AOI（automaticallyopticalinspection）是光學自動檢測，顧名思義是通過光學系統成像實現自動檢測的一種手段，是眾多自動圖像傳感檢測技術中的一種檢測技術，中心技術點如何獲得準確且高質量的光學圖像并加工處理。AOI檢測技術應運而生的背景是電子元件集成度與精細化程度高，檢測速度與效率更高，檢測零缺陷的發展需求。AOI檢測的比較大優點是節省人力，降低成本，提高生產效率，統一檢測標準和排除人為因素干擾，保證了檢測結果的穩定性，可重復性和準確性，及時發現產品的不良，確保出貨質量。在人工智能技術與大數據發展進步的，AOI檢測不僅只是一部檢測設備，對大量不良結果進行分類和統計，可以發現不良發生的原因，在工藝改善和生產良率提升中也正逐步發揮著更重要的作用，因此，可以預期未來AOI檢測技術將在半導體與電子電路檢測中將會發揮越來越重要的作用。采用高分辨率工業相機和智能圖像分析，檢測電子電路板上插件元器件多、錯、漏、反等缺陷。上海插件AOI

爐后皮帶線模式:支持，且可以多機種共線生產；支持NGbuffer對接；支持多工位語音播報、自定義語音播報內容；通訊方式：支持標準接口、定制接口；追溯:可實時輸出。支持按條碼、二維碼、機型、時間等維度追溯；條碼識別:支持識別一維碼（128碼）,二維碼（QR/DM碼）；畫面顯示:1、主圖畫面動態與靜態結合，便于員工觀察；2、根據底板顏色可以自由選擇器件框顏色，適應各種顏色底板；學習:1、支持系統學習訓練，學習越多效果越好；2、支持本地學習；福建遠程操控AOI生產AOI自動光學檢測設備的優點就是可以取代以前SMT爐前，而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點。

光電轉化器可以分為CCD（chargeCouplingdiode）和CMOS（complementarymetaloxidesemiconductor）兩種。因為制作工藝與設計不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現為數字電荷傳送的方式的不同，工作原理如下圖所示，CCD采用硅基半導體加工工藝，并設置了垂直和水平移位寄存器，電極所產生的電場推動電荷鏈接方式傳輸到中間模數轉換器。這樣的結構與設計很難集成很多的感光單元，制造成本高且功耗大；而CMOS采用無機半導體加工工藝，每像素設計了額外的電子電路，每個像素都可以被定位，而無需CCD中那樣的電荷移位設計，對圖像信息的讀取速度遠遠高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產生的非自然現象的發生頻率要低得多，價格和功耗比CCD光電轉化器也低，但其缺點是半導體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會有一些問題，同時，為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區域。芯片表面上的光敏區域部分（定義為填充因子）小于CCD芯片。從理論上講，這個原因導致可以收集的圖像信息光子數會有所減少，所以，CMOS光電轉化元件一般需要搭配高亮度光源，噪音也比較大。

當前電子產品日漸向著小型化趨勢發展，對產品元器件的微型化要求也越來越高，微型器件的組裝和檢測難以只通過人工完成，由此產生越來越多的自動檢測設備需求。與此同時，自動檢測設備還能夠健身制造成本、提升產品質量，AOI檢測設備代替人工的進程發展較快。在此背景下，中國自動光學檢測行業逐步發展起來。從AOI檢測設備來看，目前AOI檢測設備是SMT加工廠必備的設備，平均一條SMT生產線至少需要2-3臺AOI檢測設備，但我國AOI檢測設備的滲透率較低，只為50%左右。生產廠家只需要提調試好供的攝像設備通過網絡端對產品進行檢測，通常檢測效果能夠代替實地檢測的效果。

AIVS-D系列爐前插件AOI特點簡介●采用聲音提示，彈窗對比圖，主圖突出顯示不良紅框等多種提醒，符合人體工學●一聽，二看，三聚焦，便于員工聽到異常提醒后直接觀察，使用彈窗顯示不良器件對比圖●深度學習算法，海量實際場景數據訓練；低誤報，支持6鐘混板檢查?！馪CB二維碼，支持MES對接●實現自動編程，只需5分鐘●生產數據實時圖表顯示，可視化管理，檢測數據便捷導出。AIVS-D系列爐前AOI規格參數光源:八側面多角度高亮條形光源相機：標配2000萬CCD全彩工業面陣相機（可選配1200萬/2500萬/2900萬）FOV：400*300mm可檢PCBA尺寸：寬度400mm，長度不限；可選配寬度750mm，長度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA獨立顯卡顯存：8G/6G內存/硬盤存儲：16GDDR4/2T操作系統：：22寸/。相關值大于或等于臨界相關值的為正常圖像，為異常圖像本社導入的AOI設備采用歸一化的彩色相關算法。山東不需要設置參數的AOI供應

一般都將離線AOI檢測設備設置在生產線的中段，在這個位置，設備可以產生的過程控制信息。上海插件AOI

模板匹配就是先設定已知模板，已知模板是AOI檢測中沒有缺陷的實物影像或較小重復單元影像，通常情況下PCBAOI檢測中以實物影像為已知模板，FPD AOI檢測中則是較小重復單元。將采集到的圖像與模板影像進行重合比對，然后平移到下一個單元進行同樣比對，出現灰階有差異的部分就被懷疑為缺陷，這里我們給灰階差異設定一個閾值，當灰階差超過設定閾值后，就被判定為真正的缺陷。從細節上講，閾值的設定過于嚴格出現誤判的概率就會增加，而閾值設定過于寬松漏檢出的概率就會增加，因此，被檢測物體的特征提取可以提高比對的對位精度，進而對檢測結果起到了決定性的作用。上海插件AOI

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