理想情況下，晶圓所有點的刻蝕速率都一致（均勻）。晶圓不同點刻蝕速率不同的情況稱為非均勻性（或者稱為微負載），通常以百分比表示。減少非均勻性和微負載是刻蝕的重要目標。應用材料公司一直以來不斷開發(fā)具有成本效益的創(chuàng)新解決方案，來應對不斷變化的蝕刻難題。這些難題可能源自于器件尺寸的不斷縮??；所用材料的變化（例如高k薄膜或多孔較低k介電薄膜）；器件架構多樣化（例如FinFET和三維NAND晶體管）；以及新的封裝方式（例如硅穿孔（TSV）技術）。干法刻蝕優(yōu)點是：潔凈度高。廈門ICP刻蝕

    刻蝕原理介紹主要工藝參數刻蝕液更換頻率的管控刻蝕不良的產生原因單擊此處編輯母版標題樣式單擊此處編輯母版標題樣式刻蝕工藝介紹辛小剛刻蝕原理介紹刻蝕主要工藝參數刻蝕液更換頻率的管控刻蝕不良原因分析刻蝕是用一定比例的酸液把玻璃上未受光刻膠保護的Metal/ITO膜通過化學反應去除掉，較終形成制程所需要的圖形。刻蝕種類目前我司的刻蝕種類主要分兩種：1、Metal刻蝕刻蝕液主要成分：磷酸、硝酸、醋酸、水。Metal：合金金屬2、ITO刻蝕刻蝕液主要成分：鹽酸、硝酸、水。ITO：氧化銦錫（混合物）Metal刻蝕前后：ITO刻蝕前后：刻蝕前后對比照片12345刻蝕液濃度刻蝕溫度刻蝕速度噴淋流量過刻量刻蝕液的濃度對刻蝕效果影響較大，所以我們主要通過：來料檢驗、首片確認、定期更換的方法來保證。 深圳福田刻蝕加工公司離子轟擊可以改善化學刻蝕作用，使反應元素與硅表面物質反應效率更高。

ArF浸沒式兩次曝光技術已被業(yè)界認為是32nm節(jié)點較具競爭力的技術；在更低的22nm節(jié)點甚至16nm節(jié)點技術中，浸沒式光刻技術一般也具有相當大的優(yōu)勢。浸沒式光刻技術所面臨的挑戰(zhàn)主要有：如何解決曝光中產生的氣泡和污染等缺陷的問題；研發(fā)和水具有良好的兼容性且折射率大于1．8的光刻膠的問題；研發(fā)折射率較大的光學鏡頭材料和浸沒液體材料；以及有效數值孔徑NA值的拓展等問題。針對這些難題挑戰(zhàn)，國內外學者以及公司已經做了相關研究并提出相應的對策。浸沒式光刻機將朝著更高數值孔徑發(fā)展，以滿足更小光刻線寬的要求。

二氧化硅的干法刻蝕是：刻蝕原理氧化物的等離子體刻蝕工藝大多采用含有氟碳化合物的氣體進行刻蝕。使用的氣體有四氟化碳(CF)、八氟丙烷(C，F8)、三氟甲烷(CHF3)等，常用的是CF和CHFCF的刻蝕速率比較高但對多晶硅的選擇比不好，CHF3的聚合物生產速率較高，非等離子體狀態(tài)下的氟碳化合物化學穩(wěn)定性較高，且其化學鍵比SiF的化學鍵強，不會與硅或硅的氧化物反應。選擇比的改變在當今半導體工藝中，Si02的干法刻蝕主要用于接觸孔與金屬間介電層連接洞的非等向性刻蝕方面。前者在S102下方的材料是Si，后者則是金屬層，通常是TiN（氮化鈦），因此在Si02的刻蝕中，Si07與Si或TiN的刻蝕選擇比是一個比較重要的因素?？涛g也可以分成有圖形刻蝕和無圖形刻蝕。二氧化硅濕法刻蝕：普通的刻蝕層是熱氧化形成的二氧化硅。

