AOI檢測設備原理：當自動檢測時，AOI檢測設備機器通過高清CCD攝像頭自動掃描被檢測產品，采集圖像，測試的檢測點與數據庫中的合格的參數進行比較，經過圖像處理，檢查出目標產品上的缺陷，并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來，供維修人員修整和工程人員改善工藝。AOI檢測設備的大致流程是相同的，多是通過圖形識別法。即將AOI系統中存儲的標準數字化圖像與實際檢測到的圖像進行比較，從而獲得檢測結果。例如，檢測某個焊點時，按照一個完好的焊點建立起標準數字化圖像，與實測圖像進行比較，檢測結果是通過還是不通過，取決于標準圖像、分辨力和所用檢測程序。圖形識別中會用到各種算法，如求黑占白的比例、彩色、合成、求平均、求和、求差、求平面、求邊角等。AOI的光線照射有白光和彩色光兩類設備，白光是用256層次的灰度，彩色是用紅光，綠光，藍光，光線照射至焊錫/元器件的表面，之后光線反射到鏡頭中，產生二維圖像的三維顯示，來反映焊點/元器件的高度和色差。AOI從鏡頭數量來說有單鏡頭和多鏡頭，這只是技術方案實現的一種選擇，很難說那種方式就一定好，因為單鏡頭通過多個光源的不同角度照射也能得到很好的檢測圖像。檢測燈箱均勻性可以做到多少？吉林曲面背光模組批發

一套完整的demura設備需要由背光燈箱，即demura燈箱，信號發生器(Patterngenerator)，高分辨率低噪聲鏡頭，高性能主機，還有配套的軟體構成。首先demura燈箱通電點亮提供均勻的背光，再用PG點亮液晶玻璃提供灰階畫面，鏡頭拍照取像，圖片發給主機進行圖像處理，生成原始數據，計算補償書，然后將補償數據燒錄到液晶玻璃驅動板上的flash上，完成demura修復。如此可以看出，demura燈箱均勻性的好壞，直接影響畫面的效果，如果不能提供均勻性足夠高的燈箱，很有可能把原本OK的像素單元調成與周圍像素單元不一致，液晶玻璃裝配好背光出貨時，反而出現mura現象。蘇州嘯百光電技術有限公司長期專注液晶玻璃背光和檢測燈箱研發設計，demura燈箱均勻性可以做到97%以上，同時嚴格把控原材料品質和千級組裝環境，可以做到零缺陷外觀。湖南實驗用背光銷售吉林實驗用高亮背光模組。

手持式檢查燈因其重量輕、高指向性、高亮、可以選擇不同波段，在工業產品表面缺陷檢測領域得到了廣泛應用。常規的外觀檢測我們可以使用白色光源，但是用于高精度檢查表面的微塵、刮痕的燈我們一般都采用綠光/黃光，這是為什么呢？因為人眼在這兩種光的環境下較高敏感度而且光線柔和不傷眼睛，特別是綠光表面檢查燈，可精確檢查到1um左右的微塵、刮痕燈瑕疵，被廣泛應用于液晶玻璃、微刻模具、半導體晶圓、藍寶石表面檢查。蘇州嘯百光電技術有限公司主營檢測燈箱和各種光學玻璃，通過光學鏡片的光路設計和組合，結合不同波段的LED光源以及濾光片，可以實現定制光譜曲線、各種形狀光斑的平行光，整體均勻性在80%以上，照度可達50萬lux。目前產品在液晶顯示行業、鍍膜行業、半導體晶圓、太陽能基板、各式研磨拋光產品表面檢測領域大量使用。

液晶顯示模塊（LiquidCrystalModule，LCM）的生產過程中，從印刷電路板整合進液晶顯示面板（PCBI）的制程到各個模塊的組裝（Assembly），在待組裝物、設備或是人員之間，不可避免都會有移動及接觸與再分離的行為出現，因此在待組裝物上必然會發生靜電放電（ElectrostaticsDischarge，ESD）的現象。雖然在環境溫度及相對濕度與接地都會做有效的管控，但對一些已知會產生ESD的工作點還是需要加以注意。特別是在LCM的玻璃偏光板（Polarizer）表面，都會有貼附一層防止刮傷的保護膜，在生產過程中必須移除這層保護膜，往往造成許多的靜電電荷（ElectrostaticCharge）大量殘存在液晶玻璃面板內的顯示組件與集成電路中，繼而在后續的組裝程序上，出現危險的組件儲存電荷模式（ChargedDeviceModel，CDM）之ESD或電性過壓（ElectricalOverstress，EOS）現象，進而造成半導體組件內部電路的破壞。部分已受ESD內傷的產品，有時還會到客戶端才又被檢測出來，后續嚴重的客退問題又造成產品成本的一大負擔。實驗用高亮背光模組保修。

曲面液晶屏是將平面狀態的液晶玻璃嵌入曲面的背光模組，然后在液晶玻璃上面加裝曲面前框做成。在嵌入平面液晶玻璃之前，為了模擬平面液晶玻璃出貨時的曲面狀態，需要用曲面燈箱進行檢測?，F有的曲面燈箱在曲面背光的基礎上增加曲面框架改造，整個背光還是直接采用曲面背光。表面的光學膜片在液晶玻璃嵌入時，容易相互接觸產生劃傷、移動、跳脫，同時整體結構比較松散，使用一段時間后，容易出現異物、LED死燈等不良。蘇州嘯百光電技術有限公司，采用整體框架，雙層弧面全封閉設計，表面為曲面鋼化玻璃，背面為曲面背板，具有防水，耐刮，高亮可調，均勻性高等優點。遼寧玻璃外觀高亮背光模組。江蘇外觀背光模組聯系方式

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檢測燈箱Demura燈箱厚度要做多厚，這是廣大AOI從業技術人員關心的一個問題，其實燈箱厚度只是一個表象，如何獲得高均勻性的數據和畫面才是衡量Demura燈箱好壞的標準。影響燈箱均勻性的因素有很多，下面簡單介紹幾種影響比較大的因素。首先是不同燈板/區塊亮度的一致性，如果不同燈板驅動電流不同，燈板的亮度就不同，燈箱的發光區域就會形成邊界明顯的區塊。第二個是同一張燈板中或區塊中，LED顆粒亮度差異過大，也會形成斑點狀mura。第三個是燈箱邊緣比中心區域亮度要低，特別是4個角落，主要是靠近邊緣區域LED貢獻的光線比中間區域少，可以通過加大檢測燈箱的尺寸，實際檢測時只使用中間區域來改善。增加燈箱厚度，可以使LED混光高度增加，減弱Mura程度，但是還是很難避免Mura的產生。蘇州嘯百光電技術有限公司，結合多年的背光和光源設計經驗，無需增加燈箱發光區尺寸，可以實現全發光區域高均勻的效果。吉林曲面背光模組批發