AOI又叫自動光學檢測儀，是應用于表面貼裝生產流水線上的一種自動光學檢查裝置，可有效的檢測印刷質量、貼裝質量以及焊點質量。AOI的中心是CCD攝像系統抓取圖片，然而通過圖像處理卡與計算機處理軟件系統等系列的算法處理后，與標準圖像進行對比，發現缺陷，并生產文件。使用AOI可以在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤，以實現良好的過程控制。早期發現缺陷將避免將不良品送到后工序的裝配階段，AOI將減少修理成本避免報廢不可修理的電路板。AOI檢測儀優點是圖像的還原性較好，打光角度容易調易得到較清晰的圖像，相比線陣相機誤判率較低。北京爐前AOI品牌

AOI系統集成技術牽涉到關鍵器件、系統設計、整機集成、軟件開發等。AOI系統中必不可少的關鍵器件有圖像傳感器（相機）、鏡頭、光源、采集與預處理卡、計算機（工控機、服務器）等。圖像傳感器常用的是各種型號的CMOS/CCD相機，圖像傳感器、鏡頭、光源三者組合構成了大多數自動光學檢測系統中感知單元，器件的選擇與配置需要根據檢測要求進行合計設計與選型。光源的選擇（顏色、波長、功率、照明方式等）除了分辨與增強特征外，還需考慮圖像傳感器對光源光譜的靈敏度范圍。鏡頭的選擇需要考慮視場角、景深、分辨率等光學參數，鏡頭的光學分辨率要和圖像傳感器的空間分辨率匹配才能達到比較好的性價比。一般情況下，鏡頭的光學分辨率略高于圖像傳感器的空間分辨率為宜，盡可能采用黑白相機成像，提高成像分辨能力。圖像傳感器（相機）采用面陣或線陣需根據具體情況而定，選型時需要考慮的因素有成像視場、空間分辨率、小曝光時間、幀率、數據帶寬等。 深圳爐前AOI品牌AOI檢測主要應用領域包括PCB、半導體和FPD面板。

AOl具有元器件檢測、PCB板檢測、焊接元器件檢測等功能。AOI檢測系統用于零部件檢測的一般程序是對已安裝部件的印刷線路板進行自動計數，并開始檢查;檢查印刷線路板的引線側，確保引線端對齊、彎曲正確;檢查是否有缺件、錯件、損壞件、檢查安裝的IC和分立器件的類型、方向和位置，檢查IC器件上的標記印刷質量。如果AOI發現有缺陷的部件，系統將向操作員發送一個信號，或觸發處理程序這機器能自動除去有缺陷的零件。該系統對缺陷進行分析，向主機提供缺陷的類型和頻率，并對制造過程進行必要的調整。AOI檢測的效率和可靠性取決于所使用軟件的完整性。AO還具有易于使用、易于調整、不需要編寫可視化系統算法的優點。

AOI對產品走下生產線時的比較終狀態進行監控。當生產問題非常清楚、產品混合度高、數量和速度為關鍵因素的時候，優先采用這個目標。AOI通常放置在生產線比較末端。在這個位置，設備可以產生范圍大范圍的過程控制信息。過程跟蹤使用檢查設備來監視生產過程。典型地包括詳細的缺陷分類和元件貼放偏移信息。當產品可靠性很重要、低混合度的大批量制造、和元件供應穩定時，制造商優先采用這個目標。這經常要求把檢查設備放置到生產線上的幾個位置，在線地監控具體生產狀況，并為生產工藝的調整提供必要的依據。雖然AOI可用于生產線上的多個位置，各個位置可檢測特殊缺陷，但AOI檢查設備應放到一個可以盡早識別和改正比較多缺陷的位置。AOI通常是把貼片機編程完成后自動生成的TXT輔助文本文件轉換成所需格式的文件。

AOI檢測的工作邏輯可以分為圖像采集階段（光學掃描和數據收集），數據處理階段（數據分類與轉換），圖像分析段（特征提取與模板比對）和缺陷報告階段這四個階段（缺陷大小類型分類等）為了支持和實現AOI檢測的上述四個功能，AOI設備的硬件系統包括了工作平臺，成像系統，圖像處理系統和電氣系統四個部分，是一個集成了機械，自動化，光學和軟件等多學科的自動化設備AOI的圖像采集系統主要包括光電轉化攝影系統，照明系統和控制系統三個部分因為攝影得到的圖像被用于與模板做對比，所以獲取的圖像信息準確性對于檢測結果非常重要，可以想象一下，如果圖像采集器看不清楚或看不到被檢測物體的特征點，那么也就無法談到準確的檢出。 AOI檢測儀有很高的自潔能力，不能給生產環境尤其被測工件本身帶來二次污染，這會影響系統構件的材料選型。福建插件AOI檢測儀

AOI是全自動化，可以持續不斷地對同一件事物進行觀察而不會感到疲勞，這對于效率的提升而言是十分重要的。北京爐前AOI品牌

AOI檢測設備中常用的紅綠藍LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源，一些特殊材料在可見光范圍內吸收差別不大，灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源，比如說利用紫外光能量高可以激發熒光材料的原理，檢測具有熒光發光特性物質微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對應關系的原理，紅外光源對不具有發光性質的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實現成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態的變化，利用光學干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷檢測中的得到了應用，例如通過相干光的干涉圖案計算出對應的相位差和光程差，可以測量出被測物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達到亞波長，測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。（下圖為側光源與同軸光源實例） 北京爐前AOI品牌

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