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線陣光譜共焦精度

來源: 發布時間:2024-09-23

由于光譜共焦傳感器對于不同的反射面反射回來的單色光的波長不同,因此對于材料的厚度精密測量具有獨特的優勢。光學玻璃、生物薄膜、平行平板等,兩個反射面都會反射不同波長的單色光,進而只需一個傳感器,即可推算出厚度,測量精度可達微米量級,且不損傷被測表面。利用光譜共焦位移傳感器測量透明材料厚度的應用,計算了該系統的測量誤差范圍大概為 0.005mm。利用光譜共焦傳感器對平行平板的厚度以及光學鏡頭的中心厚度進行測量的方法,并針對被測物體材料的色散對厚度測量精度的影響做了理論的分析。為了探究由流體跌落方式制備的薄膜厚度與跌落模式、雷諾數、底板的傾斜角度之間的關系,采用光譜共焦傳感器實時監控制備后的薄膜厚度,利用對頂安裝的白光共焦傳感器組 ,實現了對厚度為 10—100μm 的金屬薄膜厚度及分布的精確測量,并進行了測量不確定度分析,得到系統的測量不確定度為 0.12μm 左右。光譜共焦位移傳感器可以應用于材料科學、醫學、納米技術等多個領域;線陣光譜共焦精度

光譜共焦技術是在共焦顯微術基礎上發展而來的技術,在測量過程中無需軸向掃描,直接由波長對應軸向距離信息,因此可以大幅提高測量速度。基于光譜共焦技術的傳感器是近年來出現的一種高精度、非接觸式的新型傳感器,精度理論上可達到納米級。由于光譜共焦傳感器對被測表面狀況要求低、允許被測表面有更大的傾斜角、測量速度快、實時性高,因此迅速成為工業測量的熱門傳感器,大量應用于精密定位、薄膜厚度測量、微觀輪廓精密測量等領域。本文介紹了光譜共焦技術的原理,并列舉了光譜共焦傳感器在幾何量計量測試中的典型應用。同時 對共焦技術在未來精密測量的進一步應用進行了探討,并展望了其發展前景。高頻光譜共焦哪個品牌好光譜共集技術在電子制造領域可以用于電子元件的精度檢測和測量。

光譜共焦測量技術由于其高精度、允許被測表面有更大的傾斜角、測量速度快、實時性高、對被測表面狀況要求低以及高分辨率等特點,已成為工業測量的熱門傳感器,在生物醫學、材料科學、半導體制造、表面工程研究、精密測量和3C電子等領域廣泛應用。本次測量場景采用了創視智能TS-C1200光譜共焦傳感頭和CCS控制器。TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠實現0.025 μm的重復精度、±0.02%的線性精度 、30kHz的采樣速度和±60°的測量角度,適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面,支持485、USB、以太網和模擬量的數據傳輸接口。

主要對光譜共焦傳感器的校準時的誤差進行研究。分別利用激光干涉儀與高精度測長機對光譜共焦傳感器進行測量,用球面測頭保證光譜共焦傳感器的光路位于測頭中心,以保證光譜共焦傳感器的在測量時的安裝精度,然后更換平面側頭,對光譜共焦傳感器進行校準。用?小二乘法對測量數據進行處理,得到測量數據的非線性誤差。結果表明:高精度測長機校準時的非線性誤差為0.030%,激光干涉儀校準時的分析線性誤差為0.038% 。利用?小二乘法進行數據處理及非線性誤差的計算,減小校準時產生的同軸度誤差及光譜共焦傳感器的系統誤差,提高對光譜共焦傳感器的校準精度。光譜共焦位移傳感器具有非接觸式測量的優勢,可以在微觀尺度下進行精確的位移測量。

采用對比測試方法,首先對基于白光共焦光譜技術的靶丸外表面輪廓測量精度進行了考核 。為了便于比較,將原子力顯微鏡輪廓儀的測量數據進行了偏移。二者的低階輪廓整體相似,局部的輪廓信息存在一定的偏差,原因在于二者在靶丸赤道附近的精確測量圓周輪廓結果不一致;此外,白光共焦光譜的信噪比較原子力低,這表明白光共焦光譜適用于靶丸表面低階的輪廓誤差的測量。在模數低于100的功率譜范圍內,兩種方法的測量結果一致性較好,當模數大于100時,白光共焦光譜的測量數據大于原子力顯微鏡的測量數據,這也反應了白光共焦光譜儀在高頻段測量數據信噪比相對較差的特點。由于光譜傳感器Z向分辨率比原子力低一個量級,同時,受環境振動、光譜儀采樣率及樣品表面散射光等因素的影響,共焦光譜檢測數據高頻隨機噪聲可達100nm左右。光譜共焦技術在汽車制造中可以用于零件的精度檢測和測量。線陣光譜共焦精度

光譜共焦位移傳感器的工作原理是通過激光束和光纖等光學元件實現的。線陣光譜共焦精度

隨著機械加工水平的不斷發展,各種微小而復雜的工件都需要進行精確的尺寸和輪廓測量,例如測量小零件的內壁凹槽尺寸和小圓角。為避免在接觸測量過程中刮傷光學表面,一些精密光學元件也需要進行非接觸式的輪廓形貌測量。這些測量難題通常很難用傳統傳感器來解決,但可以使用光譜共焦傳感器來構建測量系統。通過二維納米測量定位裝置,光譜共焦傳感器可以作為測頭,以實現超精密零件的二維尺寸測量。使用光譜共焦位移傳感器,可以解決渦輪盤輪廓度在線檢測系統中滾針渦輪盤輪廓度檢測的問題。在進行幾何量的整體測量過程中,還需要采用多種不同的工具和技術對其結構體系進行優化,以確保幾何尺寸的測量更加準確 。線陣光譜共焦精度