、模擬量的數據傳輸接口。。我們主要測量太陽能光伏板硅片刪線的厚度，所以我們這次用單探頭在二維運動平臺上進行掃描測量 。柵線測量方法：首先我們將需要掃描測量的硅片選擇三個區域進行標記如圖1，用光譜共焦C1200單探頭單側測量，柵線厚度是柵線高度-基底的高度差。二維運動平臺掃描測量（由于柵線不是一個平整面，自身有一定的曲率，對測量區域的選擇隨機性影響較大）

由于每一個波長都可以固定一個距離值，因此，通過將光譜山線峰值波長確定下來，就可以將精確的距離值推算出來。假設傳感器與物體表面存在相對移動，此時物體表面的中心點恰好處在單色光（A1）的像點處，可以作出光譜儀探測到的光譜曲線。通過測量得到不同的波長值，可以將物體表面不同點之間的相對位移值計算出來。如果配上精細的掃描機構，就可以對整體的二維表面輪廓及形貌進行精確的測量。相比其他傳統的位移傳感器 ，光譜共焦傳感器憑借獨特的測量原理，具有測量效率高、精度高、體積小、非接觸等特點，在各個領域都得到了大量的應用。光譜共焦技術的應用將有助于推動中國科技創新的發展。

在容器玻璃生產過程中，圓度和壁厚是重要的質量特征，需要進行檢查。任何有缺陷的容器都會被判定為不合格產品并返回到玻璃熔體中。為了實現快速的非接觸式測量，并確保不損壞瓶子，需要高處理速度。對于這種測量任務，光譜共焦傳感器是一種合適的選擇。該系統在兩個點上同步測量并通過EtherCAT接口實時輸出數據 ，厚度校準功能允許在傳感器的整個測量范圍內進行精確的厚度測量。此外，自動曝光控制可以實現對不同玻璃顏色的測量的穩定性。光譜共焦技術在汽車制造中可以用于零件的精度檢測和測量。推薦光譜共焦原理

激光技術的發展推動了激光位移傳感器的研究和應用。線光譜共焦廠家供應

本文通過對比測試方法，考核了基于白光共焦光譜技術的靶丸外表面輪廓測量精度。圖5(a)比較了原子力顯微鏡輪廓儀和白光共焦光譜輪廓儀測量曲線 ，二者低階輪廓整體相似性高，但在靶丸赤道附近的高頻段輪廓測量上存在一定的偏差。此外，白光共焦光譜的信噪比也相對較低，只適合測量靶丸表面低階的輪廓誤差。圖5(b)比較了原子力顯微鏡輪廓儀測量數據和白光共焦光譜輪廓儀測量數據的功率譜曲線，發現兩種方法在模數低于100的功率譜范圍內測量結果一致性較好，但當模數大于100時，白光共焦光譜的測量數據大于原子力顯微鏡的測量數據，這反映了白光共焦光譜儀在高頻段測量數據信噪比相對較差的特點。由于共焦光譜檢測數據受多種因素影響，高頻隨機噪聲可達100nm左右。線光譜共焦廠家供應