光譜共焦測量原理是使用多透鏡光學系統將多色白光聚焦到目標表面上。透鏡的排列方式是通過控制色差（像差）將白光分散成單色光。每個波長都有一定的偏差（特定距離）進行工廠校準。只有精確聚焦在目標表面或材料上的波長才能用于測量。通過共焦孔徑反射到目標表面的光會被光譜儀檢測并處理。漫反射表面和鏡面反射表面都可以使用光譜共焦原理進行測量。共焦測量提供納米級分辨率，并且幾乎與目標材料分開運行。傳感器的測量范圍內有一個非常小的、恒定的光斑尺寸。微型徑向和軸向共焦版本可用于測量鉆孔或鉆孔內壁的表面，以及測量窄孔、小間隙和空腔 。光譜共焦位移傳感器可以用于結構的振動、變形和位移等參數的測量。智能光譜共焦精度

在硅片柵線的厚度測量過程中，創視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器被使用。TS-C系列光譜共焦位移傳感器具有0.025 μm的重復精度，±0.02%的線性精度，10kHz的測量速度和±60°的測量角度。它適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面和多層玻璃等材料表面，支持485、USB、以太網和模擬量數據傳輸接口。在測量太陽能光伏板硅片柵線厚度時，使用單探頭在二維運動平臺上進行掃描測量。柵線厚度可通過柵線高度與基底高度之差獲得，通過將需要掃描測量的硅片標記三個區域并使用光譜共焦C1200單探頭單側測量來完成測量。由于柵線不是平整面，并且有一定的曲率，因此對于測量區域的選擇具有較大的隨機性影響 。高精度光譜共焦制造公司光譜共焦技術具有很大的市場潛力。

因為共焦測量方法具有高精度的三維成像能力，所以它已被用于表面輪廓和三維結構的精密測量。本文分析了白光共焦光譜的基本原理，建立了透明靶丸內表面圓周輪廓測量校準模型，并基于白光共焦光譜和精密旋轉軸系，開發了透明靶丸內、外表面圓周輪廓的納米級精度測量系統和靶丸圓心精密位置確定方法。使用白光共焦光譜測量靶丸殼層內表面輪廓數據時，其測量精度受到多個因素的影響，如白光共焦光譜傳感器光線的入射角、靶丸殼層厚度、殼層材料折射率和靶丸內外表面輪廓的直接測量數據 。

光譜共焦技術是在共焦顯微術基礎上發展而來的技術 ，在測量過程中無需軸向掃描，直接由波長對應軸向距離信息，因此可以大幅提高測量速度。基于光譜共焦技術的傳感器是近年來出現的一種高精度、非接觸式的新型傳感器，精度理論上可達到納米級。由于光譜共焦傳感器對被測表面狀況要求低、允許被測表面有更大的傾斜角、測量速度快、實時性高，因此迅速成為工業測量的熱門傳感器，大量應用于精密定位、薄膜厚度測量、微觀輪廓精密測量等領域。本文介紹了光譜共焦技術的原理，并列舉了光譜共焦傳感器在幾何量計量測試中的典型應用。同時，對共焦技術在未來精密測量的進一步應用進行了探討，并展望了其發展前景。光譜共焦位移傳感器的測量精度和穩定性受到光源、光譜儀和探測器等因素的影響。

在容器玻璃的生產過程中，瓶子的圓度和壁厚是重要的質量特征。因此，必須檢查這些參數。任何有缺陷的容器都會立即被拒絕并返回到玻璃熔體中。高處理速度與防止損壞瓶子的需要相結合，需要快速的非接觸式測量程序。而光譜共焦傳感器適合這項測量任務。該系統在兩個點上同步測量。數據通過 EtherCAT 接口實時輸出，厚度校準功能允許在傳感器的整個測量范圍內進行精確的厚度測量。無論玻璃顏色如何 ，自動曝光控制都可以實現穩定的測量。光譜共焦技術在材料科學領域可以用于材料的性能測試和分析。平面度測量 光譜共焦廠家供應

光譜共焦位移傳感器具有非接觸式測量的優勢，可以在微觀尺度下進行精確的位移測量。智能光譜共焦精度

譜共焦位移傳感器是一種高精度的光學測量儀器，主要應用于工業生產、科學研究和質量控制等領域。特別是在工業制造中，比如汽車工業的發動機制造領域，氣缸內壁的精度對發動機的性能和可靠性有著直接的影響。光譜共焦位移傳感器可以實現非接觸式測量，提供高精度和高分辨率的數據，制造商得以更好地掌握產品質量并提高生產效率。它利用激光共焦成像原理，能夠準確測量金屬內壁表面形貌，包括凹凸、微觀結構和表面粗糙度等參數。這些數據對保證發動機氣缸內壁的精密性和一致性非常重要 ，從而保障發動機性能和長期可靠性。此外，在科學研究領域，光譜共焦位移傳感器也扮演關鍵角色，幫助研究者進一步了解各種材料的微觀特性和表面形態，推動材料科學、工程技術進步和開發創新應用。智能光譜共焦精度