該igbt芯片上設置有:工作區域、電流檢測區域和接地區域;其中,igbt芯片還包括第1表面和第二表面,且,第1表面和第二表面相對設置;第1表面上設置有工作區域和電流檢測區域的公共柵極單元,以及,工作區域的第1發射極單元、電流檢測區域的第二發射極單元和第三發射極單元,其中,第三發射極單元與第1發射極單元連接,公共柵極單元與第1發射極單元和第二發射極單元之間通過刻蝕方式進行隔開;第二表面上設有工作區域和電流檢測區域的公共集電極單元;接地區域設置于第1發射極單元內的任意位置處;電流檢測區域和接地區域分別用于與檢測電阻連接,以使檢測電阻上產生電壓,并根據電壓檢測工作區域的工作電流。第二方面,本發明實施例還提供一種半導體功率模塊,半導體功率模塊配置有第1方面的igbt芯片,還包括驅動集成塊和檢測電阻;其中,驅動集成塊與igbt芯片中公共柵極單元連接,以便于驅動工作區域和電流檢測區域工作;以及,還與檢測電阻連接,用于獲取檢測電阻上的電壓。本發明實施例帶來了以下有益效果:本發明實施例提供了igbt芯片及半導體功率模塊,igbt芯片上設置有:工作區域、電流檢測區域和接地區域;其中。 在截止狀態下的IGBT,正向電壓由J2結承擔,反向電壓由J1結承擔。河南SEMIKRON西門康IGBT模塊服務電話
所有人都知道IGBT的標準定義,但是很少有人詳細地、系統地從這句話抽絲剝繭,一層一層地分析為什么定義里說IGBT是由BJT和MOS組成的,它們之間有什么區別和聯系,在應用的時候,什么時候能選擇IGBT、什么時候選擇BJT、什么時候又選擇MOSFET管。這些問題其實并非很難,你跟著我看下去,就能窺見其區別及聯系。為什么說IGBT是由BJT和MOSFET組成的器件?要搞清楚IGBT、BJT、MOSFET之間的關系,就必須對這三者的內部結構和工作原理有大致的了解。BJT:雙極性晶體管,俗稱三極管。內部結構(以PNP型BJT為例)如下圖所示。BJT內部結構及符號如同我上篇文章(IGBT這玩意兒——從名稱入手)講的,雙極性即意味著器件內部有空穴和電子兩種載流子參與導電,BJT既然叫雙極性晶體管,那其內部也必然有空穴和載流子,理解這兩種載流子的運動是理解BJT工作原理的關鍵。由于圖中e(發射極)的P區空穴濃度要大于b(基極)的N區空穴濃度,因此會發生空穴的擴散,即空穴從P區擴散至N區。同理,e(發射極)的P區電子濃度要小于b(基極)的N區電子濃度,所以電子也會發生從N區到P區的擴散運動。這種運動終會造成在發射結上出現一個從N區指向P區的電場,即內建電場。 福建SEMIKRON西門康IGBT模塊聯系方式IGBT模塊具有節能、安裝維修方便、散熱穩定等特點。
本發明實施例還提供了一種半導體功率模塊,如圖15所示,半導體功率模塊50配置有上述igbt芯片51,還包括驅動集成塊52和檢測電阻40。具體地,如圖16所示,igbt芯片51設置在dcb板60上,驅動集成塊52的out端口通過模塊引線端子521與igbt芯片51中公共柵極單元100連接,以便于驅動工作區域10和電流檢測區域20工作;si端口通過模塊引線端子521與檢測電阻40連接,用于獲取檢測電阻40上的電壓;以及,gnd端口通過模塊引線端子521與電流檢測區域的第1發射極單元101引出的導線522連接,檢測電阻40的另一端還分別與電流檢測區域的第二發射極單元201和接地區域連接,從而通過si端口獲取檢測電阻40上的測量電壓,并根據該測量電壓檢測工作區域的工作電流。本發明實施例提供的半導體功率模塊,設置有igbt芯片,其中,igbt芯片上設置有:工作區域、電流檢測區域和接地區域;其中,igbt芯片還包括第1表面和第二表面,且,第1表面和第二表面相對設置;第1表面上設置有工作區域和電流檢測區域的公共柵極單元,以及,工作區域的第1發射極單元、電流檢測區域的第二發射極單元和第三發射極單元,其中,第三發射極單元與第1發射極單元連接。
