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常州RIE刻蝕

來源: 發布時間:2024-07-06

干刻蝕是一類較新型,但迅速為半導體工業所采用的技術。其利用電漿(plasma)來進行半導體薄膜材料的刻蝕加工。其中電漿必須在真空度約10至0.001Torr的環境下,才有可能被激發出來;而干刻蝕采用的氣體,或轟擊質量頗巨,或化學活性極高,均能達成刻蝕的目的。干刻蝕基本上包括離子轟擊與化學反應兩部份刻蝕機制。偏「離子轟擊」效應者使用氬氣,加工出來之邊緣側向侵蝕現象極微。而偏化學反應效應者則采氟系或氯系氣體(如四氟化碳CF4),經激發出來的電漿,即帶有氟或氯之離子團,可快速與芯片表面材質反應。刪轎厚干刻蝕法可直接利用光阻作刻蝕之阻絕遮幕,不必另行成長阻絕遮幕之半導體材料。而其較重要的優點,能兼顧邊緣側向侵蝕現象極微與高刻蝕率兩種優點,換言之,本技術中所謂活性離子刻蝕已足敷頁堡局滲次微米線寬制程技術的要求,而正被大量使用。化學刻蝕是利用化學反應來溶解材料表面的方法,適用于大多數材料。常州RIE刻蝕

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材料刻蝕是一種重要的微納加工技術,廣泛應用于半導體、光電子、生物醫學等領域。刻蝕工藝參數的選擇對于刻蝕質量和效率具有重要影響,下面是一些常見的刻蝕工藝參數:1.刻蝕氣體:刻蝕氣體的選擇取決于材料的性質和刻蝕目的。例如,氧氣可以用于氧化硅等材料的濕法刻蝕,而氟化氫可以用于硅等材料的干法刻蝕。2.刻蝕時間:刻蝕時間是控制刻蝕深度的重要參數。刻蝕時間過長會導致表面粗糙度增加,而刻蝕時間過短則無法達到所需的刻蝕深度。3.刻蝕功率:刻蝕功率是控制刻蝕速率的參數。刻蝕功率過高會導致材料表面受損,而刻蝕功率過低則無法滿足所需的刻蝕速率。4.溫度:溫度對于刻蝕過程中的化學反應和物理過程都有影響。通常情況下,提高溫度可以增加刻蝕速率,但過高的溫度會導致材料燒蝕。5.壓力:壓力對于刻蝕氣體的輸送和擴散有影響。通常情況下,增加壓力可以提高刻蝕速率,但過高的壓力會導致刻蝕不均勻。6.氣體流量:氣體流量對于刻蝕氣體的輸送和擴散有影響。通常情況下,增加氣體流量可以提高刻蝕速率,但過高的氣體流量會導致刻蝕不均勻。廣州黃埔反應性離子刻蝕混合刻蝕是將化學刻蝕和物理刻蝕結合起來的方法,可以實現更高的加工精度。

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“刻蝕”指的是用化學和物理方法有選擇地從硅片表面去除不需要的材料,主要是晶圓制造中不可或缺的關鍵步驟。刻蝕技術按工藝可以分為濕法刻蝕與干法刻蝕,其中干法刻蝕是目前8英寸、12英寸先進制程中的主要刻蝕手段,干法刻蝕又多以“等離子體刻蝕”為主導。在刻蝕環節中,硅電極產生高電壓,令刻蝕氣體形成電離狀態,其與芯片同時處于刻蝕設備的同一腔體中,并隨著刻蝕進程而逐步被消耗,因此刻蝕電極也需要達到與晶圓一樣的半導體級的純度(11個9)。

選擇比指的是在同一刻蝕條件下一種材料與另一種材料相比刻蝕速率快很多,它定義為被刻蝕材料的刻蝕速率與另一種材料的刻蝕速率的比。基本內容:高選擇比意味著只刻除想要刻去的那一層材料。一個高選擇比的刻蝕工藝不刻蝕下面一層材料(刻蝕到恰當的深度時停止)并且保護的光刻膠也未被刻蝕。圖形幾何尺寸的縮小要求減薄光刻膠厚度。高選擇比在較先進的工藝中為了確保關鍵尺寸和剖面控制是必需的。特別是關鍵尺寸越小,選擇比要求越高。刻蝕較簡單較常用分類是:干法刻蝕和濕法刻蝕。刻蝕技術是微納加工領域中不可或缺的一部分,為微納器件的制造提供了重要的技術支持。

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材料刻蝕是一種常見的微納加工技術,它可以通過化學或物理方法將材料表面的一部分或全部去除,從而形成所需的結構或圖案。其原理主要涉及到化學反應、物理作用和質量傳遞等方面。在化學刻蝕中,刻蝕液中的化學物質與材料表面發生反應,形成可溶性化合物或氣體,從而導致材料表面的腐蝕和去除。例如,在硅片刻蝕中,氫氟酸和硝酸混合液可以與硅表面反應,形成可溶性的硅酸和氟化氫氣體,從而去除硅表面的部分材料。在物理刻蝕中,刻蝕液中的物理作用(如離子轟擊、電子轟擊、等離子體反應等)可以直接或間接地導致材料表面的去除。例如,在離子束刻蝕中,高能離子束可以轟擊材料表面,使其發生物理變化,從而去除表面材料。在質量傳遞方面,刻蝕液中的質量傳遞可以通過擴散、對流和遷移等方式實現。例如,在濕法刻蝕中,刻蝕液中的化學物質可以通過擴散到材料表面,與表面反應,從而去除表面材料。總之,材料刻蝕的原理是通過化學反應、物理作用和質量傳遞等方式,將材料表面的一部分或全部去除,從而形成所需的結構或圖案。不同的刻蝕方法和刻蝕液具有不同的原理和特點,可以根據具體需求選擇合適的刻蝕方法和刻蝕液。刻蝕過程可以通過化學反應或物理作用來實現,具有高精度和高可控性。廣州增城刻蝕工藝

刻蝕技術可以使用化學或物理方法,包括濕法刻蝕、干法刻蝕和等離子體刻蝕等。常州RIE刻蝕

濕法刻蝕是化學清洗方法中的一種,是化學清洗在半導體制造行業中的應用,是用化學方法有選擇地從硅片表面去除不需要材料的過程。其基本目的是在涂膠的硅片上正確地復制掩膜圖形,有圖形的光刻膠層在刻蝕中不受到腐蝕源明顯的侵蝕,這層掩蔽膜用來在刻蝕中保護硅片上的特殊區域而選擇性地刻蝕掉未被光刻膠保護的區域。從半導體制造業一開始,濕法刻蝕就與硅片制造聯系在一起。雖然濕法刻蝕已經逐步開始被法刻蝕所取代,但它在漂去氧化硅、去除殘留物、表層剝離以及大尺寸圖形刻蝕應用等方面仍然起著重要的作用。與干法刻蝕相比,濕法刻蝕的好處在于對下層材料具有高的選擇比,對器件不會帶來等離子體損傷,并且設備簡單。工藝所用化學物質取決于要刻蝕的薄膜類型。常州RIE刻蝕