HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速壽命試驗)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品可靠性的測試手段，HALT/HASS 是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法。它將原需花費6 個月甚至1 年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT/HASS 的試驗方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。在美國之外，許多國際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。 HALT 是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力、進而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計上的缺限，以及潛在弱點的實驗方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動，高低溫，溫度循環(huán)，電力開關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。可靠性測試具體怎么選擇呢？硬件可靠性測試標準

上海天梯檢測技術(shù)有限公司機械環(huán)境包含：振動試驗（隨機振動,正掃頻振動,定頻振動）,模擬汽輸車運試驗,碰撞試驗,機械沖擊試驗（半正弦波,方波,后峰鋸齒波）,跌落試驗(1m和1.5m),G值跌落,滾筒跌落試驗（0.5m和1m),斜面沖擊試驗,堆碼壓力試驗,水平擠壓試驗,溫濕度 振動三綜合試驗,高加速壽命試驗（HALT）,高加速應(yīng)力篩選（HASS,HASA）,插拔壽命試驗（插拔力,拔出力）,鋼球沖擊試驗,按鍵壽命試驗,點劃壽命試驗,軟壓試驗,搖擺試驗,鉛筆硬度測試,耐磨擦測試,附著力測試,百格測試等；硬件可靠性測試實驗室可靠性是電子設(shè)備的重要質(zhì)量特性之一。

可靠性測試是什么 為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗。對于不同的產(chǎn)品,為了達到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗方法。可靠性測試：也稱產(chǎn)品的可靠性評估，產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計、應(yīng)用過程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗設(shè)備對其進行驗證，這個驗證基本分為研發(fā)試驗、試產(chǎn)試驗、量產(chǎn)抽檢三個部分。可靠性試驗包括：老化試驗、溫濕度試驗、氣體腐蝕試驗、機械振動試驗、機械沖擊試驗、碰撞試驗和跌落試驗、防塵防水試驗以及包裝壓力試驗等多項環(huán)境可靠性試驗 材料可靠性測試的**價值是在產(chǎn)品設(shè)計時發(fā)現(xiàn)潛在缺點、在生產(chǎn)階段驗證產(chǎn)品質(zhì)量、減少客戶退貨的可能性、提高產(chǎn)品質(zhì)量、提升品牌價值，同時維護品牌聲譽。

上海天梯檢測——輸入電壓跌落及輸出動態(tài)負載 一次模塊在實際使用過程中，當(dāng)輸入電壓跌落時，電源模塊突加負載的極限情況是可能發(fā)生的，此時功率器件、磁性元件工作在較大瞬態(tài)電流狀態(tài)，試驗可以檢驗控制時序、限流保護等電路及軟件設(shè)計的合理性。 A、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點＋5V（持續(xù)時間為5s）、過壓點-5V（持續(xù)時間為5s）之間跳變，輸出調(diào)整在較大負載（較大額定容量，持續(xù)時間為500ms）、空載（持續(xù)時間為500ms）之間跳變，運行1小時； B、將輸入電壓調(diào)整為欠壓點＋5V（持續(xù)時間為5s）、過壓點-5V（持續(xù)時間為5s）之間跳變，輸出調(diào)整在較大負載（較大額定容量，持續(xù)時間為1s）、空載（持續(xù)時間為500ms）之間跳變，運行1小時。可靠性測試與質(zhì)量檢測有何區(qū)別?

高壓空載，低壓限流態(tài)運行試驗 測試說明： 高壓空載運行是測試模塊的損耗情況，尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊，在空載情況下，軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān)，模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運行是測試模塊在較大輸入電流時，模塊的損耗情況，通常狀態(tài)下，模塊在低壓輸入、滿載輸出時，效率較低，此時模塊的發(fā)熱較為嚴重。 試驗是模仿電子產(chǎn)品工作狀態(tài)進行的，即焊點由于自身的電阻，當(dāng)有電流通過時會發(fā)熱，而不工作時焊點恢復(fù)到室溫，從高溫到室溫意味著焊點經(jīng)受高低溫的變化，在汽車電子中有些部位電子產(chǎn)品中焊點升溫會達剄800C以上。如果再加上環(huán)境溫度交替變化那么焊點升溫還會更高。故該試驗方法實用性強，但試驗周期長費用高，試驗前應(yīng)做好充分準備。環(huán)境可靠性測試包含了哪些呢？上海環(huán)境可靠性測試報告

可靠性測試有作用嗎？硬件可靠性測試標準

可靠性檢測測試項目主要包括： 1.氣候環(huán)境試驗：高低溫試驗、高低溫交變、快速溫度變化、低氣壓、IP防護等級試驗； 2.鹽霧試驗：中性鹽霧、酸性鹽霧、銅加速鹽霧、循環(huán)鹽霧。 3.機械類試驗：振動試驗（隨機振動、掃頻振動）、機械沖擊試驗、跌落試驗。 4.力學(xué)性能試驗：拉伸性能、彎曲性能、壓縮性能、擺錘沖擊。 5.熱性能試驗：熱變形溫度、維卡軟化點，熔融。 6.電學(xué)性能：介電強度、絕緣電阻、接觸電阻、接地電阻、電壓降。 7.材料類試驗：氙燈老化試驗、熒光紫外燈老化試驗、材料邵氏硬度、鉛筆硬度、耐化學(xué)介質(zhì)、色差、光澤度、膠帶初粘力、膠帶持粘力。 可靠性試驗設(shè)備： 恒溫恒濕測試箱 鹽霧試驗設(shè)備 跌落試驗設(shè)備 老化測試設(shè)備 低溫試驗設(shè)備 機械沖擊設(shè)備硬件可靠性測試標準

上海天梯檢測技術(shù)有限公司成立于2013年，總部設(shè)在上海交大金橋國家科技園，是中國合格評定國家認可委員會(CNAS)認可實驗室(No. CNAS L7352)，計量認證(CMA)認可實驗室(170921341417)，上海交大金橋科技園檢測公共服務(wù)平臺，上海市研發(fā)公共服務(wù)平臺服務(wù)企業(yè)，上海市浦東新區(qū)科技服務(wù)機構(gòu)發(fā)展促進會會員單位，上海市****。我們有前列的測試設(shè)備，專業(yè)的工程師及**團隊。公司成立以來著重于產(chǎn)品的環(huán)境可靠性實驗，材料性能實驗，在汽車，造船，醫(yī)療，運輸?shù)刃袠I(yè)為企業(yè)提供了專業(yè)的測試技術(shù)服務(wù)，堅持‘準確，及時，真實，有效，提升’的質(zhì)量方針，憑過硬的檢測技術(shù)和工作質(zhì)量，向廣大客戶提供準確，高效的檢測服務(wù)，我們的檢測報告具有國際公信力，得到了23個經(jīng)濟體的37個國家和地區(qū)的客戶認可。