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“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù)。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu)。但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析。 x射線粉末衍射可以 1，判斷物質(zhì)是否為晶體。 2，判斷是何種晶體物質(zhì)。 3，判斷物質(zhì)的晶型。 4，計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。 5，定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例。 6，計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。 7，和其他專業(yè)相結(jié)合會(huì)有更普遍的用途。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。連云港衍射儀生產(chǎn)廠家X射線衍射儀工作原理是什么？...

單晶射線衍射儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器， 額定功率:50kv 40mA。CCD探測(cè)器：62mm 4K CCD芯片，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發(fā)生器：功率3kW，Mo靶陶瓷X射線光管； 三軸（ω,2θ,φ）測(cè)角儀:φ360o旋轉(zhuǎn)≤0.02o步長(zhǎng)，角度重現(xiàn)性±0.0001o； Kryo-Flex低溫系統(tǒng)。 該儀器主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測(cè)定 ，包括孿晶的有機(jī)、無(wú)機(jī)化合物分子的準(zhǔn)確三維立體結(jié)構(gòu)，并通過(guò)先進(jìn)的結(jié)構(gòu)解析軟件給出包括鍵長(zhǎng)、鍵角、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度等分子參數(shù)及分子在晶格中的排列狀況。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)。臺(tái)州...

衍射（diffraction）又稱為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過(guò)散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象，一切波都會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。 如果采用單色平行光，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后，因位相不同，相互之間產(chǎn)生干涉作用，引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向（角度）和強(qiáng)度。 x射線照射晶體，電子受迫振動(dòng)產(chǎn)生相干散射；同一原子內(nèi)各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內(nèi)各原子呈周期排列，因而各原子散射波問(wèn)也存在固定的位相關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用，在某些方向上發(fā)生相長(zhǎng)干涉，即形成了衍射波．由此可知，衍射的本質(zhì)是晶體中各原子相干散射波疊加...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過(guò)測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)。X射線管的實(shí)質(zhì)是個(gè)真空二極管，其陰極是鎢絲，陽(yáng)極為金屬片。浙江奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD廠家哪家好X射線同無(wú)線...

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵，對(duì)不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和，反映的晶格的對(duì)稱性信息；不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢(shì)場(chǎng)的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng)（多次散射），x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實(shí)用角度的答案，在確定晶體對(duì)稱性上，通常是用x射線來(lái)定的，因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱，不會(huì)出現(xiàn)本來(lái)消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。測(cè)角儀是衍射儀的重要部分。湖州衍射儀...

分析電子衍射與x射線衍射有何異同？ 多晶金屬材料經(jīng)機(jī)械加工、熱處理等工藝，往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。這種晶體取向稱為擇優(yōu)取向或織構(gòu)，它引起X射線衍射花樣發(fā)生 變化，使得連續(xù)均勻的衍射環(huán)成不連續(xù)、強(qiáng)度加強(qiáng)的斑點(diǎn)或弧段，而另一些晶面的衍射線強(qiáng)度變小甚至消失。測(cè)定織構(gòu)的方法有多種中，但X射線方法具有準(zhǔn)確、全 面等特點(diǎn)，所以成為研究織構(gòu)主要的方法。 在X射線衍射法中，一般用“極圖”來(lái)表達(dá)織構(gòu)。X射線發(fā)生器主要由高壓控制系統(tǒng)和X光管組成，它是產(chǎn)生X射線的裝置(產(chǎn)生X射線的裝置)，。江蘇衍射儀大概多少錢X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分...

x射線粉末衍射儀, 針對(duì)于測(cè)試樣品為粉末; x射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射、高溫衍射儀等等 ! x射線衍射儀包含x射線粉末衍射儀! 由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù).單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu).粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析.x射線粉末衍射可以:1,判斷物質(zhì)是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質(zhì).3,判斷物質(zhì)的晶型.4,計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.5,定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例.6,計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).7,和其他專業(yè)相結(jié)合會(huì)有更普遍的用途.X射線衍射儀已成為晶體結(jié)構(gòu)分析等工作的主...

