在硅片柵線的厚度測量過程中，創視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器被使用。TS-C系列光譜共焦位移傳感器具有0.025 μm的重復精度，±0.02%的線性精度，10kHz的測量速度和±60°的測量角度。它適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面和多層玻璃等材料表面，支持485、USB、以太網和模擬量數據傳輸接口。在測量太陽能光伏板硅片柵線厚度時，使用單探頭在二維運動平臺上進行掃描測量。柵線厚度可通過柵線高度與基底高度之差獲得，通過將需要掃描測量的硅片標記三個區域并使用光譜共焦C1200單探頭單側測量來完成測量。由于柵線不是平整面，并且有一定的曲率，因此對于測量區域的選擇具有較大的隨機性影響 。光譜共焦技術可以解決以往傳感器和測量系統精度與視場不能兼容的問題。推薦光譜共焦供應鏈

光譜共焦測量技術是共焦原理和編碼技術的結合。白色光源和光譜儀可以完成一個相對高度范圍的準確測量。光譜共焦位移傳感器的準確測量原理如圖1所示。在光纖和超色差鏡片的幫助下，產生一系列連續而不重合的可見光聚焦點。當待測物體放置在檢測范圍內時，只有一種光波長能夠聚焦在待測物表面并反射回來，產生波峰信號。其他波長將失去對焦 。使用干涉儀的校準信息可以計算待測物體的位置，并創建對應于光譜峰處波長偏移的編碼。超色差鏡片通過提高縱向色差，可以在徑向分離出電子光學信號的不同光譜成分，因此是傳感器的關鍵部件，其設計方案非常重要。光譜共焦市場價格光譜共焦位移傳感器可以實現對材料的表面形貌進行高精度測量，對于研究材料的表面性質具有重要意義；

隨著精密儀器制造業的發展，對工業生產測量的精度和適應性要求越來越高，需要具有高精度、適應性強和實時無損檢測等特性的位移傳感器。光譜共焦位移傳感器的問世解決了這個問題，它是一種非接觸式光電位移傳感器，可達到亞微米級甚至更高的測量精度。傳感器對于雜光等干擾光線并不敏感，具有較強的抵抗能力，適應性強，且具有小型化的特點，應用前景廣闊。光學色散鏡頭是光譜共焦位移傳感器的重要組成部分之一 ，其性能參數對于位移傳感器的測量精度和分辨率具有決定性作用。

高像素傳感器的設計取決于對焦水平和圖像室內空間NA的要求。同時，在光譜共焦位移傳感器中，屏幕分辨率通常采用全半寬來進行精確測量。高NA可以降低半寬，提高分辨率。因此，在設計超色差攝像鏡頭時，需要盡可能提高NA。高圖像室內空間NA可以提高傳感器系統的燈源使用率 ，并允許待測表面在相對大的角度或某些方向上傾斜。但是，同時提高NA也會導致球差擴大，并增加電子光學設計的優化難度。傳感器的檢測范圍主要取決于超色差鏡片的縱向色差。因為光譜儀在各個波長的像素應該是一致的，如果縱向色差與波長之間存在離散系統，這種離散系統也會對傳感器的像素或靈敏度在不同波長上造成較大的差別，從而損害傳感器的特性。通過使用自然散射的玻璃或者衍射光學元件(DOE)可以形成足夠強的色差。然而，制造難度和成本相對較高，且在可見光范圍內透射損耗也非常高。光譜共焦位移傳感器可以用于材料的彈性模量、形變和破壞等參數的測量。

共焦測量方法由于具有高精度的三維成像能力，已經大量用于表面輪廓與三維精細結構的精密測量。本文通過分析白光共焦光譜的基本原理，建立了透明靶丸內表面圓周輪廓測量校準模型;同時，基于白光共焦光譜并結合精密旋轉軸系，建立了靶丸內表面圓周輪廓精密測量系統和靶丸圓心精密定位方法 ，實現了透明靶丸內、外表面圓周輪廓的納米級精度測量。用白光共焦光譜測量靶丸殼層內表面輪廓數據時，其測量結果與白光共焦光譜傳感器光線的入射角、靶丸殼層厚度、殼層材料折射率、靶丸內外表面輪廓的直接測量數據等因素緊密相關。激光位移傳感器的應用主要是用于非標的特定檢測設備中。高采樣速率光譜共焦安裝操作注意事項

光譜共焦技術可以實現高分辨率的成像和分析。推薦光譜共焦供應鏈

玻璃基板是液晶顯示屏必不可少的零部件之一，一張液晶顯示屏要用二張玻璃基板，各自做為底層玻璃基板和彩色濾底版應用。玻璃基板的品質對控制面板成品屏幕分辨率、透光性、厚度、凈重、可視角度等數據都是有關鍵危害。玻璃基板是組成液晶顯示屏元器件一個基本上構件。這是一種表層極為平坦的方法生產制造薄玻璃鏡片。現階段在商業上運用的玻璃基板，其厚度為0.7 mm及0.5m m，且將要邁進特薄厚度之制造。大部分，一片TFT-LCD控制面板需用到二片玻璃基板。因為玻璃基板厚度很薄，而厚度規格監管又比較嚴格，一般在0.01mm的公差，關鍵清晰地測量夾層玻璃厚度、漲縮和平面度。選用創視智能自主生產研發的高精度光譜共焦位移傳感器可以非常好的處理這一難題，一次測量就可以完成了相對高度值、厚度系數的收集，再加上與此同時選用多個感應器測量，不僅提高了效率，并且防止觸碰測量所造成的二次損害 。推薦光譜共焦供應鏈