對(duì)無(wú)缺陷生產(chǎn)來(lái)講，自動(dòng)光學(xué)檢查（AOI）是必不可少的。在轉(zhuǎn)到使用無(wú)鉛工藝時(shí)，制造商將面臨新的挑戰(zhàn)，在生產(chǎn)中會(huì)出現(xiàn)其他的問(wèn)題，引起了人們的關(guān)注。本文分析轉(zhuǎn)到無(wú)鉛工藝的整個(gè)過(guò)程，特別是在大規(guī)模生產(chǎn)中引進(jìn)了0402無(wú)鉛元件。由于缺乏無(wú)鉛元件，轉(zhuǎn)到使用無(wú)鉛元件是分階段進(jìn)行的。在2004年，由于要求電子產(chǎn)品的體積越來(lái)越小，迫使制造商較大范圍地用0402元件來(lái)取代0603元件和0805元件。工藝條件除了普遍使用的0402元件，印刷電路板的較好次合格率（FPY）必須達(dá)到95%，而且必須根據(jù)印刷電路協(xié)會(huì)（IPC）的2級(jí)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)檢測(cè)缺陷。例如，在有608個(gè)焊點(diǎn)的168元件的情況下，相當(dāng)于要求誤報(bào)率是百萬(wàn)分之65。為了達(dá)到FPY的要求，在檢測(cè)缺陷時(shí)必須考慮以下條件：元件長(zhǎng)度的公差、元件供應(yīng)商、貼片公差、在25個(gè)AOI系統(tǒng)上的全球檢測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)、有80個(gè)獨(dú)特產(chǎn)品的全球檢測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)、無(wú)鉛焊料、不同的電路板供應(yīng)商以及檢測(cè)質(zhì)量要達(dá)到IPC的2級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。 要選擇一臺(tái)適合自己AOI產(chǎn)品，我們首先要先了解AOI的基本架構(gòu)和組成。福建什么是AOI光學(xué)檢測(cè)

AOI技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種AOI檢測(cè)方法，其可降低現(xiàn)場(chǎng)操作人員誤判的幾率，提高產(chǎn)品質(zhì)量。為達(dá)上述目的，一種AOI檢測(cè)方法,其通過(guò)一AOI檢測(cè)設(shè)備執(zhí)行，用于檢測(cè)待測(cè)PCBA板卡,其包括以下步驟:a.啟動(dòng)一AOI檢測(cè)程序，對(duì)該待測(cè)PCBA板卡上的元件進(jìn)行檢測(cè)獲得一檢測(cè)數(shù)據(jù),；b．判斷該檢測(cè)數(shù)據(jù)是否超過(guò)一預(yù)先設(shè)置的閾值，如果是則執(zhí)行步驟c，如果否則執(zhí)行步驟f；c.判斷該待測(cè)PCBA板卡的檢測(cè)數(shù)據(jù)是否大于一預(yù)先設(shè)置的第二閾值，如果是則執(zhí)行步驟d，如果否則執(zhí)行步驟e；d.判定該待測(cè)PCBA板卡為不合格產(chǎn)品并存儲(chǔ)該待測(cè)PCBA板卡的檢測(cè)結(jié)果；e.根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)操作人員的輸入信息，儲(chǔ)存該待測(cè)PCBA板卡的檢測(cè)結(jié)果；以及f.判定該待測(cè)PCBA板卡為合格產(chǎn)品并存儲(chǔ)該待測(cè)PCBA板卡的檢測(cè)結(jié)果。 江蘇離線AOI品牌圖像傳感器、鏡頭和光源三者組合構(gòu)成了大多數(shù)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中感知單元。

AOI檢測(cè)原理:通過(guò)攝像技術(shù)將被檢測(cè)物體的反射光強(qiáng)，以定量化的灰階值輸出，通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較，分析判定缺陷并進(jìn)行分類的過(guò)程。AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼，AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦，即“看”與“判”兩個(gè)環(huán)節(jié)，在整個(gè)AOI檢測(cè)中，其工作邏輯可以簡(jiǎn)單地分為：Step1：圖像采集階段（光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集）；Step2：數(shù)據(jù)處理階段（數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換）；Step3：圖像分析段（特征提取與模板比對(duì)）；Step4：缺陷報(bào)告階段四個(gè)階段（缺陷大小類型分類等）。在整個(gè)AOI系統(tǒng)運(yùn)作中，所有的判定基礎(chǔ)都是基于攝影得到的圖像，因?yàn)閿z影得到的圖像被用于與系統(tǒng)中的模板做對(duì)比，所以獲取圖像信息的精確性對(duì)于檢測(cè)結(jié)果非常重要！若圖像采集器看不清楚或看不到被檢測(cè)物體的特征點(diǎn)，那么也就無(wú)法談到準(zhǔn)確的檢出。

