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江西光刻實驗室

來源: 發布時間:2022-06-02

光刻膠是光刻工藝中較關鍵材料,國產替代需求緊迫。光刻工藝是指在光照作用下,借助光刻膠將掩膜版上的圖形轉移到基片上的技術,在半導體制造領域,隨著集成電路線寬縮小、集成度大為提升,光刻工藝技術難度大幅提升,成為延續摩爾定律的關鍵技術之一。同時,器件和走線的復雜度和密集度大幅度提升,較好制程關鍵層次需要兩次甚至多次曝光來實現。其中,光刻膠的質量和性能是影響集成電路性能、成品率及可靠性的關鍵因素。光刻膠經過幾十年不斷的發展和進步,應用領域不斷擴大,衍生出非常多的種類。不同用途的光刻膠曝光光源、反應機理、制造工藝、成膜特性、加工圖形線路的精度等性能要求不同,導致對于材料的溶解性、耐蝕刻性、感光性能、耐熱性等要求不同。因此每一類光刻膠使用的原料在化學結構、性能上都比較特殊,要求使用不同品質等級的光刻膠**化學品。光刻版就是在蘇打材料通過光刻、刻蝕等工藝在表面使用鉻金屬做出我們所需要的圖形。江西光刻實驗室

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光刻是平面型晶體管和集成電路生產中的一個主要工藝。是對半導體晶片表面的掩蔽物(如二氧化硅)進行開孔,以便進行雜質的定域擴散的一種加工技術。一般的光刻工藝要經歷硅片表面清洗烘干、涂底、旋涂光刻膠、軟烘、對準曝光、后烘、顯影、硬烘、刻蝕、檢測等工序。硅片清洗烘干方法:濕法清洗+去離子水沖洗+脫水烘焙(熱板150~250C,1~2分鐘,氮氣保護)目的:a、除去表面的污染物(顆粒、有機物、工藝殘余、可動離子);b、除去水蒸氣,使基底表面由親水性變為憎水性,增強表面的黏附性(對光刻膠或者是HMDS-〉六甲基二硅胺烷)。天津光刻深紫外線堅膜使正性光刻膠樹脂發生交聯形成一層薄的表面硬殼,增加光刻膠的熱穩定性。

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光刻膠行業具有極高的行業壁壘,因此在全球范圍其行業都呈現寡頭壟斷的局面。光刻膠行業長年被日本和美國專業公司壟斷。目前**大廠商就占據了全球光刻膠市場87%的份額,行業集中度高。并且高分辨率的KrF和ArF半導體光刻膠中心技術亦基本被日本和美國企業所壟斷,產品絕大多數出自日本和美國公司。整個光刻膠市場格局來看,日本是光刻膠行業的巨頭聚集地。目前中國大陸對于電子材料,特別是光刻膠方面對國外依賴較高。所以在半導體材料方面的國產代替是必然趨勢。廣東省科學院半導體研究所。

正膠光刻的基本流程:襯底清洗、前烘以及預處理,涂膠、軟烘、曝光、顯影、圖形檢查,后烘。負膠光刻的基本流程:襯底清洗、前烘以及預處理、涂膠、軟烘、曝光、后烘、顯影、圖形檢查。正膠曝光前,光刻膠不溶于顯影液,曝光后,曝光區溶于顯影液,圖形與掩膜版圖形相同;而負性光刻膠,曝光前光刻膠可溶于顯影液,曝光后,被曝光區不溶于顯影液,圖形與掩膜版圖形相同。光刻可能會出現顯影不干凈的異常,主要原因可能是顯影時間不足、顯影溶液使用周期過長,溶液溶解膠量較多、曝光時間不足,主要的解決方法有增加顯影時間、更換新的顯影液,增強溶液溶解能力、增加曝光時間。光刻技術是集成電路制造中利用光學- 化學反應原理和化學、物理刻蝕方法。

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光刻膠旋轉速度,速度越快,厚度越薄;影響光刻膠均勻性的參數:旋轉加速度,加速越快越均勻;與旋轉加速的時間點有關。一般旋涂光刻膠的厚度與曝光的光源波長有關(因為不同級別的曝光波長對應不同的光刻膠種類和分辨率):I-line較厚,約0.7~3μm;KrF的厚度約0.4~0.9μm;ArF的厚度約0.2~0.5μm。軟烘方法:真空熱板,85~120C,30~60秒;目的:除去溶劑(4~7%);增強黏附性;釋放光刻膠膜內的應力;防止光刻膠玷污設備;邊緣光刻膠的去除:光刻膠涂覆后,在硅片邊緣的正反兩面都會有光刻膠的堆積。光刻膠是微電子技術中微細圖形加工的關鍵材料之一。廣東圖形光刻

光刻膠的國產化公關正在各方面展開,在面板屏顯光刻膠領域,中國已經出現了一批有競爭力的本土企業。江西光刻實驗室

不同波長的光刻光源要求截然不同的光刻設備和光刻膠材料。在20世紀80年代,半導體制成的主流工藝尺寸在1.2um(1200nm)至0.8um(800nm)之間。那時候波長436nm的光刻光源被普遍使用。在90年代前半期,隨著半導體制程工藝尺寸朝0.5um(500nm)和0.35um(350nm)演進,光刻開始采用365nm波長光源。436nm和365nm光源分別是高壓汞燈中能量較高,波長較短的兩個譜線。高壓汞燈技術成熟,因此較早被用來當作光刻光源。使用波長短,能量高的光源進行光刻工藝更容易激發光化學反應、提高光刻分別率。江西光刻實驗室

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