掃描隧道顯微鏡 掃描隧道顯微鏡亦稱為“掃描穿隧式顯微鏡”、“隧道掃描顯微鏡”,是一種利用量子理論中的隧道效應探測物質表面結構的儀器。它于1981年由格爾德·賓寧(G.Binning)及海因里希·羅雷爾(H.Rohrer)在IBM位于瑞士蘇黎世的蘇黎世實驗室發明,兩位發明者因此與恩斯特·魯斯卡分享了1986年諾貝爾物理學獎。 它作為一種掃描探針顯微術工具,掃描隧道顯微鏡可以讓科學家觀察和定位單個原子,它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的分辨率。此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針前列精確操縱原子,因此它在納米科技既是重要的測量工具又是加工工具。 STM使人類***次能夠實時地觀察單個...
顯微鏡分類:顯微鏡以顯微原理進行分類可分為偏光顯微鏡、光學顯微鏡與電子顯微鏡和數碼顯微鏡。 偏光顯微鏡 偏光顯微鏡(Polarizing microscope)是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡,在地質學等理工科專業中有重要應用。凡具有雙折射的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可用,而必須利用偏光顯微鏡。反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的必備儀器, 可供廣大用戶做單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察。蘇州顯微鏡制造廠家光學顯微鏡是由目鏡,物鏡,粗準焦螺旋,細準焦螺旋,壓片夾,通光孔,遮光器,轉換器,反光...