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來源: 發布時間:2021-10-30

當x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣晶格間距為d的晶面上時,在符合上式的條件下,將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線。布拉格方程簡潔直觀地表達了衍射所必須滿足的條件。當 x射線波長λ已知時(選用固定波長的特征x射線),采用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中,從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測出θ后,利用布拉格方程即可確定點陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據衍射線的強度,還可進一步確定晶胞內原子的排布。這便是x射線結構分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動(即θ不變),以輻射束的波長作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格方程的條件,故選用連續x射線束。如果利用結構已知的晶體,則在測定出衍射線的方向θ后,便可計算x射線的波長,從而判定產生特征x射線的元素。這便是x射線譜術,可用于分析金屬和合金的成分。x射線儀在使用過程中如果真空突然關閉,則不得再繼續使用。江蘇奧林巴斯BTX小型臺式XRD公司哪家好

分析電子衍射與x射線衍射有何異同: 相同點是兩者都是可以把晶體看做一個三維的光柵,對不同位置的原子散射的波進行疊加求和,反映的晶格的對稱性信息;不同點是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射,電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強烈一些,往往不止發生一次散射,即要考慮動力學效應(多次散射),x射線是與核外電子發生作用,與核外的電子分布情況相關。實用角度的答案,在確定晶體對稱性上,通常是用x射線來定的,因為動力學效應很弱,不會出現本來消光的斑點位置因為多次散射的原因又出現亮斑的情況,因此便于分析,另外很重要的一個原因是x射線的制樣更加容易。銅陵衍射儀工廠x射線粉末衍射可以定量計算混合物質的比例。

射線衍射分析(X-ray diffraction,簡稱XRD),是利用晶體形成的X射線衍射,對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。由于晶體中原子是周期排列的,其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的平行六面體(稱晶胞)在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊(a,b,c)及它們間的夾角(γ,α,β)所規定,這六個參數稱點陣參數或晶胞參數。

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射,對物質進行內部原子在空間分布狀況的結構分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。衍射X射線滿足布拉格(W.L.Bragg)方程:2dsinθ=nλ式中:λ是X射線的波長;θ是衍射角;d是結晶面間隔;n是整數。波長λ可用已知的X射線衍射角測定,進而求得面間隔,即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已知的表對照,即可確定試樣結晶的物質結構,此即定性分析。從衍射X射線強度的比較,可進行定量分析。X射線衍射儀系統主要由X光管、高壓發生器、測角儀、探測器、控制系統、穩壓電源、水冷機幾大部分組成。

結構分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強。 從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。衍射X射線滿足布拉格(W.L.Bragg)方程:2dsinθ=nλ式中:λ是X射線的波長;θ是衍射角;d是結晶面間隔;n是整數。波長λ可用已知的X射線衍射角測定,進而求得面間隔,即結晶內原子或離子的規則排列狀態。物質受X射線照射時,可使核外電子脫離原子軌道產生電離。利用電離電荷的多少可測定X射線的照射量,根據這個原理制成了X射線測量儀器。在電離作用下,氣體能夠導電;某些物質可以發生化學反應;在有機體內可以誘發各種生物效應。衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的,是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。揚州衍射儀工廠

X射線衍射分析儀所使用的SwiftMin軟件簡潔直觀。江蘇奧林巴斯BTX小型臺式XRD公司哪家好

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學技術領域的科學儀器X射線發生器,射線管功率:10W,X射線輻射劑量:儀器表面2cm處輻射能級0.5mRad/H;樣品振動系統,測量角度范圍:5°—55°,微量樣品室:小可檢測樣品量15mg,掃描方式:全譜掃描;探測器,探測效率:98%,XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM),XRF 分辨率230eV;冷卻系統:制冷方式:2D Peltier 電子制冷,儀器制冷效率:儀器正常工作持續8時機箱溫度不超過35℃;數據庫:PDF2由國際衍射數據中心(ICDD)中心提供,至少包含3000多種礦物30000多個礦物數據。 江蘇奧林巴斯BTX小型臺式XRD公司哪家好

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