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中科院膜厚儀研發生產

來源: 發布時間:2022-07-06

備用光源:LAMP-TH1-5PAK:F10、F20、F30、F40、F50、和F60系統的非紫外光源。5個/盒。1200小時平均無故障。LAMP-TH:F42F42系統的光源。1000小時平均無故障。LAMP-THF60:F60系統的光源。1000小時平均無故障。LAMP-THF80:F80系統的光源。1000小時平均無故障。LAMP-D2-L10290:L10290氘光源。2007年到2014年F20-UV的使用者。LAMP-TH-L10290:L10290鎢鹵素光源。2007年到2014年F20-UV的使用者。LAMP-D2-LS和DT2:LS和DT2光源需更換氘燈,而鹵素燈光源需更換使用LAMP-TH1-5PAK.紫外光可測試的深度:有秀的薄膜(SOI 或 Si-SiGe)或者厚樣的近表面局部應力。中科院膜厚儀研發生產

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F50系列自動化薄膜測繪FilmetricsF50系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta平臺可接受標準和客制化夾盤,樣品直徑可達450毫米。(耐用的平臺在我們的量產系統能夠執行數百萬次的量測!)測繪圖案可以是極座標、矩形或線性的,您也可以創造自己的測繪方法,并且不受測量點數量的限制。內建數十種預定義的測繪圖案。不同的F50儀器是根據波長范圍來加以區分的。標準的F50是很受歡迎的產品。一般較短的波長(例如,F50-UV)可用于測量較薄的薄膜,而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。 福建三星膜厚儀基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。

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F10-HC輕而易舉而且經濟有效地分析單層和多層硬涂層F10-HC以FilmetricsF20平臺為基礎,根據光譜反射數據分析快速提供薄膜測量結果。F10-HC先進的模擬算法是為測量聚碳酸酯和其它單層和多層硬涂層(例如,底涂/硬涂層)專門設計的。全世界共有數百臺F10-HC儀器在工作,幾乎所有主要汽車硬涂層公司都在使用它們。像我們所有的臺式儀器一樣,F10-HC可以連接到您裝有Windows計算機的USB端口并在幾分鐘內完成設定。包含的內容:集成光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件FILMeasure讀立軟件(用于遠程數據分析)CP-1-1.3探頭BK7參考材料TS-Hardcoat-4um厚度標準備用燈額外的好處:應用工程師可立刻提供幫助(周一-周五)網上的“手把手”支持(需要連接互聯網)硬件升級計劃。

F40系列將您的顯微鏡變成薄膜測量工具F40產品系列用于測量小到1微米的光斑。對大多數顯微鏡而言,F40能簡單地固定在c型轉接器上,這樣的轉接器是顯微鏡行業標準配件。F40配備的集成彩色攝像機,能夠對測量點進行準確監控。在1秒鐘之內就能測定厚度和折射率。像我們所有的臺式儀器一樣,F40需要連接到您裝有Windows計算機的USB端口上并在數分鐘內完成設定。F40:20nm-40μm400-850nmF40-EXR:20nm-120μm400-1700nmF40-NIR:40nm-120μm950-1700nmF40-UV:4nm-40μm190-1100nmF40-UVX:4nm-120μm190-1700nmF30-UV測厚范圍:3nm-40μm;波長:190-1100nm。

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F50和F60的晶圓平臺提供不同尺寸晶圓平臺。F50晶圓平臺-100mm用于2"、3"和4"晶圓的F50平臺組件。F50晶圓平臺-200mm用于4"、5"、6"和200mm晶圓的F50平臺組件。F50晶圓平臺-300mm用于4"、5"、6"、200mm和300mm晶圓的F50平臺組件。F50晶圓平臺-450mmF50夾盤組件實用于4",5",6",200mm,300mm,以及450mm毫米晶片。F50晶圓平臺-訂制預訂F50的晶圓平臺,通常在四星期內交貨。F60晶圓平臺-200mm用于4"、5"、6"和200mm晶圓的F60平臺組件。F60晶圓平臺-300mm用于4"、5"、6"、200mm和300mm晶圓的F60平臺組件。厚度變化 (TTV) ;溝槽深度;過孔尺寸、深度、側壁角度。襯底膜厚儀美元價

F3-s980 是波長為980奈米的版本,是為了針對成本敏銳的應用而設計。中科院膜厚儀研發生產

測量有機發光顯示器有機發光顯示器(OLEDs)有機發光顯示器正迅速從實驗室轉向大規模生產。明亮,超薄,動態的特性使它們成為從手機到電視顯示屏的手選。組成顯示屏的多層薄膜的精密測量非常重要,但不能用傳統接觸型的輪廓儀,因為它會破壞顯示屏表面。我們的F20-UV,F40-UV,和F10-RT-UV將提供廉價,可靠,非侵入測量原型裝置和全像素化顯示屏。我們的光譜儀還可以測量大氣敏感材料的化學變化。測量透明導電氧化膜不論是銦錫氧化物,氧化鋅,還是聚合物(3,4-乙烯基),我們獨有的ITO光學模型,加上可見/近紅外儀器,可以測得厚度和光學常數,費用和操作難度瑾是光譜橢偏儀的一小部分。中科院膜厚儀研發生產

岱美儀器技術服務(上海)有限公司坐落在金高路2216弄35號6幢306-308室,是一家專業的磁記錄、半導體、光通訊生產及測試儀器的批發、進出口、傭金代理(拍賣除外)及其相關配套服務,國際貿易、轉口貿易,商務信息咨詢服務 公司。公司目前擁有專業的技術員工,為員工提供廣闊的發展平臺與成長空間,為客戶提供高質的產品服務,深受員工與客戶好評。公司以誠信為本,業務領域涵蓋半導體工藝設備,半導體測量設備,光刻機 鍵合機,膜厚測量儀,我們本著對客戶負責,對員工負責,更是對公司發展負責的態度,爭取做到讓每位客戶滿意。公司力求給客戶提供全數良好服務,我們相信誠實正直、開拓進取地為公司發展做正確的事情,將為公司和個人帶來共同的利益和進步。經過幾年的發展,已成為半導體工藝設備,半導體測量設備,光刻機 鍵合機,膜厚測量儀行業出名企業。