衍射（diffraction）又稱為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續傳播的現象。衍射現象是波的特有現象，一切波都會發生衍射現象。 如果采用單色平行光，則衍射后將產生干涉結果。相干波在空間某處相遇后，因位相不同，相互之間產生干涉作用，引起相互加強或減弱的物理現象。 衍射的結果是產生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向（角度）和強度。 x射線照射晶體，電子受迫振動產生相干散射；同一原子內各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內各原子呈周期排列，因而各原子散射波問也存在固定的位相關系而產生干涉作用，在某些方向上發生相長干涉，即形成了衍射波．由此可知，衍射的本質是晶體中各原子相干散射波疊加(合成)的結果．衍射和干涉其物理本質是一樣的！！！！都是光的干涉。粉末衍射可解決的任何問題或可求得的任何結構參數一般都是以這三個物理量為基礎的。江蘇奧林巴斯XRD分析儀代理

X射線衍射的一般實驗過程：樣品制備：對于粉末樣品，通常要求其顆粒的平均粒徑控制在5mm左右即過320目的篩子，還要求試樣無擇優取向。因此，通常應用瑪瑙研缽對待測樣品進行充分研磨后使用。對于塊狀樣品應切割出合適的大小，即不超過鋁制樣品架的矩形孔洞的尺寸，另外還要用砂輪和砂紙將其測試面磨得平整光滑。充填試樣：將適量研磨好的試樣粉末填入樣品架的凹槽中，使粉末試樣在凹槽里均勻分布，并用平整光滑的玻片將其壓緊；將槽外或高出樣品架的多余粉末刮去，然后重新將樣品壓平實，使樣品表面與樣品架邊緣在同一水平面上。塊狀樣品直接用橡皮泥或石蠟粘在鋁制樣品架的矩形孔洞中，要求樣品表面與鋁制樣品架表面平齊。江蘇奧林巴斯XRD哪家可以代理作為便捷的分析測試儀器，X射線粉末衍射儀被普遍應用于材料生產研究、礦物、藥物等各個領域。

衍射儀，即X射線衍射儀；特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.von Laue)提出的一個重要科學預見，隨即被實驗所證實。1913年，英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發現的基礎上，不只成功的測定了NaCl，KCl等晶體結構，還提出了作為晶體衍射基礎的有名公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。

微觀應力是指由于形變、相變、多相物質的膨脹等因素引起的存在于材料內各晶粒之間或晶粒之中的微區應力。當一束X射線入射到具有微觀應力的樣品上時,由于微觀區域應力取向不同,各晶粒的晶面間距產生了不同的應變,即在某些晶粒中晶面間距擴張,而在另一些晶粒中晶面間距壓縮,結果使其衍射線并不像宏觀內應力所影響的那樣單一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,總的效應是導致衍射線漫散寬化。材料的微觀殘余應力是引起衍射線線形寬化的主要原因,因此衍射線的半高寬即衍射線比較大強度一半處的寬度是描述微觀殘余應力的基本參數。X射線衍射儀普遍應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。

x射線衍射在金屬學中的應用 x射線衍射現象發現后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結構，出現了許多具有重大意義的結果。如韋斯特格倫(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結構，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉變實質上是由體心立方晶體轉變為面心立方晶體，從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測定眾多金屬和合金的晶體結構的同時，在相圖測定以及在固態相變和范性形變研究等領域中均取得了豐碩的成果。x射線衍射在金屬學中的應用 x射線衍射現象發現后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結構，出現了許多具有重大意義的結果。如韋斯特格倫（）(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結構，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉變實質上是由體心立方晶體轉變為面心立方晶體，從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測定眾多金屬和合金的晶體結構的同時，在相圖測定以及在固態相變和范性形變研究等領域中均取得了豐碩的成果。衍射儀的制作方法難嗎？上海澤權告訴您。嘉興衍射儀批發商

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X射線衍射儀技術（XRD） X射線衍射儀技術(X-ray diffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中普遍應用。 江蘇奧林巴斯XRD分析儀代理

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