當(dāng)前電子產(chǎn)品日漸向著小型化趨勢(shì)發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品元器件的微型化要求也越來(lái)越高，微型器件的組裝和檢測(cè)難以只通過(guò)人工完成，由此產(chǎn)生越來(lái)越多的自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備需求。與此同時(shí)，自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備還能夠健身制造成本、提升產(chǎn)品質(zhì)量，AOI檢測(cè)設(shè)備代替人工的進(jìn)程發(fā)展較快。在此背景下，中國(guó)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)行業(yè)逐步發(fā)展起來(lái)。從AOI檢測(cè)設(shè)備來(lái)看，目前AOI檢測(cè)設(shè)備是SMT加工廠必備的設(shè)備，平均一條SMT生產(chǎn)線至少需要2-3臺(tái)AOI檢測(cè)設(shè)備，但我國(guó)AOI檢測(cè)設(shè)備的滲透率較低，只為50%左右。 AOI檢測(cè)行業(yè)應(yīng)用需求結(jié)構(gòu)主要通過(guò)PCB、半導(dǎo)體和FPD的產(chǎn)量比例來(lái)進(jìn)行測(cè)算得到。

AOI檢測(cè)原理是采用攝像技術(shù)將被檢測(cè)物體的反射光強(qiáng)以定量化的灰階值輸出，通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較，分析判定缺陷并進(jìn)行分類的過(guò)程。與人工檢查做一個(gè)形象的比喻，AOI采用的普通LED或特殊光源相當(dāng)于人工檢查時(shí)的自然光，AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼，AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦，即“看”與“判”兩個(gè)環(huán)節(jié)。因此，AOI檢測(cè)的工作邏輯可以簡(jiǎn)單地分為圖像采集階段（光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集），數(shù)據(jù)處理階段（數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換），圖像分析段（特征提取與模板比對(duì)）和缺陷報(bào)告階段四個(gè)階段（缺陷大小類型分類等）。為了支持和實(shí)現(xiàn)AOI檢測(cè)的上述四個(gè)功能，AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)也就包括工作平臺(tái)，成像系統(tǒng)，圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個(gè)部分，是一個(gè)集成了機(jī)械，自動(dòng)化，光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動(dòng)化設(shè)備。插件爐前檢測(cè)可以利用數(shù)據(jù)庫(kù)實(shí)時(shí)保存檢測(cè)的狀態(tài)和結(jié)果，幫助、分析產(chǎn)品出錯(cuò)和誤檢原因。什么是AOI光學(xué)檢測(cè)儀

AOI檢測(cè)儀有很高的自潔能力，不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其被測(cè)工件本身帶來(lái)二次污染，這會(huì)影響系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型。福建什么是AOI光學(xué)檢測(cè)

AOI檢測(cè)的工作邏輯可以分為圖像采集階段（光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集），數(shù)據(jù)處理階段（數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換），圖像分析段（特征提取與模板比對(duì)）和缺陷報(bào)告階段這四個(gè)階段（缺陷大小類型分類等）為了支持和實(shí)現(xiàn)AOI檢測(cè)的上述四個(gè)功能，AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)包括了工作平臺(tái)，成像系統(tǒng)，圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個(gè)部分，是一個(gè)集成了機(jī)械，自動(dòng)化，光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動(dòng)化設(shè)備AOI的圖像采集系統(tǒng)主要包括光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)，照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分因?yàn)閿z影得到的圖像被用于與模板做對(duì)比，所以獲取的圖像信息準(zhǔn)確性對(duì)于檢測(cè)結(jié)果非常重要，可以想象一下，如果圖像采集器看不清楚或看不到被檢測(cè)物體的特征點(diǎn)，那么也就無(wú)法談到準(zhǔn)確的檢出。 福建什么是AOI光學(xué)檢測(cè)

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