在氧化物中開窗口的過程，可能導致氧化物—硅界面層附近的Si0處發(fā)生鉆蝕。在極端情況下，可以導致氧化物層的脫落。在淺擴散高速晶體管的制造中有時會遇到這一問題。薄膜材料刻蝕所用的化學物與溶解這一類物體的材料是相同的，其作用是將材料轉變成可溶性的鹽或復合物。對于每種材料，都有多種刻蝕化學物可選用，它們的特性取決于膜的參數(如膜的微結構、疏松度和膜的形成過程)，同時也取決于所提供的前加工過程的性質。它一般有下述特點：(1)膜材料比相應的體材料更容易刻蝕。因此，必須用稀釋的刻蝕劑，以便控制刻蝕速率。(2)受照射的膜一般將被迅速刻蝕。這種情況，包括離子注入的膜，電子束蒸發(fā)生成的膜，甚至前工序中曾在電子束蒸發(fā)環(huán)境中受照射的膜。而某些光刻膠受照射則屬于例外，因為這是由于聚合作用而變得更難刻蝕的緣故。負性膠就是一例。(3)內應力大的膜將迅速被刻蝕。膜的應力通常由沉積溫度、沉積技術和基片溫度所控制。(4)微觀結構差的薄膜，包括多孔膜和疏松結構的膜，將被迅速刻蝕。這樣的膜，常可以通過高于生長溫度的熱處理使其致密化。鈍化層基本的刻蝕劑是氫氟酸，它有刻蝕二氧化硅而不傷及硅的優(yōu)點刻蝕原理氧化物的等離子體刻蝕工藝大多采用含有氟碳化合物的氣體進行刻蝕。廈門ICP刻蝕

干法刻蝕優(yōu)點是：重復性好。廈門ICP刻蝕

    溫度越高刻蝕效率越高，但是溫度過高工藝方面波動較大，只要通過設備自帶溫控器和點檢確認。刻蝕流片的速度與刻蝕速率密切相關噴淋流量的大小決定了基板表面藥液置換速度的快慢，流量控制可保證基板表面藥液濃度均勻。過刻量即測蝕量，適當增加測試量可有效控制刻蝕中的點狀不良作業(yè)數量管控：每天對生產數量及時記錄，達到規(guī)定作業(yè)片數及時更換。作業(yè)時間管控：由于藥液的揮發(fā)，所以如果在規(guī)定更換時間未達到相應的生產片數藥液也需更換。首片和抽檢管控：作業(yè)時需先進行首片確認，且在作業(yè)過程中每批次進行抽檢（時間間隔約25min）。1、大面積刻蝕不干凈：刻蝕液濃度下降、刻蝕溫度變化。2、刻蝕不均勻：噴淋流量異常、藥液未及時沖洗干凈等。3、過刻蝕：刻蝕速度異常、刻蝕溫度異常等。 廈門ICP刻蝕

廣東省科學院半導體研究所是以提供微納加工技術服務，真空鍍膜技術服務，紫外光刻技術服務，材料刻蝕技術服務內的多項綜合服務，為消費者多方位提供微納加工技術服務，真空鍍膜技術服務，紫外光刻技術服務，材料刻蝕技術服務，公司位于長興路363號，成立于2016-04-07，迄今已經成長為電子元器件行業(yè)內同類型企業(yè)的佼佼者。廣東省半導體所以微納加工技術服務，真空鍍膜技術服務，紫外光刻技術服務，材料刻蝕技術服務為主業(yè)，服務于電子元器件等領域，為全國客戶提供先進微納加工技術服務，真空鍍膜技術服務，紫外光刻技術服務，材料刻蝕技術服務。產品已銷往多個國家和地區(qū)，被國內外眾多企業(yè)和客戶所認可。