并在檢測電阻40上得到檢測信號。因此,這種將檢測電阻40通過引線直接與主工作區的源區金屬相接,可以避免主工作區的工作電流接地電壓對測試的影響。但是,這種方式得到的檢測電流曲線與工作電流曲線并不對應,如圖4所示,得到的檢測電流與工作電流的比例關系不固定,在大電流時,檢測電流與工作電流的偏差較大,此時,電流傳感器1的靈敏性較低,從而導致檢測電流的精度和敏感性比較低。針對上述問題,本發明實施例提供了igbt芯片及半導體功率模塊,避免了柵電極因對地電位變化造成的偏差,提高了檢測電流的精度。為便于對本實施例進行理解,下面首先對本發明實施例提供的一種igbt芯片進行詳細介紹。實施例一:本發明實施例提供了一種igbt芯片,圖5為本發明實施例提供的一種igbt芯片的結構示意圖,如圖5所示,在igbt芯片上設置有:工作區域10、電流檢測區域20和接地區域30;其中,在igbt芯片上還包括第1表面和第二表面,且,第1表面和第二表面相對設置;第1表面上設置有工作區域10和電流檢測區域20的公共柵極單元100,以及,工作區域10的第1發射極單元101、電流檢測區域20的第二發射極單元201和第三發射極單元202,其中,第三發射極單元202與第1發射極單元101連接。 IGBT的觸發和關斷要求給其柵極和基極之間加上正向電壓和負向電壓,柵極電壓可由不同的驅動電路產生。
而是為了保護IGBT脆弱的反向耐壓而特別設置的,又稱為FWD(續流二極管)。二者內部結構不同MOSFET的三個極分別是源極(S)、漏極(D)和柵極(G)。IGBT的三個極分別是集電極(C)、發射極(E)和柵極(G)。IGBT是通過在MOSFET的漏極上追加層而構成的。它們的內部結構如下圖:二者的應用領域不同MOSFET和IGBT內部結構不同,決定了其應用領域的不同。由于MOSFET的結構,通常它可以做到電流很大,可以到上KA,但是前提耐壓能力沒有IGBT強。其主要應用領域為于開關電源,鎮流器,高頻感應加熱,高頻逆變焊機,通信電源等高頻電源領域。IGBT可以做很大功率,電流和電壓都可以,就是一點頻率不是太高,目前IGBT硬開關速度可以到100KHZ,IGBT集中應用于焊機,逆變器,變頻器,電鍍電解電源,超音頻感應加熱等領域。MOSFET與IGBT的主要特點MOSFET具有輸入阻抗高、開關速度快、熱穩定性好、電壓控制電流等特性,在電路中,可以用作放大器、電子開關等用途。IGBT作為新型電子半導體器件,具有輸入阻抗高,電壓控制功耗低,控制電路簡單,耐高壓,承受電流大等特性,在各種電子電路中獲得極的應用。IGBT的理想等效電路如下圖所示,IGBT實際就是MOSFET和晶體管三極管的組合。 IGBT在開通過程中,大部分時間是作為MOSFET來運行的。貴州SEMIKRON西門康IGBT模塊銷售廠家
普通的交流220V供電,使用600V的IGBT。河南SEMIKRON西門康IGBT模塊服務電話
分兩種情況:②若柵-射極電壓UGE<Uth,溝道不能形成,IGBT呈正向阻斷狀態。②若柵-射極電壓UGE>Uth,柵極溝道形成,IGBT呈導通狀態(正常工作)。此時,空穴從P+區注入到N基區進行電導調制,減少N基區電阻RN的值,使IGBT通態壓降降低。IGBT各世代的技術差異回顧功率器件過去幾十年的發展,1950-60年代雙極型器件SCR,GTR,GTO,該時段的產品通態電阻很小;電流控制,控制電路復雜且功耗大;1970年代單極型器件VD-MOSFET。但隨著終端應用的需求,需要一種新功率器件能同時滿足:驅動電路簡單,以降低成本與開關功耗、通態壓降較低,以減小器件自身的功耗。1980年代初,試圖把MOS與BJT技術集成起來的研究,導致了IGBT的發明。1985年前后美國GE成功試制工業樣品(可惜后來放棄)。自此以后,IGBT主要經歷了6代技術及工藝改進。從結構上講,IGBT主要有三個發展方向:1)IGBT縱向結構:非透明集電區NPT型、帶緩沖層的PT型、透明集電區NPT型和FS電場截止型;2)IGBT柵極結構:平面柵機構、Trench溝槽型結構;3)硅片加工工藝:外延生長技術、區熔硅單晶;其發展趨勢是:①降低損耗②降低生產成本總功耗=通態損耗(與飽和電壓VCEsat有關)+開關損耗(EoffEon)。 河南SEMIKRON西門康IGBT模塊服務電話