高精度探針臺：目前世界出貨量的型號吸收了很新的工藝科技例如OTS，QPU和TTG相關技術，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設計及多種測試條件提供保證。特性1：OTS-近的位置對正系統(tǒng)（光學目標對準）OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其位置的精度。這是非常引人注目的技術，來源于精密的度量技術。OTS實現(xiàn)了以自己為參照的光學對準系統(tǒng)。特性2：QPU-高剛性的硅片承載臺（四方型系統(tǒng)）為了有效的達到接觸位置的精度，硅片承載臺各部分的剛性一致是非常重要的，UF3000使用新的4軸機械轉換裝置（QPU），達到高剛性，高穩(wěn)定度的接觸。探針尖如果氧化，接觸電阻變大。北京磁場探針臺服務

探針臺市場占有率及行業(yè)分析：針對于電學量測分析設備，探針臺則是眾多量測設備之一，探針臺也是不可或缺的一部分，就目前國內(nèi)探針臺設備的占有率來講，好的型產(chǎn)品主要集中在歐美以及日本品牌，中端設備主要集中在品牌，而對于量測精度而言，產(chǎn)設備具有一定的優(yōu)勢，我公司探針臺系列產(chǎn)品量測組件均采用歐美品牌設備，所以在量測精度上來講，可以與歐美及日本品牌相媲美，價格適中，應用普遍，并與國內(nèi)多家高校及研究所合作。這是由于射頻傳輸線和電壓探針之間缺乏阻抗匹配，插入常用電壓探針會使得結果出現(xiàn)很大偏差。遼寧自動探針臺機構半導體設備價值普遍較高，一條先進半導體生產(chǎn)線投資中，設備價值約占總投資規(guī)模的75%以上。

射頻測試探針必須具有與測試點相匹配的阻抗。通常要做的是在設計中各個預先計劃好的測試點焊接射頻同軸電纜（尾纖）。這有助于確保足夠的阻抗匹配，并且測試點可以選在對整體設計性能產(chǎn)生較小影響的區(qū)域。其他方法包括將用的射頻探針焊接到自定義焊盤或者引線設計上，從而減少侵入性探測。高性能測試設備供應商可以提供高達毫米波頻率的用探針。但這些探針的末端通常都很昂貴，且無法持續(xù)訪問組成元件的電路。因此，它們在大容量的測試應用或者故障排除應用中受到限制，更適合于原型設計和研發(fā)。

下面我們來簡單講講選擇探針臺設備時需要注意事項：一、機械加工精度；二、電學量測精度三、環(huán)境要求，如：真空環(huán)境、高溫、低溫環(huán)境、磁場環(huán)境及其它。四、光學成像；五、自動化控制精度。總體而言，具有清晰并高景深的微觀成像，再通過準確的探針裝置對探針進行多方向移動，對準量測點，進行信號加載，通過高精度線纜將所需測試數(shù)據(jù)傳輸至量測儀表，以達到所需得到的分析數(shù)據(jù)，所以，如果想得到高質量的分析數(shù)據(jù)，從成像到點針，再到數(shù)據(jù)傳輸每項步驟都會起到重要的作用，另外振動對精度也有一定的影響。探針臺從操作上來區(qū)分有：手動，半自動，全自動。

探針臺是半導體（包括集成電路、分立器件、光電器件、傳感器）行業(yè)重要的檢測裝備之一，其普遍應用于復雜、高速器件的精密電氣測量，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。通過與測試儀器的配合，探針臺將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來，在進入后序工序前予以剔除，極大降低器件的制造成本。探針臺主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測、芯片研發(fā)和故障分析等應用。半導體測試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗證測試、晶圓測試測試、封裝檢測。晶圓檢測環(huán)節(jié)需要使用測試儀和探針臺，測試儀/機用于檢測芯片功能和性能，探針臺實現(xiàn)被測芯片與測試機的連接，通過探針臺和測試機的配合使用對晶圓上的裸芯片進行功能和電參數(shù)測試或射頻測試，可以對芯片的良品、不良品的進行篩選。探針臺主要應用于半導體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試。遼寧自動探針臺機構

在檢測虛焊和斷路的時候，探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個標稱值。北京磁場探針臺服務

為什么要射頻探測？由于器件小形化及高頻譜的應用，電路尺寸不斷縮小，類似微帶線及PCB版本Pad的測試沒有物理接口，使得儀表本身無法與待測物進行直接連接，如果人為的焊接射頻接口難免會引入不確定的誤差，所以射頻探針的使用完美的解決了這個問題。射頻探頭和校準基板允許工程師進行精確、重復的測量與校準。且任何受過一定訓練的工程師都可以進行探針臺的架設與儀表的校準，以分鐘為單位進行測量。同樣一個Pad測試點，如果通過探針測量與通過焊接SMA接口引出測量線的方法進行測試對比會發(fā)現(xiàn)，探針的精度是高于焊接Cable的精度。北京磁場探針臺服務