根據(jù)布拉格公式說(shuō)明為什么低衍射角區(qū)的眼射線強(qiáng)度高于高角區(qū)新回答 ，這個(gè)問(wèn)題是不正確的，請(qǐng)注意，布拉格公式是衍射的幾何條件，是衍射的必要條件，不是充分條件！滿足其后，還必須滿足結(jié)構(gòu)因子不為0（越大當(dāng)然強(qiáng)，其他條件一樣的話）才能衍射，才有強(qiáng)度！事實(shí)上還和重復(fù)因子等有關(guān)，建議多看相關(guān)書(shū)籍。 影響粉末x射線衍射圖效果的因素有： ⑴粉末樣品自身顆粒的大小對(duì)x射線衍射分析測(cè)試結(jié)果有比較大的影響； ⑵樣品架裝填粉末樣品量不同對(duì)衍射結(jié)果有直接的影響； ⑶對(duì)于少量樣品或微量試樣采用橫式填樣法更加科學(xué)合理。連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對(duì)稱性和進(jìn)行晶體定向的勞埃法。上海奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD定制公司晶...

x射線衍射圖譜： 橫坐標(biāo)：角度（度），是2θ 角，是衍射譜儀掃描的角度。 縱坐標(biāo)：是檢測(cè)到的計(jì)數(shù)，單位：CPS-每秒計(jì)數(shù)counts per sec. 另外，測(cè)試單上還會(huì)給出一系列數(shù)據(jù)，它們是： 一列數(shù)據(jù)，是2θ 角，要除以2才是用到公式中的θ 。 第二列數(shù)據(jù)，的d,單位是?， 第三列數(shù)據(jù)，BG，可能是背景縮寫(xiě)； 第四列數(shù)據(jù)，峰高，計(jì)數(shù)值； 第五列數(shù)據(jù)，相對(duì)峰高（%），是把強(qiáng)峰作為歸一標(biāo)準(zhǔn)的相對(duì)強(qiáng)度值； 第六列數(shù)據(jù)，峰面積； 第七列數(shù)據(jù)，相對(duì)峰面積（%）； 第八列數(shù)據(jù)，F(xiàn)WHM-Full width at half maximum （脈沖）峰半高寬；一般用于計(jì)算的峰強(qiáng)度使用高度就可以了，這是把...

使用粉末多晶衍射儀測(cè)量單晶體樣品時(shí)得到的X射線衍射譜，相對(duì)于與所測(cè)單晶體同種類的多晶樣品的X射線衍射譜來(lái)說(shuō)，它的譜圖特征可能是：衍射峰數(shù)量可能會(huì)變少，峰強(qiáng)度會(huì)有變化:有的會(huì)變強(qiáng)、有的會(huì)變?nèi)?；如果測(cè)試時(shí)單晶樣品不旋轉(zhuǎn)，有些峰可能就根本不出現(xiàn)，因?yàn)槠湔丈浣桥缮?θ滿足不了布拉格公式而發(fā)生衍射；其峰強(qiáng)弱依賴于單晶樣品在譜儀樣品架上的作固定安裝的立體角參數(shù)。 若將一束單色X射線照射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。要使各晶面族都發(fā)生衍射，常用的方法就是轉(zhuǎn)動(dòng)晶體。轉(zhuǎn)動(dòng)中各晶面族時(shí)刻改變著與入射線的交角，會(huì)在某個(gè)時(shí)候符合布拉格...

X射線衍射法是一種研究晶體結(jié)構(gòu)的分析方法，而不是直接研究試樣內(nèi)含有元素的種類及含量的方法。當(dāng)X射線照射晶態(tài)結(jié)構(gòu)時(shí)，將受到晶體點(diǎn)陣排列的不同原子或分子所衍射。X射線照射兩個(gè)晶面距為d的晶面時(shí)，受到晶面的反射，兩束反射X光程差2dsinθ使入射波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)），兩束光的相位一致，發(fā)生相長(zhǎng)干涉，這種干涉現(xiàn)象稱為衍射，晶體對(duì)X射線的這種折射規(guī)則稱為布拉格規(guī)則。θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。n相當(dāng)于相干波之間的位相差，n=1，2…時(shí)各稱0級(jí)、1級(jí)、2級(jí)……衍射線。反射級(jí)次不清楚時(shí)，均以n=1求d。晶面間距一般為物質(zhì)的特有參數(shù)，對(duì)一個(gè)物質(zhì)若能測(cè)定數(shù)個(gè)d及與其...

X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。 （2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。 （3）射線檢測(cè)器　檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。 （4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有特用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。X射線衍射照相法的原理是什么？揚(yáng)州衍射儀批發(fā)x射線衍射在金屬學(xué)中的應(yīng)用 x射...

