AOI檢測技術應運而生的背景是電子元件集成度與精細化程度高，檢測速度與效率更高，檢測零缺陷的發展需求。AOI檢測的比較大的優點是節省人力，降低成本，提高生產效率，統一檢測標準和排除人為因素干擾，保證了檢測結果的穩定性，可重復性和準確性，及時發現產品的不良，確保出貨質量。在人工智能技術與大數據發展進步中，AOI檢測不僅是一部檢測設備，對大量不良結果進行分類和統計，可以發現不良發生的原因，在工藝改善和生產良率提升中也正逐步發揮著更重要的作用，因此，可以預期未來AOI檢測技術將在半導體與電子電路檢測中將會發揮越來越重要的作用。隨著電子技術、圖像傳感技術和計算機技術的快速發展，AOI技術成為表面缺陷檢測的重要手段。江西爐前AOI供應

    光源:八側面多角度高亮條形光源相機：標配2000萬CCD全彩工業面陣相機（可選配1200萬/2500萬/2900萬）FOV：400*300mm可檢PCBA尺寸：寬度400mm，長度不限；可選配寬度750mm，長度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA獨立顯卡顯存：8G/6G內存/硬盤存儲：16GDDR4/2T操作系統：：22寸/，率先對AOI進行變革。采用深度學習算法，解決AOI編程復雜、誤報多的行業痛點，為客戶提供智能的插件檢測方案。公司團隊深耕計算機視覺領域、圖形、圖像領域16余年，擁有20年行業背景。合作客戶覆蓋工控、電源、電力、家電、汽車電子、醫療電子、消費電子等多個行業。在長期的經營活動中以高效的服務贏得廣大客戶的信賴及推介.。 江西插件AOI檢測設備AOI是全自動化，可以持續不斷地對同一件事物進行觀察而不會感到疲勞，這對于效率的提升而言是十分重要的。

AOI（AutomatedOpticalInspection）的中文全稱是自動光學檢測，是基于光學原理來對焊接生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備。AOI是新興的一種新型測試技術，當自動檢測時，機器通過攝像頭自動掃描PCB，采集圖像，測試的焊點與數據庫中的合格的參數進行比較，經過圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標志出來，供維修人員修整。-AOIsystem自動化光學檢測系統，以機械視覺檢測技術為基礎，利用攝影機或其他類型的光電感測器取代人眼獲取待測物體的圖像或者信息進行產品的檢查，利用電腦編程演算法取代人腦進行影像處理、分析以及質量檢定，利用機械取代人力進行產品搬運，大幅提高檢測的速度與精確度。AOI具有全自動化、可靠度高、穩定度高、可量化以及可整合等優點，但是需要明確的是，與任何大規模量產的生產方式相同，任何微小的錯誤都會被巨大的數量基數放大很多倍，因此通常都是高度成熟、高度自動化的制造業才會引入AOI量測技術。?

本系統采用的卷積神經網絡（Convolutional Neural Networks, CNN）是一類包含卷積計算且具有深度結構的前饋神經網（Feedforward Neural Networks），是深度學習（deep learning）的表示算法之一。卷積神經網絡仿造生物的視知覺（visual perception）機制構建，可以進行監督學習和非監督學習。作為圖像識別領域的算法之一，卷積神經網絡在學習數據充足時有穩定的表現。針對本系統所處理的大規模圖像分類問題，卷積神經網絡將用于提取圖像的判別特征，再通過分類器進行學習和識別傳統的同類檢測設備對于一些微小結構檢測和細微的損傷檢測難以做到面面俱到。

    AOI檢測原理:通過攝像技術將被檢測物體的反射光強，以定量化的灰階值輸出，通過與標準圖像的灰階值進行比較，分析判定缺陷并進行分類的過程。AOI采用的光學傳感器和光學透鏡相當于人眼，AOI的圖像處理與分析系統就相當于人腦，即“看”與“判”兩個環節，在整個AOI檢測中，其工作邏輯可以簡單地分為：Step1：圖像采集階段（光學掃描和數據收集）；Step2：數據處理階段（數據分類與轉換）；Step3：圖像分析段（特征提取與模板比對）；Step4：缺陷報告階段四個階段（缺陷大小類型分類等）。在整個AOI系統運作中，所有的判定基礎都是基于攝影得到的圖像，因為攝影得到的圖像被用于與系統中的模板做對比，所以獲取圖像信息的精確性對于檢測結果非常重要！若圖像采集器看不清楚或看不到被檢測物體的特征點，那么也就無法談到準確的檢出。 在線AOI光學檢測能夠針對廠家的多個參數進行檢測，基本上產品的所有需要檢測的部位，并且檢測出更加準確。安徽智能AOI升級換代

AOI檢測儀優點是圖像的還原性較好，打光角度容易調易得到較清晰的圖像，相比線陣相機誤判率較低。江西爐前AOI供應

照明光源按照波長分類可以分為可見波長光源，特殊波長光源?？梢姴ㄩL光源也就是一般現代工業AOI檢測設備中較常用的紅綠藍LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源，一些特殊材料在可見光范圍內吸收差別不大，灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源，比如說利用紫外光能量高可以激發熒光材料的原理，檢測具有熒光發光特性物質微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對應關系的原理，紅外光源對不具有發光性質的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實現成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態的變化，利用光學干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷檢測中的得到了應用，例如通過相干光的干涉圖案計算出對應的相位差和光程差，可以測量出被測物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達到亞波長。江西爐前AOI供應

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