當光伏組件出現問題時，局部電阻升高，該區域溫度就會升高。EL測試儀就像我們體檢中的X光機一樣，可以對光伏組件進行體檢——通過紅外圖像拍攝，根據溫度不同，圖像呈現不同的顏色，從而非常容易的發現光伏組件的很多問題：隱裂、熱斑、PID效應等。光伏組件在運輸、搬運、安裝等過程中，容易被、撞擊，導致組件產生不易察覺的隱裂，極大影響組件輸出功率。用EL可以檢測出來。除了上述檢測外，對組件的外觀檢查也非常重要。如組件背板劃痕、變黃、鼓泡，連接器脫落等。上海歐普泰科技創業股份有限公司是一家專業提供檢測的公司，歡迎您的來電！天津人工智能檢測設備廠家

????全自動EL測試儀，即太陽能電池組件缺點檢測（EL）全自動測試儀，用于晶體硅的缺點檢測，可與客戶的產線配套，實現自動上下料，自動測試，可人工對缺點進行標記，保存在本地或遠端數據庫中，PC控制軟件可通過以太網接口實現與客戶系統對接，傳輸測試結果和報警信息，并可依據客戶需求定制功能。1、EL全自動測試儀結構設計合理，調整方便，可輕松實現與客戶產線接口。2D攝像機采用SONY感光芯片（140萬/600萬）或者柯達感光芯片（830萬），成像效果優良；并帶有制冷功能，制冷效果可達-20℃，可進一步提升圖像質量。攝像機分為140萬、600萬、830萬不同規格，并可配置雙相機。3、專業PC軟件，不可以實現測試流程的監控，還允許客戶直接標記缺點類型，隨同測試結果一同保存。具有本地數據庫可實現測試結果的查詢，同時具有同庫系統接口功能，可將測試結果及時上傳，也可上報設備工作情況。更多功能可由客戶的需求定制。4、自動條形碼掃描功能。天津人工智能檢測設備廠家上海歐普泰科技創業股份有限公司致力于提供檢測，歡迎新老客戶來電！

? ?上海歐普泰科技創業股份有限公司，光伏組件性能的檢測光伏電站運行一段時間后，需要進行檢測，來確定光伏電站的性能。涉及光伏組件的，主要包含以下項目。功率衰減測試光伏組件運行1年和25年后的衰減率到底有多少？25年太久，現在可能還沒有運行這么長時間的電站。按國家標準，晶硅電池2年的衰減率應該在。但目前這個數據還真的很難說，原因有三：光伏組件出場功率是用實驗室標準光源和測試環境標定的，但似乎國內不同廠家的標準光源是存在一定的差異的。那在A廠標定的250W的組件，到了B廠，可能就是245W的組件的。現場檢測所用的儀器精確度較差，據說5%以內的誤差都是可以接受的。用誤差5%的儀器，測2%（1年）的衰減，難度有些大，結果也令人懷疑。

組件測試儀（Componenttester），當閃光照到被測電池上時，用電子負載控制太陽電池中電流變化，測出電池的伏安特性曲線上的電壓和電流，溫度，光的輻射強度，測試數據送入微機進行處理并顯示、打印出來，能夠準確檢測出光伏太陽能板內部質量問題。1.可測量參數：I-V曲線，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點電壓、電流，定電壓點電流，填充因子，轉換效率，串聯電阻，并聯電阻，太陽電池溫度,光強度。2.太陽電池組件采用四線連接，確保了太陽電池電流測量的準確性。3.太陽能電池組件測試儀是太陽電池生產的終測試設備，有上打光、下打光或側打光三種光學結構，其中上打光、下打光設備有利于流水線生產，同時該測試儀可以兼作層壓前測試之用，可以提高一次封裝成品率。4.同時測量溫度和光強，確保太陽電池溫度和光強自動修正的準確性。5.用于測試太陽能電池板組件。6.測試快捷，單次測試耗時小于1秒，測試間隔小于5秒。7.組件測試儀分為EL檢測儀與iv檢測儀。檢測，就選上海歐普泰科技創業股份有限公司，有需求可以來電咨詢！

黑斑片黑斑片一般是由于硅料受到其他雜質污染所致。通常少數載流子的壽命和污染雜質含量及位錯密度有關。黑斑中心區域位錯密度>107個/cm2，黑斑邊緣區域位錯密度>106個/cm2均為標準要求的1000～10000倍這是相當大的位錯密度。缺點：短路黑片缺點：非短路黑片電池片黑片有兩種，全黑的我們稱之為短路黑片，通常是由于焊接造成的短路或者混入了低效電池片造成的。而邊緣發亮的黑片我們稱之為非短路黑片，這種電池片大多產生于單面擴散工藝或是濕法刻蝕工藝，單面擴散放反導致在背面鍍膜印刷，造成是PN結反，也就是我們通常所說的N型片，這種電池片會造成IV測試曲線呈現臺階，整個組件功率和填充因子都會受到較大影響。上海歐普泰科技創業股份有限公司致力于提供檢測，有想法的不要錯過哦！江蘇電池串檢測設備廠家

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隱裂形成的緣由和光伏組件檢測方法電池片中出現細小裂紋就是隱裂，隱裂了的電池片會加快電池片功率減退，組件的正常使用壽命被影響了，而且在機械載荷下電池片的隱裂會擴大，有導致開路性破壞的可能，隱裂還有幾率會造成熱斑效應。因為多方面原因共同作用下造成了隱裂的產生，組件受力不均，還有可能造成電池片的隱裂是在運輸、倒運的過程中劇烈的抖動。使用EL檢測儀進行EL成像檢測是會在光伏組件在出廠前進行的。為了獲取并判定組件的缺陷，該儀器利用晶體硅的電致發光原理，利用高分辨率的CCD相機拍攝組件的近紅外圖像。天津人工智能檢測設備廠家

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