【真空鍍膜電阻加熱蒸發法】: 電阻加熱蒸發法就是采用鎢、鉬等高熔點金屬,做成適當形狀的蒸發源,其上裝入待蒸發材料,讓電流通過,對蒸發材料進行直接加熱蒸發,或者把待蒸發材料放入坩鍋中進行間接加熱蒸發。利用電阻加熱器加熱蒸發的鍍膜設備構造簡單、造價便宜、使用可靠,可用于熔點不太高的材料的蒸發鍍膜,尤其適用于對膜層質量要求不太高的大批量的生產中。目前在鍍鋁制品的生產中仍然大量使用著電阻加熱蒸發的工藝。電阻加熱方式的缺點是:加熱所能達到的Zui高溫度有限,加熱器的壽命也較短。近年來,為了提高加熱器的壽命,國內外已采用壽命較長的氮化硼合成的導電陶瓷材料作為加熱器。 真空鍍膜設備哪個牌子的好?重慶真空鍍膜設備廠商有哪些
【光學鍍膜的目的】:
&反射率的提高或透射率的降低
&反射率的降低或透射率的提高
&分光作用:中性分光、變色分光、偏極光分光
&光譜帶通、帶止及長波通或短波通之濾光作用
&相位改變
&液晶顯示功能之影顯
&色光顯示、色光反射、偽chao及有價證券之防止
&光波的引導、光開關及集體光路
a. 在膜層中,波的干涉結果,如R%, T%都是與膜質本身和兩邊界邊的折射率率有關系,相位變化也是如此。
b. 由于干涉作用造成的反射率有時升高,有時反而降低,都要視磨蹭的折射率高于或低于基板折射率而定。若Nf>Ns,則反射率會提高(Ns為基底),若Nf 【真空鍍膜設備的分類】:
這個問題如果在十年之前,其實是很容易回答的,就是兩個大類,物理沉積設備和化學沉積設備?,F在這樣回答也是沒錯的,但現在再這樣回答就沒辦法把事情說清楚了,所以從應用領域上可以分成以下幾類:
傳統光學器件(鏡片,濾光片)所用的鍍膜設備:單腔體或多腔體蒸發式鍍膜設備,濺射式鍍膜設備。
新材料領域的柔性設備:卷對卷柔性鍍膜設備。
光通訊行業:離子束濺射鍍膜設備。
半導體及相似工藝:化學氣相沉積設備。
功能膜:多弧離子鍍設備,濺射設備,蒸發設備
玻璃工藝:濺射式連續線
其余的就得歸到“工藝定制設備”這個范圍里面了,例如車燈鍍膜設備,太陽能的共蒸發設備,光纖鍍膜設備,太陽能管設備等等
【近些年來出現的新的鍍膜方法】:
除蒸發法和濺射法外,人們又綜合了這兩種方法的優缺點,取長補短,發展出一些新的方法,如:等離子體束濺射等。這種嶄新的技術結合了蒸發鍍的高效和濺射鍍的高性能特點,特別在多元合金以及磁性薄膜的制備方面,具有其它手段無可比擬的優點。高效率等離子體濺射(High Target Utilization Plasma Sputtering(HiTUS))實際上是由利用射頻功率產生的等離子體聚束線圈、偏壓電源組成的一個濺射鍍膜系統。這種離子體源裝置在真空室的側面。如圖1所示。圖2為實際的鍍膜機照片。該等離子體束在電磁場的作用下被引導到靶上,在靶的表面形成高密度等離子體。同時靶連接有DC/RF偏壓電源,從而實現高效可控的等離子體濺射。等離子體發生裝置與真空室的分離設計是實現濺射工藝參數寬范圍可控的關鍵,而這種廣闊的可控性使得特定的應用能確定工藝參數Zui優化。
與通常的磁控濺射相比,由于磁控靶磁場的存在而在靶材表面形成刻蝕環不同,HiTUS系統由于取消了靶材背面的磁鐵,從而能對靶的材料實現全mian積均勻。
真空鍍膜設備公司排名。 【光譜分光不良的補救(補色)之其他情況】:
分光不良分為二種情況:一是全部膜系鍍制完成后,經測試分光不良,此類不良主要按六節所述方法處理,一般減反膜難以補救。但對于高反膜、帶通濾光膜等可以通過加層的方法補救。二是鍍制中途中斷(包括發現錯誤中斷)造成的分光不良,一般都可以通過后續努力補救。后續方法正確,補救成功率比較高。
中斷的原因形式之其他情況:
對于用錯程序,錯誤操作(預熔未關閉擋板等)人為中斷需要補救的;以及反光膜、濾光膜鍍后需要補救的情況處理方案:
模擬:將實測分光數據輸入計算機膜系設計程序的優化目標值。通過計算機模擬(一般是Zui后一層的膜厚確認),找到與實現測試值結果相應的膜系數據。
優化:根據模擬得到的膜系數據,輸入產品要求的優化目標值,通過加層、優化后續膜層的方法,重新優化設計一個補救膜系。
試鍍:確認、完善補救膜系效果
補救鍍:完成補救工作
真空鍍膜設備產業集群。云南真空鍍膜設備質量 真空鍍膜設備真空四個階段。重慶真空鍍膜設備廠商有哪些 【真空鍍膜設備撿漏方法】:
檢漏方法很多,根據被檢件所處的狀態可分為充壓檢漏法、真空檢漏法及其它檢漏法。
充壓檢漏法:在被檢件內部充入一定壓力的示漏物質,如果被檢件上有漏孔,示漏物質便從漏孔漏出,用一定的方法或儀器在被檢件外部檢測出從漏孔漏出的示漏物質,從而判定漏孔的存在、位置及漏率的大小,此即充壓檢漏法。
真空檢漏法:被檢件和檢漏器的敏感元件處于真空狀態,在被檢件的外部施加示漏物質,如果有漏孔,示漏物質就會通過漏孔進入被檢件和敏感元件的空間,由敏感元件檢測出示漏物質,從而可以判定漏孔的存在、位置利漏率的大小,這就是真空檢漏法。
其它檢漏法:被檢件既不充壓也不抽真空,或其外部受壓等方法歸入其它檢漏法。背壓法就是其中主要方法之一。
所謂“背壓檢漏法”是利用背壓室先將示漏氣體由漏孔充入被檢件,然后在真空狀態下使示漏氣體再從被檢件中漏出.以某種方法(或檢漏儀)檢測漏出的示漏氣體,判定被檢件的總漏率的方法。
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