AOI檢測設備又名AOI光學自動檢測設備現已成為電子制造業確保產品質量的重要檢測工具和過程質量控制工具,因此,如何從眾多的AOI品牌中選擇和使用適合自已要求的AOI光學自動檢測設備,已成為廣大電子制造工作者十分關心的問題。AOI檢測設備原理：當自動檢測時，AOI檢測設備機器通過高清CCD攝像頭自動掃描PCBA產品，采集圖像，測試的檢測點與數據庫中的合格的參數進行比較，經過圖像處理，檢查出目標產品上的缺陷，并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來，供維修人員修整和SMT工程人員改善工藝。AOI檢測設備的大致流程是相同的，多是通過圖形識別法。即將AOI系統中存儲的標準數字化圖像與實際檢測到的圖像進行比較，從而獲得檢測結果。AOI檢測元器件的過程就是模擬人工目視檢查SMT元器件。東莞爐前AOI光源

AOI的工作方式與SMT加工當中SPI和印刷機中使用的視覺系統相同，通常使用設計規則檢查(DRC)和模式識別。DRC方法根據一些給定的規則檢查電路圖形(所有的線應該在焊點處結束，所有的引線應該至少，所有的引線應該至少，等等)。該方法能從算法上保證待測電路的正確性，且具有制作簡單、算法邏輯簡單、處理速度快、程序編輯量小、數據占用空間小等特點，因此被很多人采用。但該方法確定邊界的能力較差。圖形識別方法是將存儲的數字圖像與實際圖像進行比較。根據完整的印刷電路板或根據模型建立的檢驗文件進行檢驗，或根據計算機軸輔助設計中編制的檢驗程序進行檢驗。其準確性取決于所采用的發牌率和檢驗程序，一般與電子測試系統相同，但采集的數據量大，對數據的實時處理要求較高。模式識別方法利用實際設計數據代替DRC中已建立的設計原則，具有明顯的優勢。什么是AOI配件AOI通過人工光源LED燈光代替自然光，光學透鏡和CCD代替人眼，已經編好程的標準進行比較、分析和判斷。

AOI的光線照射有白光和彩色光兩類設備，白光是用256層次的灰度，彩色是用紅光，綠光，藍光，光線照射至焊錫/元器件的表面，之后光線反射到鏡頭中，產生二維圖像的三維顯示，來反映焊點/元器件的高度和色差。人看到和認識物體是通過光線反射回來的量進行判斷，反射量多為亮，反射量少為暗。AOI與人判斷的原理相同。AOI從鏡頭數量來說有單鏡頭和多鏡頭，這只是技術方案實現的一種選擇，很難說那種方式就一定好，因為單鏡頭通過多個光源的不同角度照射也能得到很好的檢測圖像。特別是針對無鉛焊接的表面比較粗糙，會產生形狀不同的焊點，容易形成氣泡，并且容易出現零件一端翹立的特點，新的AOI設備也都進行了適應性的硬件和算法的更新。

AOI檢測的工作邏輯可以分為圖像采集階段（光學掃描和數據收集），數據處理階段（數據分類與轉換），圖像分析段（特征提取與模板比對）和缺陷報告階段這四個階段（缺陷大小類型分類等）為了支持和實現AOI檢測的上述四個功能，AOI設備的硬件系統包括了工作平臺，成像系統，圖像處理系統和電氣系統四個部分，是一個集成了機械，自動化，光學和軟件等多學科的自動化設備AOI的圖像采集系統主要包括光電轉化攝影系統，照明系統和控制系統三個部分因為攝影得到的圖像被用于與模板做對比，所以獲取的圖像信息準確性對于檢測結果非常重要，可以想象一下，如果圖像采集器看不清楚或看不到被檢測物體的特征點，那么也就無法談到準確的檢出。 AOI檢測儀A系統多采用黑白相機成像，提高成像分辨能力，還要考慮圖像運動過程拍攝圖片模糊帶來的不利影響。

AOI技術實現要素：本發明所要解決的技術問題是提供一種AOI檢測方法，其可降低現場操作人員誤判的幾率，提高產品質量。為達上述目的，一種AOI檢測方法,其通過一AOI檢測設備執行，用于檢測待測PCBA板卡,其包括以下步驟:a.啟動一AOI檢測程序，對該待測PCBA板卡上的元件進行檢測獲得一檢測數據,；b．判斷該檢測數據是否超過一預先設置的閾值，如果是則執行步驟c，如果否則執行步驟f；c.判斷該待測PCBA板卡的檢測數據是否大于一預先設置的第二閾值，如果是則執行步驟d，如果否則執行步驟e；d.判定該待測PCBA板卡為不合格產品并存儲該待測PCBA板卡的檢測結果；e.根據現場操作人員的輸入信息，儲存該待測PCBA板卡的檢測結果；以及f.判定該待測PCBA板卡為合格產品并存儲該待測PCBA板卡的檢測結果。 自動光學檢測機的速度是人類所不能奇跡的，較寬的光譜響應范圍使得其可以實現人眼所不能看到的紅外測量。浙江專業AOI測試

當自動檢測時，機器通過攝像頭自動掃描PCB，采集圖像，測試的焊點與數據庫中的合格的參數進行比較。東莞爐前AOI光源

AOI檢測設備中常用的紅綠藍LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源，一些特殊材料在可見光范圍內吸收差別不大，灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源，比如說利用紫外光能量高可以激發熒光材料的原理，檢測具有熒光發光特性物質微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對應關系的原理，紅外光源對不具有發光性質的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實現成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態的變化，利用光學干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷檢測中的得到了應用，例如通過相干光的干涉圖案計算出對應的相位差和光程差，可以測量出被測物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達到亞波長，測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。（下圖為側光源與同軸光源實例） 東莞爐前AOI光源

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