X射線單晶體衍儀器要求： 基本要求 要按式⑷來(lái)求解晶體結(jié)構(gòu)，就要有盡可能多的衍射的FHKL，而且其值要準(zhǔn)確，這樣所得的ρ（x,y,z）分辨率就高，求得的結(jié)構(gòu)就準(zhǔn)確。一粒小晶體衍射的X射線是射向整個(gè)空間的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的強(qiáng)度一般比較低，不易測(cè)得。如何在三維空間測(cè)得盡可能多的，盡可能準(zhǔn)確的衍射線強(qiáng)度成為對(duì)X射線單晶體衍射儀的基本要求。 實(shí)驗(yàn)儀器 若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。如何才能使各晶面族都發(fā)生衍射呢？常用的方法就是轉(zhuǎn)動(dòng)晶體。轉(zhuǎn)動(dòng)中各晶面族時(shí)刻改變著與入射線的交角，會(huì)...

X射線衍射分析的應(yīng)用實(shí)例： 1、金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個(gè)平面，面積不小于10X10毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。 2、對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常。因此要求測(cè)試時(shí)合 理選擇響應(yīng)的方向平面。 3、對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測(cè)量殘余奧氏體，要求樣品不能簡(jiǎn)單粗磨，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。 4、粉末樣品要求磨成320目的粒度，約40微米。粒度粗大衍射強(qiáng)度低，峰形不好，分辨率低。要了解樣品的物理化學(xué)性質(zhì)，如是否易燃，易潮解，易腐蝕、有毒、易揮發(fā)。 5、粉末樣品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。“X射線...

X射線單晶體衍儀器基本公式： 由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點(diǎn)陣表示。而一個(gè)三維點(diǎn)陣可簡(jiǎn)單地用一個(gè)由八個(gè)相鄰點(diǎn)構(gòu)成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復(fù)得到。一個(gè)晶胞形狀由它的三個(gè)邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規(guī)定，這六個(gè)參數(shù)稱點(diǎn)陣參數(shù)或晶胞參數(shù)。這樣一個(gè)三維點(diǎn)陣也可以看成是許多相同的平面點(diǎn)陣平行等距排列而成的，這樣一族平面點(diǎn)陣稱為一個(gè)平面點(diǎn)陣族，常用符號(hào)HKL（HKL為整數(shù)）來(lái)表示。一個(gè)三維空間點(diǎn)陣劃分為平面點(diǎn)陣族的方式是很多的，其平面點(diǎn)陣的構(gòu)造和面間距d可以是不同的。晶體結(jié)構(gòu)的周期性就可以由這一組dHKL來(lái)表示。X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù)?；茨涎苌?..

x射線衍射在金屬學(xué)中的應(yīng)用 x射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果。如（a.westgren）(1922年)證明α、β和δ鐵都是立方結(jié)構(gòu)，β-fe并不是一種新相;而鐵中的α─→γ轉(zhuǎn)變實(shí)質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w，從而終否定了β-fe硬化理論。隨后,在用x射線測(cè)定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時(shí)，在相圖測(cè)定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果。XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。X射線衍射儀使用過(guò)程中應(yīng)隨時(shí)觀察循環(huán)冷卻水機(jī)組是否正常制冷，水溫是...

單晶射線衍射儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器， 額定功率:50kv 40mA。CCD探測(cè)器：62mm 4K CCD芯片，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發(fā)生器：功率3kW，Mo靶陶瓷X射線光管； 三軸（ω,2θ,φ）測(cè)角儀:φ360o旋轉(zhuǎn)≤0.02o步長(zhǎng)，角度重現(xiàn)性±0.0001o； Kryo-Flex低溫系統(tǒng)。 該儀器主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測(cè)定 ，包括孿晶的有機(jī)、無(wú)機(jī)化合物分子的準(zhǔn)確三維立體結(jié)構(gòu)，并通過(guò)先進(jìn)的結(jié)構(gòu)解析軟件給出包括鍵長(zhǎng)、鍵角、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度等分子參數(shù)及分子在晶格中的排列狀況。XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。衢州衍射儀哪個(gè)品牌好描...

