隨著計算機的快速發展，AOI也采用了目前許多成熟的圖像分析技術，包括模板匹配法(或自動對比)、邊緣檢測法、特征提取法(二值圖)、灰度直方圖法、傅里葉分析法、光學特征識別法等，每個技術都有優勢和局限。模板比較法通過獲得物體圖像，如片狀電容或QFP，并用該信息產生一個剛性的基于像素的模板。在檢測位置的附近，傳感器找出相同的物體。當相關區域中所有點進行評估之后，找出模板與圖像之間有Z小差別的位置停止搜尋。AOI系統為每個要檢查的物體產生這種模板，通過在不同位置使用相應模板，建立對整個板的檢查程序，來查找所有要求的元件。但是由于元件檢測圖像很少完全匹配模板，所以用兩種方法來解決這個問題：可以用一定數量的容許誤差來確認匹配的，如果模板太僵硬，可能產生對元件的“誤報”;如果模板松散到接受大范圍的可能變量，也會導致“漏報”;可以根據同類的眾多良品進行標準模板的計算，或者叫“特征元件”，這樣可以Zda限度提取該類元件的共性特征，從而降低誤報率。 AOI系統集成技術會牽涉到關鍵器件、系統設計、整機集成、軟件開發等內容。江蘇插件AOI配件

從廣義上來說，MVI是一種模擬和拓展人類眼、腦、手的功能的一種技術，在不同的應用領域其定義可能有著細微的差別，但都離開不了兩個根本的方法與技術，即從圖像中獲取所需信息，然后反饋給自動化執行機構完成特定的任務。可以說基于任何圖像傳感方法（如可見光成像、紅外成像、X光成像、超聲成像等等）的自動化檢測技術都可以認為是MVI或AVI。當采用光學成像方法時，MVI實際上就變為AOI。因此AOI可以認為是MVI的一種特例。根據成像方法的不同，AOI又可分為三維（3D）AOI和二維（2D）AOI，三維AOI主要用于物體外形幾何參數的測量、零件分組、定位、識別、機器人引導等場合；二維AOI主要用于產品外觀（色彩、缺陷等）檢測、不同物體或外觀分類、良疵品檢測與分類等場合。 浙江3dAOI測試AOI軟件運算法則很多，有灰度相關法、邊緣識別法、固態建模法、統計外形建模法等。

AOI，全稱為自動光學檢測，是一種高效、精細的電子制造過程中的檢測技術。AOI技術可以通過高速攝像和圖像處理技術，對電子制造過程中的各種缺陷進行檢測，如焊接不良、元器件位置偏移、短路、開路等問題，從而提高產品質量和生產效率。AOI技術的優勢1.高效性AOI技術可以在短時間內完成對電子制造過程中的各種缺陷的檢測，提高了生產效率。相比傳統的人工檢測方式，AOI技術可以節省大量的時間和人力成本。2.精細性AOI技術可以通過高速攝像和圖像處理技術，對電子制造過程中的各種缺陷進行精細的檢測，可以檢測出人眼無法察覺的細微缺陷，從而提高產品的質量和可靠性。3.可靠性AOI技術可以對電子制造過程中的各種缺陷進行的檢測，可以有效地避免產品在生產過程中出現質量問題，從而提高產品的可靠性和穩定性。

AOI自動光學檢測設備有個比較大的缺點是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方，比較容易出現誤判的情況，這些或許可以使用不同顏色的燈光來加以判別，但較麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點，因為傳統的AOI只能檢測直射光線所能到達的地方，像是屏蔽框肋條或是其邊緣底下的元件，往往就會因為AOI檢測不到而漏掉。總之，AOI自動光學檢測設備雖然好用但確實也有些先天上的限制，不過可以用在即時的SMT初步品質分析，并馬上回饋SMT的品質狀況，讓SMT制程作業加以改善，的確可以有效提高SMT的產出良率。 在價格適中的AOI檢測儀系統中，被測物體的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設計。

AOI是一種檢測設備，又稱AOI光學自動檢測設備，已成為電子制造業保證產品質量的重要檢測工具和過程質量控制工具。AOI檢測設備工作原理是在自動檢測過程中，AOI檢測設備機器通過高清CCD攝像頭自動掃描PCBA產品，采集圖像，將測試點與數據庫中合格參數進行對比，經過圖像處理，檢查出目標PCBA上的焊點缺陷，并通過顯示或自動標記缺陷。為維修人員維修和SMT工藝人員改進工藝參數。AOI系統包括多種光源照明、高速數碼相機、高速直線電機、精密機械傳動結構和圖像處理軟件。測試時，AOI設備通過攝像頭自動掃描和PCB、PCB上的部件或特殊部件(包括印刷錫膏的狀態、SMD組件、焊點形狀及缺陷等)來捕捉圖像，通過處理和數據庫軟件對合格參數進行比較，并綜合判斷元件及特性是否合格，然后測試結論，如元件缺失、橋接或焊點質量問題。 傳統的同類檢測設備對于一些微小結構檢測和細微的損傷檢測難以做到面面俱到。上海新一代AOI檢測儀

圖像傳感器是AOI系統采集圖像的基礎，目前市面上大多數廠商選擇使用面陣相機。江蘇插件AOI配件

AOI檢測設備中常用的紅綠藍LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源，一些特殊材料在可見光范圍內吸收差別不大，灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源，比如說利用紫外光能量高可以激發熒光材料的原理，檢測具有熒光發光特性物質微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對應關系的原理，紅外光源對不具有發光性質的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實現成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態的變化，利用光學干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷檢測中的得到了應用，例如通過相干光的干涉圖案計算出對應的相位差和光程差，可以測量出被測物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達到亞波長，測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。（下圖為側光源與同軸光源實例）江蘇插件AOI配件

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