X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線, 改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng), 調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。 （2）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)　樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。 （3）射線檢測(cè)器　檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。 （4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)　現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有特用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。特征X射線用于進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)研究的旋轉(zhuǎn)單體法和進(jìn)行物相鑒定的粉末法。舟山衍射儀...

x射線衍射圖譜： 橫坐標(biāo)：角度（度），是2θ 角，是衍射譜儀掃描的角度。 縱坐標(biāo)：是檢測(cè)到的計(jì)數(shù)，單位：CPS-每秒計(jì)數(shù)counts per sec. 另外，測(cè)試單上還會(huì)給出一系列數(shù)據(jù)，它們是： 一列數(shù)據(jù)，是2θ 角，要除以2才是用到公式中的θ 。 第二列數(shù)據(jù)，的d,單位是?， 第三列數(shù)據(jù)，BG，可能是背景縮寫(xiě)； 第四列數(shù)據(jù)，峰高，計(jì)數(shù)值； 第五列數(shù)據(jù)，相對(duì)峰高（%），是把強(qiáng)峰作為歸一標(biāo)準(zhǔn)的相對(duì)強(qiáng)度值； 第六列數(shù)據(jù)，峰面積； 第七列數(shù)據(jù)，相對(duì)峰面積（%）； 第八列數(shù)據(jù)，F(xiàn)WHM-Full width at half maximum （脈沖）峰半高寬；一般用于計(jì)算的峰強(qiáng)度使用高度就可以了，這是把...

當(dāng)x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點(diǎn)陣晶格間距為d的晶面上時(shí),在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強(qiáng)的衍射線。布拉格方程簡(jiǎn)潔直觀地表達(dá)了衍射所必須滿足的條件。當(dāng) x射線波長(zhǎng)λ已知時(shí)(選用固定波長(zhǎng)的特征x射線)，采用細(xì)粉末或細(xì)粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測(cè)出θ后，利用布拉格方程即可確定點(diǎn)陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據(jù)衍射線的強(qiáng)度,還可進(jìn)一步確定晶胞內(nèi)原子的排布。這便是x射線結(jié)構(gòu)分析中的粉末法或德拜-謝樂(lè)(debye—scherrer)法的理論基礎(chǔ)。而在測(cè)定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動(dòng)（即θ不變）...

衍射又稱為繞射，光線照射到物體邊沿后通過(guò)散射繼續(xù)在空間發(fā)射的現(xiàn)象。如果采用單色平行光，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后，因位相不同，相互之間產(chǎn)生干涉作用，引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的條件，一是相干波（點(diǎn)光源發(fā)出的波），二是光柵。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向（角度）和強(qiáng)度。根據(jù)衍射花紋可以反過(guò)來(lái)推測(cè)光源和光珊的情況。 為了使光能產(chǎn)生明顯的偏向，必須使“光柵間隔”具有與光的波長(zhǎng)相同的數(shù)量級(jí)。用于可見(jiàn)光譜的光柵每毫米要刻有約500到500條線 。衍射儀的進(jìn)展主要在三個(gè)方面：1 X 射線發(fā)生器，2、 探測(cè)器，3、 衍射幾何與光路。蕪湖衍射儀一個(gè)小晶體衍射...

晶體X射線衍射： X射線在晶體中發(fā)生的衍射現(xiàn)象。晶體具有點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)，點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的周期（即晶胞邊長(zhǎng)，b，c）與X射線的波長(zhǎng)屬于同一數(shù)量級(jí)，X射線衍射現(xiàn)象是一種基于波疊加原理的干涉現(xiàn)象，干涉的結(jié)果隨不同而有所不同（Δ為波程差；λ為波長(zhǎng)）。為整數(shù)的方向，波的振幅得到大程度的加強(qiáng)，稱為衍射，對(duì)應(yīng)的方 向?yàn)檠苌浞较?，而為半整數(shù)的方向，波的振幅得到大程度的抵消。因此，X射線通過(guò)晶體之后，在某些方向（衍射方向）X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)，而另一些方向X射線強(qiáng)度卻減弱甚至消失 ，如果在晶體的背后放置一張感光底片，將會(huì)得到X射線的衍射圖形。產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快...

衍射（diffraction）又稱為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過(guò)散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象，一切波都會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。 如果采用單色平行光，則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后，因位相不同，相互之間產(chǎn)生干涉作用，引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，表示著衍射方向（角度）和強(qiáng)度。 x射線照射晶體，電子受迫振動(dòng)產(chǎn)生相干散射；同一原子內(nèi)各電子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶體內(nèi)各原子呈周期排列，因而各原子散射波問(wèn)也存在固定的位相關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用，在某些方向上發(fā)生相長(zhǎng)干涉，即形成了衍射波．由此可知，衍射的本質(zhì)是晶體中各原子相干散射波疊加...

X射線衍射儀技術(shù)（XRD） X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction，XRD)。通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普...

X射線衍射照相法的原理是什么？ 照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品，并用底片記錄衍射花樣。根據(jù)樣品與底片的相對(duì)位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍。 當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有 X射線衍射分析相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理。單晶射線衍射儀主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測(cè)定 ，包括孿晶的有機(jī)。金華衍射儀供應(yīng)商有哪些X射線衍射擴(kuò)展資料： 1、晶態(tài)物質(zhì)對(duì)X射線產(chǎn)生...

分析電子衍射與x射線衍射有何異同？ 多晶金屬材料經(jīng)機(jī)械加工、熱處理等工藝，往往使晶粒的某些晶向或晶面與材料加工方向趨于一致。這種晶體取向稱為擇優(yōu)取向或織構(gòu)，它引起X射線衍射花樣發(fā)生 變化，使得連續(xù)均勻的衍射環(huán)成不連續(xù)、強(qiáng)度加強(qiáng)的斑點(diǎn)或弧段，而另一些晶面的衍射線強(qiáng)度變小甚至消失。測(cè)定織構(gòu)的方法有多種中，但X射線方法具有準(zhǔn)確、全 面等特點(diǎn)，所以成為研究織構(gòu)主要的方法。 在X射線衍射法中，一般用“極圖”來(lái)表達(dá)織構(gòu)。連續(xù)X射線光譜主要用于判斷晶體的對(duì)稱性和進(jìn)行晶體定向的勞埃法。安慶衍射儀多少錢X射線衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶解決的問(wèn)題： （1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用X...

衍射儀，即X射線衍射儀；特征X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng)，稱為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056 nm。 x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國(guó)物理學(xué)家...

X射線衍射的方法有很多。 按使用的樣品可分為：?jiǎn)尉Хê投嗑Х勰┓ǎ?按記錄檢測(cè)方法可分有：照相法和衍射譜儀（計(jì)算器）法。 基本的X射線衍射方法有三種：平板照相法、旋晶法和多晶粉末法。 1、平板照相法（平面底片法） 2、園筒底片法（又叫回轉(zhuǎn)照相法或旋晶法） （1）、回轉(zhuǎn)照相法 （2）、魏森堡（Weissenberg）照相法 （3）、多晶粉末德拜-謝樂(lè)照相法 （4）、多晶粉末衍射儀法 （5）、其它X射線衍射儀 a、計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制的四圓單晶衍射儀 b、轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀 c、面探測(cè)器X射線衍射儀 d、同步輻射衍射分析。探測(cè)器是用來(lái)記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設(shè)備中不可或缺的重要部件之一。寧波衍射儀品...

XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)。引起原子中的電子和原子核振動(dòng),因原子核的質(zhì)量很大振動(dòng)忽略不計(jì)。振動(dòng)著的電子是次生X射線的波源,其波長(zhǎng)、周相與入射光相同?；诰w結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強(qiáng)的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。X射線對(duì)于晶體的衍射強(qiáng)度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對(duì)物質(zhì)進(jìn)行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、X射線強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)四大部分組成。X射線單晶體...

衍射出現(xiàn)在滿足布拉格條件的角度上，這可以理解。但是，X射線衍射是因?yàn)閄射線與原子發(fā)生彈性碰撞，原子向四面八方散射頻率相同的X射線，書(shū)上講的衍射方向都是與入射方向夾角為2西塔，難道就不可能在其他方向上（即入射角和反射角不相等）恰好滿足布拉格條件嗎？ 恰好滿足布拉格條件的就是2θ方向。在其他方向（即入射角和反射角不相等）上的也有，但都被許許多多散射光之間相互抵消、成為光強(qiáng)很弱甚至為0的圖案、成為觀測(cè)區(qū)域內(nèi)的背景。X射線衍射儀應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。寧波衍射儀工藝X射線衍射分析的粉末樣品時(shí)的要求是什么? 粉末樣品的制備 雖然很多固體樣品本身已處于微晶狀態(tài)，但通常卻是較粗糙的粉末顆粒或...